【技术实现步骤摘要】
本申请涉及等值盐密检测，具体涉及一种获取等值盐密的方法及系统，电子设备以及可读存储介质。
技术介绍
1、等值盐密全称为“等值附盐密度”，是衡量电力设备绝缘子表面污秽状况的一项重要指标。通过测量绝缘子表面等值盐密可以评估“污闪事故”发生的概率。但是传统测量等值盐密的方法操作复杂、处理时间长，且容易受操作者技能水平、仪器精度、环境条件等因素影响。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种获取等值盐密的方法及系统，电子设备以及可读存储介质，有助于降低获取等值盐密的操作复杂度，提高获取等值盐密的效率。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种获取等值盐密的方法，该方法包括：获取待测绝缘子表面污物的电导率，所述待测绝缘子表面污物的电导率基于电磁感应技术确定；根据绝缘子表面污物的电导率与等值盐密之间的映射关系，确定所述待测绝缘子表面污物的等值盐密。
3、作为一种可能的实现方式，所述待测绝缘子表面污物的电导率根据所述待测绝缘子表面污物产生的次级磁场确定，所述次级磁场由所述待测绝缘子表面污物所处的初级磁场诱发。
4、作为一种可能的实现方式，所述电导率与所述等值盐密之间的映射关系通过第一模型表征，所述第一模型基于随机森林算法获取。
5、作为一种可能的实现方式，所述第一模型包括多个决策树，所述多个决策树的预测结果用于确定所述等值盐密的预测结果；其中，所述多个决策树根据从所述第一模型的子样本数据的特征中随机选取的特征构建，所述子样本数据为从所述第一模型的样本数
6、作为一种可能的实现方式，所述电导率测量数据包括通过水平模式和/或垂直模式获取的同一点位的多组电导率测量数据。
7、作为一种可能的实现方式，在获取所述待测绝缘子表面污物的电导率之前，所述待测绝缘子表面污物处于溶解状态，所述溶解状态通过向所述待测绝缘子表面污物喷洒水实现，其中，喷水量为50毫升/平方米。
8、第二方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该设备包括：
9、获取模块，用于获取待测绝缘子表面污物的电导率，所述待测绝缘子表面污物的电导率基于电磁感应技术确定；
10、确定模块，用于根据所述绝缘子表面污物的电导率与等值盐密之间的映射关系，确定所述待测绝缘子表面污物的所述等值盐密。
11、第三方面，本申请实施例提供了一种获取等值盐密的系统，该系统包括：如第二方面所述的电子设备；以及电导率检测设备，用于基于电磁感应技术，获取待测绝缘子表面污物的电导率。
12、第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器、至少一个处理器以及存储在存储器中并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上述第一方面中任一项所述的方法。
13、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面中任一项所述的方法。
14、第六方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在电子设备上运行时，使得电子设备执行上述第一方面中任一项所述的方法。
15、在本申请实施例中，通过基于电磁感应技术获取绝缘子表面污物的电导率，无需对绝缘子表面污物进行取样、溶解等多项操作，有助于简化测量绝缘子表面污物电导率的操作复杂度，以及有助于避免操作者技能水平对测量结果的影响。另外，基于上述电导率与等值盐密的映射关系，确定绝缘子表面污物的等值盐密，有助于提高等值盐密的获取精度。
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1.一种获取等值盐密的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测绝缘子表面污物的电导率根据所述待测绝缘子表面污物产生的次级磁场确定，所述次级磁场由所述待测绝缘子表面污物所处的初级磁场诱发。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电导率与所述等值盐密之间的映射关系通过第一模型表征，所述第一模型基于随机森林算法获取。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一模型包括多个决策树，所述多个决策树的预测结果用于确定所述等值盐密的预测结果；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述电导率测量数据包括通过水平模式和/或垂直模式获取的同一点位的多组电导率测量数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取所述待测绝缘子表面污物的电导率之前，所述待测绝缘子表面污物处于溶解状态，所述溶解状态通过向所述待测绝缘子表面污物喷洒水实现，其中，喷水量为50毫升/平方米。
7.一种电子设备，其特征在于，包括：
8.一种获取等值盐密的系统，其特征在于，包括：>
9.一种电子设备，包括存储器、至少一个处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种获取等值盐密的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测绝缘子表面污物的电导率根据所述待测绝缘子表面污物产生的次级磁场确定，所述次级磁场由所述待测绝缘子表面污物所处的初级磁场诱发。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电导率与所述等值盐密之间的映射关系通过第一模型表征，所述第一模型基于随机森林算法获取。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一模型包括多个决策树，所述多个决策树的预测结果用于确定所述等值盐密的预测结果；
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述电导率测量数据包括通过水平模式和/或垂直模式获取的同一点位的多组电导率测量数据。
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【专利技术属性】
技术研发人员：梅红伟，黄洋，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：
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