【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测厚装置，更具体地说，尤其是涉及到一种多功能薄膜测厚装置。
技术介绍
1、多功能薄膜主要为透明的状态，测厚装置主要运用于光伏半导体材料、高分子材料等多功能薄膜的厚度测量，通过光干涉原理，不同的厚度产生的光反射会不同，进而通过射线对薄膜照射，从而快速准确的获取薄膜的厚度数据。
2、但是在测量固态硬物的光学薄膜材料时，由于采用的是光干涉原理，需要光源进行辅助测量，在测量期间走动的人员阴影容易照在检测盘上，进而容易影响光线的亮度，容易造成测量波动较大而不准确的问题，且测厚采用的是线扫描，为扫描到全部的样品位置，需要对样品进行旋转，样品在旋转惯性力下容易脱离中心而松动，同时容易造成薄膜样品移动而不在水平线上，进而旋转一圈后的样品位置出现位移，容易使扫描的点出现重复扫描，影响测量的准确性。
技术实现思路
1、本专利技术实现技术目的所采用的技术方案是：一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座、测量机构、显示屏，所述测量机构安装于基座上端，所述显示屏嵌固在基座侧面，所述测量机构设有处理器、闭合机构、照明灯、机壳、测量器，所述测量器安装于处理器下端，所述照明灯与处理器线路连接，所述处理器卡合在机壳内部，所述闭合机构位于测量器正下方，所述闭合机构嵌固在基座内部，所述机壳安装于基座上端，所述照明灯为倾斜60度状态，且照明灯正对闭合机构的中间位置，伸缩机壳与闭合机构相对的垂直位置设有磁铁，具有吸附金属的特性。
2、作为本专利技术的进一步改进，所述闭合机构设有平面板、卡
3、作为本专利技术的进一步改进，所述卡合结构设有第一弹簧、挤压块、平移块、固定杆，所述第一弹簧位于固定杆外侧，所述固定杆贯穿于平移块内部，所述挤压块嵌固在平移块上端，所述固定杆安装于平面板上端内部，所述挤压块设有四个，正方形分布在平面板位置，且正方形状态的中心轴与平面板的中心轴位置相同。
4、作为本专利技术的进一步改进，所述第一弹簧设有梯形板、橡胶板、倾斜板、第二弹簧，所述橡胶板贴合在倾斜板外侧，所述倾斜板与梯形板侧面合页配合，所述第二弹簧嵌固在梯形板内部，所述第二弹簧安装于倾斜板侧面，所述倾斜板倾斜垂直线20度，所述第二弹簧为压缩状态。
5、作为本专利技术的进一步改进，所述密封结构设有压缩板、连接杆、曲折板、轨道板，所述连接杆在轨道板内滑动配合，所述连接杆安装于曲折板侧面，所述压缩板贴合在轨道板外侧，所述压缩板与曲折板侧面间隙配合，所述轨道板安装于伸缩杆侧面，所述曲折板上端嵌固在金属块下端，所述曲折板下端安装于基座内部，所述伸缩杆在伸缩延长时具有带动轨道板伸缩延长的效果，所述压缩板为海绵材质，具有容易形变压缩的特性。
6、作为本专利技术的进一步改进，所述曲折板设有密封板、吸附板、限位杆，所述吸附板贴合在密封板内部，所述限位杆安装于密封板上下两端，所述连接杆安装于密封板侧面，所述压缩板与密封板侧面间隙配合，所述限位杆上端嵌固在金属块下端，所述限位杆下端安装于基座内部，所述吸附板为硅藻土材质，具有能自然吸附空气中尘埃的特性，所述限位杆的最大旋转角度为60度。
7、有益效果
8、1.本专利技术中薄膜样品放置到闭合机构中的平面板表面上后，通过卡合结构进行固定，进而手动向上拉动金属块，使金属块吸附在机壳上的磁铁中，使伸缩杆带动密封结构伸缩，进而在平面板外侧形成三面阻挡光线的板，从而电机带动第一螺纹杆转动，使第二螺纹杆带动平面板旋转，进而以在对薄膜样品进行全方位测量，同时在卡合结构的固定下防止旋转测量时出现惯性移动。
9、2.本专利技术中薄膜样品放置在平面板中时，薄膜的边缘与挤压块接触，并且薄膜样品侧面在倾斜板外侧的橡胶板接触，从而倾斜板对薄膜样品边缘产生旋转挤压力，使薄膜样品边缘受到上方的侧向挤压，从而四个挤压块使薄膜样品固定在平面板的中心轴位置保持水平状态，避免旋转时产生移动而造成重复测量，防止薄膜样品在旋转下偏离水平状态，避免光干涉测量出现不准确。
10、3.本专利技术中曲折板上端跟随金属块进行移动后，在轨道板的限位下，密封板通过限位杆的旋转在轨道板的限位下进行曲折活动，并且在密封板相互配合下形成三面的闭合的状态对测量位置进行闭合，且通过吸附板吸收空气中的尘埃，防止尘埃掉落到薄膜样品上影响光干涉测量，并且在压缩板的形变下上方的空间形成密封状态，使曲折板之间形成三面的板对测量位置进行闭合，避免外界光线进入平面板位置影响光干涉测量。
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1.一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座（1）、测量机构（2）、显示屏（3），其特征在于：所述测量机构（2）安装于基座（1）上端，所述显示屏（3）嵌固在基座（1）侧面。
2.根据权利要求1所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述测量机构（2）设有处理器（21）、闭合机构（22）、照明灯（23）、机壳（24）、测量器（25），所述测量器（25）安装于处理器（21）下端，所述照明灯（23）与处理器（21）线路连接，所述处理器（21）卡合在机壳（24）内部，所述闭合机构（22）位于测量器（25）正下方，所述闭合机构（22）嵌固在基座（1）内部，所述机壳（24）安装于基座（1）上端。
3.根据权利要求2所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述闭合机构（22）设有平面板（w1）、卡合结构（w2）、密封结构（w3）、第一螺纹杆（w4）、金属块（w5）、第二螺纹杆（w6）、伸缩杆（w7）、支撑板（w8），所述伸缩杆（w7）嵌固在金属块（w5）下端，所述密封结构（w3）安装于伸缩杆（w7）侧面，所述密封结构（w3）上端嵌固在金属块（w5）下端，所述平面板（w
4.根据权利要求3所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述卡合结构（w2）设有第一弹簧（w21）、挤压块（w22）、平移块（w23）、固定杆（w24），所述第一弹簧（w21）位于固定杆（w24）外侧，所述固定杆（w24）贯穿于平移块（w23）内部，所述挤压块（w22）嵌固在平移块（w23）上端，所述固定杆（w24）安装于平面板（w1）上端内部。
5.根据权利要求4所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述第一弹簧（w21）设有梯形板（e1）、橡胶板（e2）、倾斜板（e3）、第二弹簧（e4），所述橡胶板（e2）贴合在倾斜板（e3）外侧，所述倾斜板（e3）与梯形板（e1）侧面合页配合，所述第二弹簧（e4）嵌固在梯形板（e1）内部，所述第二弹簧（e4）安装于倾斜板（e3）侧面。
6.根据权利要求3所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述密封结构（w3）设有压缩板（t1）、连接杆（t2）、曲折板（t3）、轨道板（t4），所述连接杆（t2）在轨道板（t4）内滑动配合，所述连接杆（t2）安装于曲折板（t3）侧面，所述压缩板（t1）贴合在轨道板（t4）外侧，所述压缩板（t1）与曲折板（t3）侧面间隙配合，所述轨道板（t4）安装于伸缩杆（w7）侧面，所述曲折板（t3）上端嵌固在金属块（w5）下端，所述曲折板（t3）下端安装于基座（1）内部。
7.根据权利要求6所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述曲折板（t3）设有密封板（t31）、吸附板（t32）、限位杆（t33），所述吸附板（t32）贴合在密封板（t31）内部，所述限位杆（t33）安装于密封板（t31）上下两端，所述连接杆（t2）安装于密封板（t31）侧面，所述压缩板（t1）与密封板（t31）侧面间隙配合，所述限位杆（t33）上端嵌固在金属块（w5）下端，所述限位杆（t33）下端安装于基座（1）内部。
...【技术特征摘要】
1.一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座（1）、测量机构（2）、显示屏（3），其特征在于：所述测量机构（2）安装于基座（1）上端，所述显示屏（3）嵌固在基座（1）侧面。
2.根据权利要求1所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述测量机构（2）设有处理器（21）、闭合机构（22）、照明灯（23）、机壳（24）、测量器（25），所述测量器（25）安装于处理器（21）下端，所述照明灯（23）与处理器（21）线路连接，所述处理器（21）卡合在机壳（24）内部，所述闭合机构（22）位于测量器（25）正下方，所述闭合机构（22）嵌固在基座（1）内部，所述机壳（24）安装于基座（1）上端。
3.根据权利要求2所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述闭合机构（22）设有平面板（w1）、卡合结构（w2）、密封结构（w3）、第一螺纹杆（w4）、金属块（w5）、第二螺纹杆（w6）、伸缩杆（w7）、支撑板（w8），所述伸缩杆（w7）嵌固在金属块（w5）下端，所述密封结构（w3）安装于伸缩杆（w7）侧面，所述密封结构（w3）上端嵌固在金属块（w5）下端，所述平面板（w1）嵌固在第二螺纹杆（w6）上端，所述第二螺纹杆（w6）与第一螺纹杆（w4）螺纹配合，所述卡合结构（w2）安装于平面板（w1）上端内部，所述第二螺纹杆（w6）活动卡合在支撑板（w8）内部，所述支撑板（w8）安装于基座（1）上端，所述第一螺纹杆（w4）嵌固在基座（1）内部，所述密封结构（w3）与伸缩杆（w7）下端安装于基座（1）内部。
4.根据权利要求3所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述卡合结构（w2）设有第一弹簧（w21）、挤压块（w22）、平移块（w23）、固...
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