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射束硬化校正方法、装置、程序产品和扫描设备制造方法及图纸

技术编号:42397407 阅读:6 留言:0更新日期:2024-08-16 16:20
本公开涉及医学影像设备的技术领域,公开了一种射束硬化校正方法、装置、程序产品和扫描设备,方法包括:获得模体的测量投影值;基于测量投影值,获取模体的轮廓位置信息;基于模体的轮廓位置信息,获取模体的实际位置,模体的实际位置是模体相对于球管的焦点的位置;基于模体的实际位置和模体的已知衰减率,获取模体的理论投影值;根据测量投影值和理想投影值,获取射束硬化的校正参数。在获取校正参数的过程中,不需要使用光谱信息,避免了因接收光谱与理论光谱往往不一致导致的校正参数的准确性较差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及医学影像设备的,例如涉及一种射束硬化校正方法、装置、程序产品和扫描设备


技术介绍

1、对于配置有球管和探测器的扫描设备,例如计算机断层扫描设备(computedtomography,ct),球管产生的x射线穿过被扫描目标(例如患者),探测器接收穿过被扫描目标后剩余的x射线,生成被扫描目标的投影值。

2、扫描设备在使用之前需要进行校正,在相关技术中,通常可以使用理论光谱和等效滤过的方法来获得扫描设备的校正参数,或者通过扫描不同尺寸模体来获得扫描设备的校正参数。上述方法获取的校正参数是以探测器的接收光谱和理论光谱(球管厂家提供的)一致的假设为前提,但是在实际过程中,接收光谱受滤过器和探测器响应参数等因素的影响,接收光谱与理论光谱往往不一致,进而导致校正参数的准确性较差,这对光子计数ct的影响更为明显。

3、需要说明的是,在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。


技术实现思路

1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解,下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围,而是作为后面的详细说明的序言。

2、本公开实施例提供了一种射束硬化校正方法、装置、扫描设备,可以避免因接收光谱与理论光谱往往不一致导致的校正参数的准确性较差的问题。

3、根据本公开第一方面,提供了一种射束硬化校正方法,包括:

4、获得模体的测量投影值;

5、基于测量投影值,获取模体的轮廓位置信息;

6、基于模体的轮廓位置信息,获取模体的实际位置,模体的实际位置是模体相对于球管的焦点的位置;

7、基于模体的实际位置和模体的已知衰减率,获取模体的理论投影值;

8、根据测量投影值和理想投影值,获取射束硬化的校正参数。

9、在一些实施例中,基于测量投影值,获取模体的轮廓位置信息,包括:

10、获取判定阈值,判定阈值用于界定模体的模壁与空气的分界,

11、基于判定阈值和测量投影值,获取每个采样角度下模体的轮廓边缘对应的探测器通道位置,测量投影值包括多个采样角度下的投影值;

12、将多个采样角度下球管的焦点与探测器的通道的位置关系作为模体的轮廓位置信息。

13、在一些实施例中,基于模体的轮廓位置信息,获取模体的实际位置,包括:

14、构建射束与模体的等效模型,等效模型中模体的实际位置为待求解的量;

15、基于多个采样角度下球管的焦点与探测器的通道的位置关系,对等效模型进行求解,获取模体的实际位置。

16、在一些实施例中,基于测量投影值,获取模体的轮廓位置信息,包括:

17、基于测量投影值,获取模体的重建图像;

18、基于重建图像,获取模体的轮廓边缘对应的像素位置;

19、将模体的轮廓边缘对应的像素位置,作为模体的轮廓位置信息。

20、在一些实施例中,基于模体的轮廓位置信息,获取模体的实际位置,包括:

21、基于模体的轮廓边缘对应的像素位置,获取模体的图像坐标位置;

22、基于重建图像所在的坐标系和球管所在坐标系的转换关系,将模体的图像坐标位置转化为在球管所在坐标系下的模体的实际位置。

23、在一些实施例中,对于探测器的至少一个通道,基于模体的实际位置和模体的已知衰减率,获取模体的理论投影值,包括:

24、基于模体的实际位置,获取探测器的通道对应的模体厚度信息,其中,模体厚度信息包括模体内介质的厚度和模体的模壁的厚度;

25、基于模体厚度信息和模体的已知衰减率,获取模体的理论投影值,其中,模体的已知衰减率包括模体内介质的衰减率和模体的模壁的衰减率。

26、在一些实施例中,根据测量投影值和理想投影值,获取射束硬化的校正参数,包括:

27、基于测量投影值和理想投影值,以及探测器通道对应的模体厚度信息的总值,获取测量衰减率和理想衰减率;

28、通过对测量衰减率和理想衰减率进行拟合,获取射束硬化的校正参数。

29、在一些实施例中,模体为偏心设置,探测器的通道在不同采样角度下对应的模体厚度信息至少包括两种,测量衰减率和理想衰减率表示为不同模体厚度信息下的衰减率。

30、根据本公开第二方面,提供了一种射束硬化校正装置,射束硬化校正装置包括测量值获取模块、轮廓位置获取模块、实际位置获取模块、理论值获取模块和参数校正获取模块;

31、测量值获取模块,被配置为获得模体的测量投影值;

32、轮廓位置获取模块,被配置为基于测量投影值,获取模体的轮廓位置信息;

33、实际位置获取模块,被配置为基于模体的轮廓位置信息,获取模体的实际位置,模体的实际位置是模体相对于球管的焦点的位置;

34、理论值获取模块,被配置为基于模体的实际位置和模体的已知衰减率,获取模体的理论投影值;

35、参数校正获取模块,被配置为根据测量投影值和理想投影值,获取射束硬化的校正参数。

36、根据本公开第三方面,提供了一种计算机程序产品,包括有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行后,实现上述的射束硬化校正方法。

37、根据本公开第四方面,提供了一种扫描设备,扫描设备包括本公开第二方面提供的射束硬化校正装置或者第三方面提供的计算机程序产品。

38、本公开实施例提供的射束硬化校正方法、装置、扫描设备,可以实现以下技术效果:

39、通过模体的测量投影值计算得到模体的实际位置,之后基于模体的实际位置和模体的已知衰减率得到模体的理论投影值,最后由模体的测量投影值和理想投影值获取射束硬化的校正参数。在获取校正参数的过程中,不需要使用光谱信息,避免了因接收光谱与理论光谱往往不一致导致的校正参数的准确性较差的问题。

40、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的,不用于限制本公开。

本文档来自技高网
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【技术保护点】

1.一种射束硬化校正方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测量投影值,获取所述模体的轮廓位置信息,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述模体的轮廓位置信息,获取所述模体的实际位置,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测量投影值,获取所述模体的轮廓位置信息,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述模体的轮廓位置信息,获取所述模体的实际位置,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对于探测器的至少一个通道,所述基于所述模体的实际位置和所述模体的已知衰减率,获取所述模体的理论投影值,包括:

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述测量投影值和所述理想投影值,获取射束硬化的校正参数,包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述模体为偏心设置,所述探测器的通道在不同采样角度下对应的模体厚度信息至少包括两种,所述测量衰减率和所述理想衰减率表示为不同模体厚度信息下的衰减率。

9.一种射束硬化校正装置,其特征在于,包括:

10.一种计算机程序产品,包括有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行后,实现如权利要求1至8中任一项所述的射束硬化校正方法。

11.一种扫描设备,其特征在于,包括如权利要求9所述的射束硬化校正装置或如权利要求10所述的计算机程序产品。

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【技术特征摘要】

1.一种射束硬化校正方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测量投影值,获取所述模体的轮廓位置信息,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述模体的轮廓位置信息,获取所述模体的实际位置,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测量投影值,获取所述模体的轮廓位置信息,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述模体的轮廓位置信息,获取所述模体的实际位置,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对于探测器的至少一个通道,所述基于所述模体的实际位置和所述模体的已知衰减率,获取所述模体的理论投影值,包...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹起昂赵江魏李杰
申请(专利权)人:东软医疗系统股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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