【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试，具体为一种半导体测试用手测器。
技术介绍
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，在半导体实际生产加工过程中，一般会配合手测器，利用半导体测试探针对成品进行测试，进而保证半导体良品率。
2、经检索，专利号为cn114779148a，名称为一种适用于半导体测试的手测器的专利技术，包括基座，通过研究分析发现，虽然控制接触的距离，但是，在一定程度上还存在以下缺点。
3、如，该设备无法灵活调整实际检测距离，其测试距离固定，针对不同规格半导体适用性一般，且不具备弹性复位的功能，在探针式检测完成后，需人工手动再度将半导体进行拆卸，存在一定的限制性，为了解决以上的技术问题，为此我们设计出一种半导体测试用手测器。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种半导体测试用手测器，具备灵活适配和弹性复位的优点，解决了该设备无法灵活调整实际检测距离，针对不同规格半导体适用性一般，且不具备弹性复位的功能，在探针式检测完成后，需人工手动再度将半导体进行拆卸的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体测试用手测器，包括测试工作台，所述测试工作台顶部的中心处安装有承载模板，所述承载模板顶部的中心处开设有承载槽，所述测试工作台顶部的左右两侧均安装有载料收纳框，所述测试工作台顶部的后侧固定连接有l型连接板，所述l型连接板顶部的中心处贯穿安装有复位式测试组件。
3、优选的，所述复位式测试组件包括内螺纹螺套，所述内螺纹
4、优选的，所述防滑压板底部的中心处且位于位移调节套的内腔固定连接有传动杆，所述传动杆的底部固定连接有引导凸块，所述引导凸块的底部固定安装有测试探针。
5、优选的，所述l型连接板顶部的中心处开设有定位槽，所述内螺纹螺套的外圈通过阻尼轴承与定位槽的连接处活动连接。
6、优选的，所述测试工作台顶部的中心处开设有与承载模板配合使用的安装槽，所述安装槽的内壁和承载模板的顶部均开设有安装孔。
7、优选的，所述测试工作台顶部的左右两侧均开设有与载料收纳框配合使用的放置槽，所述l型连接板的表面贯穿滑动安装有位移板，所述位移板的正表面开设有刻度槽，所述l型连接板的顶部固定安装有指向块。
8、与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
9、1、本技术通过l型连接板、位移调节套和内螺纹螺套配合使用，具有距离可调的优点，能够驱动内螺纹螺套转动而灵活调整位移调节套所在高度，进而改变测试探针初始所在位置，良好适用于规格不一的半导体测试需求；
10、2、本技术通过复位弹簧、防滑压板、位移调节套、传动杆、引导凸块和测试探针配合使用，具有弹性复位的优点，能够利用防滑压板方便操作人员按压驱动测试探针下移对半导体进行测试，以在测试完成后，配合蓄能的复位弹簧驱动防滑压板自动复位，而无需操作者再度进行提升拆离操作，整体更佳迅速便捷。
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1.一种半导体测试用手测器，包括测试工作台(1)，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的中心处安装有承载模板(2)，所述承载模板(2)顶部的中心处开设有承载槽(9)，所述测试工作台(1)顶部的左右两侧均安装有载料收纳框(3)，所述测试工作台(1)顶部的后侧固定连接有L型连接板(4)，所述L型连接板(4)顶部的中心处贯穿安装有复位式测试组件(5)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述复位式测试组件(5)包括内螺纹螺套(504)，所述内螺纹螺套(504)贯穿安装在L型连接板(4)上，所述内螺纹螺套(504)的内腔螺纹连接有位移调节套(501)，所述位移调节套(501)的顶部固定连接有复位弹簧(502)，所述复位弹簧(502)的顶部固定连接有防滑压板(503)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述防滑压板(503)底部的中心处且位于位移调节套(501)的内腔固定连接有传动杆(505)，所述传动杆(505)的底部固定连接有引导凸块(506)，所述引导凸块(506)的底部固定安装有测试探针(507)。>
4.根据权利要求2所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述L型连接板(4)顶部的中心处开设有定位槽(8)，所述内螺纹螺套(504)的外圈通过阻尼轴承与定位槽(8)的连接处活动连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的中心处开设有与承载模板(2)配合使用的安装槽(6)，所述安装槽(6)的内壁和承载模板(2)的顶部均开设有安装孔(10)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的左右两侧均开设有与载料收纳框(3)配合使用的放置槽(7)，所述L型连接板(4)的表面贯穿滑动安装有位移板(13)，所述位移板(13)的正表面开设有刻度槽(12)，所述L型连接板(4)的顶部固定安装有指向块(11)。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体测试用手测器，包括测试工作台(1)，其特征在于：所述测试工作台(1)顶部的中心处安装有承载模板(2)，所述承载模板(2)顶部的中心处开设有承载槽(9)，所述测试工作台(1)顶部的左右两侧均安装有载料收纳框(3)，所述测试工作台(1)顶部的后侧固定连接有l型连接板(4)，所述l型连接板(4)顶部的中心处贯穿安装有复位式测试组件(5)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述复位式测试组件(5)包括内螺纹螺套(504)，所述内螺纹螺套(504)贯穿安装在l型连接板(4)上，所述内螺纹螺套(504)的内腔螺纹连接有位移调节套(501)，所述位移调节套(501)的顶部固定连接有复位弹簧(502)，所述复位弹簧(502)的顶部固定连接有防滑压板(503)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试用手测器，其特征在于：所述防滑压板(503)底部的中心处且位于位移调节套(501)的内腔固定连接有传动杆...
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