【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体检测装置，特别涉及一种半导体分立器生产用检测装置。
技术介绍
1、半导体分立器是电子电路中常见的一类元件，它们可以单独工作，并在电路中执行特定的功能。主要包括晶体管、二极管、场效应管等。晶体管作为一种主要的半导体分立器，常用于放大、开关和调节电信号。二极管则主要用于整流和保护电路，将交流信号转换为直流信号，并防止电路过载。场效应管在低频和高频电路中广泛应用，具有高输入电阻和低输出电阻的特点，常用于放大和开关应用。
2、传统的半导体分立器生产过程中，对于器件的检测和测试往往是一个至关重要且复杂的环节。在生产线上，需要高效准确地对大量的半导体器件进行电学参数测量、功能测试以及温度特性评估，以确保器件的质量和性能符合标准要求。然而，传统的检测装置存在测试效率低、适用范围有限且人工参与程度高等问题。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种半导体分立器生产用检测装置，可以有效解决现有检测装置需要人工进行放置、夹持，对检测精度存在影响且效率较低的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术采取的技术方案为：
3、一种半导体分立器生产用检测装置，包括机台，所述机台上端固定连接有物料传动带，所述物料传动带外表面曲线部分固定连接有若干半导体固定结构，所述机台上端中部固定连接有半导体检测结构，所述半导体检测结构右端固定安装有下料结构，所述物料传动带中心轴传动连接有间歇传动机构，所述间歇传动机构与半导体检测结构通过齿轮组和传动轴传动连接，所述
4、优选的，所述半导体检测结构包括与机台上端中部固定连接的屏蔽盒和机台上端前部固定连接的检测仪，所述屏蔽盒内腔顶部固定连接有支撑架，所述支撑架水平部分下端中部固定连接有检测探头，所述支撑架竖直部分下端固定连接有引导板，所述引导板下端左部前后对称固定连接有下料板，所述屏蔽盒内表面前后对称固定连接有通断检测组件，两侧所述通断检测组件和屏蔽盒内表面底壁共同设置有与间歇传动机构传动连接的检测驱动组件。
5、优选的，所述通断检测组件包括与屏蔽盒内壁左右对称固定连接的固定板二，所述固定板二左端开设有与右端连通的限位槽一，所述固定板二上下对称分布开设左右连通的引导槽一，同一水平高度是的两侧所述引导槽一内表面共同滑动连接有电极夹座，两个所述电极夹座靠近屏蔽盒内壁的一端共同左右对称通过限位座滑动连接有限位块，两侧所述限位块内表面共同滑动连接有与两侧限位槽一内表面滑动连接的限位杆，所述限位杆下端固定连接有与检测驱动组件滑动连接的l型杆，所述l型杆水平部分外表面固定连接有与检测驱动组件紧贴的复位弹簧二，所述l型杆前端和后端与相邻复位弹簧二紧贴。
6、优选的，所述检测驱动组件包括与机台固定连接的驱动电机，所述驱动电机输出端贯穿屏蔽盒下端延伸至屏蔽盒内腔并固定连接有转盘，所述转盘上端前后对称开设有引导槽二，所述转盘外表面设置有为间歇传动机构传递动力的齿轮组，所述屏蔽盒内腔底壁固定连接有限位板，所述限位板上端开设有与下端连通的限位槽二，所述转盘、限位槽二内表面均与l型杆滑动连接。
7、优选的，所述半导体固定结构包括与物料传动带外表面固定连接的固定板一，所述固定板一上端前部和上端后部均环形阵列设置有定位组件，所述固定板一上端前部和上端后部均左右对称开设有滑槽二，两个所述定位组件左右两侧与相邻滑槽二共同设置有夹持组件。
8、优选的，所述定位组件包括固定板一上端环形分布开设的四个滑槽四，四个所述滑槽四内表面均设置有定心部件，四个所述定心部件内弧面均转动连接有连接杆一，四个所述连接杆一远离定心部件的一端共同转动连接有与固定板一上端转动连接的中心柱。
9、优选的，所述定心部件包括与滑槽四内表面固定连接的齿条二和通过梯形块与滑槽四内表面滑动连接的滑动座，所述滑动座外弧面开设有滑槽三，所述滑槽三内表面滑动连接有支撑座，所述支撑座靠近滑动座的一端固定连接有齿条一，所述齿条一啮合有与滑动座下部t型块内表面转动连接的齿轮一，所述齿轮一与齿条二啮合。
10、优选的，所述夹持组件包括与中心柱外表面下部固定连接的凸轮，所述凸轮外表面紧贴有与两侧滑槽二内表面滑动连接的连接杆二，两侧所述连接杆二上端相互远离的一侧均固定连接有定位座，所述连接杆二远离凸轮的一端均固定连接有与滑槽二内壁固定连接的压缩弹簧。
11、优选的，所述下料结构包括与屏蔽盒右端通过螺栓固定安装的中心管，所述中心管内表面下部滑动连接有楔形柱，所述楔形柱外表面下部固定连接有与中心管下端固定连接的复位弹簧一，所述楔形柱下端贯穿中心管内腔延伸至中心管下端并固定连接有顶块，所述中心管外表面下部矩形分布开设有四个滑槽一，所述滑槽一内表面均通过弹簧槽滑动连接有锁舌，四个所述锁舌位于中心管内腔的一侧分别与楔形柱外表面固定的两个椎体表面紧贴。
12、优选的，两个所述引导槽二内部均为平滑斜坡且单向连通，其连通处存在高低差。
13、与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
14、本专利技术通过下料结构配合半导体固定结构的移动将半导体分立器件送入半导体固定结构中并通过半导体固定结构进行定心和固定，然后通过半导体固定结构与半导体检测结构的配合对半导体分立器件的电气特性和外观进行检测，检测完成后通过半导体检测结构的作用将半导体分立器件送入下料盒中暂存，以此实现连续、自动检测，减少人工参与，降低人体接触对检测结果的影响，提高检测效率和准确度。
15、本专利技术利用下料结构与半导体固定结构的配合将物料送入半导体固定结构中，通过定位组件和夹持组件的作用对半导体分立器件进行定心、定位和固定，为后续配合半导体检测结构进行检测提供基础，减少人工手持检测所造成的检测误差，提高检测效率。
16、本专利技术利用检测驱动组件带动通断检测组件跟随物料传动带运送半导体分立器件的频率周期性对半导体分立器件进行电流特性检测，并通过检测探头的作用对半导体分离器件的外观进行检测，同步反馈到检测仪中汇总，并通过下料板的作用将半导体固定结构所固定的半导体器件掀起并落入下料盒中暂存，通过自动化检测提高检测频率，从而提高同一时间段内的检测数量，从而提高检测效率。
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1.一种半导体分立器生产用检测装置，包括机台（1），其特征在于：所述机台（1）上端固定连接有物料传动带（2），所述物料传动带（2）外表面曲线部分固定连接有若干半导体固定结构（4），所述机台（1）上端中部固定连接有半导体检测结构（5），所述半导体检测结构（5）右端固定安装有下料结构（3），所述物料传动带（2）中心轴传动连接有间歇传动机构（7），所述间歇传动机构（7）与半导体检测结构（5）通过齿轮组和传动轴传动连接，所述机台（1）上端左部固定连接有下料盒（6）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述半导体检测结构（5）包括与机台（1）上端中部固定连接的屏蔽盒（51）和机台（1）上端前部固定连接的检测仪（52），所述屏蔽盒（51）内腔顶部固定连接有支撑架（55），所述支撑架（55）水平部分下端中部固定连接有检测探头（56），所述支撑架（55）竖直部分下端固定连接有引导板（57），所述引导板（57）下端左部前后对称固定连接有下料板（58），所述屏蔽盒（51）内表面前后对称固定连接有通断检测组件（53），两侧所述通断检测组件（53）和屏蔽盒（
3.根据权利要求2所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述通断检测组件（53）包括与屏蔽盒（51）内壁左右对称固定连接的固定板二（531），所述固定板二（531）左端开设有与右端连通的限位槽一（532），所述固定板二（531）上下对称分布开设左右连通的引导槽一（533），同一水平高度是的两侧所述引导槽一（533）内表面共同滑动连接有电极夹座（534），两个所述电极夹座（534）靠近屏蔽盒（51）内壁的一端共同左右对称通过限位座滑动连接有限位块（537），两侧所述限位块（537）内表面共同滑动连接有与两侧限位槽一（532）内表面滑动连接的限位杆（538），所述限位杆（538）下端固定连接有与检测驱动组件（54）滑动连接的L型杆（535），所述L型杆（535）水平部分外表面固定连接有与检测驱动组件（54）紧贴的复位弹簧二（536），所述L型杆（535）前端和后端与相邻复位弹簧二（536）紧贴。
4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述检测驱动组件（54）包括与机台（1）固定连接的驱动电机（545），所述驱动电机（545）输出端贯穿屏蔽盒（51）下端延伸至屏蔽盒（51）内腔并固定连接有转盘（543），所述转盘（543）上端前后对称开设有引导槽二（544），所述转盘（543）外表面设置有为间歇传动机构（7）传递动力的齿轮组，所述屏蔽盒（51）内腔底壁固定连接有限位板（541），所述限位板（541）上端开设有与下端连通的限位槽二（542），所述转盘（543）、限位槽二（542）内表面均与L型杆（535）滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述半导体固定结构（4）包括与物料传动带（2）外表面固定连接的固定板一（41），所述固定板一（41）上端前部和上端后部均环形阵列设置有定位组件（42），所述固定板一（41）上端前部和上端后部均左右对称开设有滑槽二（45），两个所述定位组件（42）左右两侧与相邻滑槽二（45）共同设置有夹持组件（44）。
6.根据权利要求5所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述定位组件（42）包括固定板一（41）上端环形分布开设的四个滑槽四（424），四个所述滑槽四（424）内表面均设置有定心部件（423），四个所述定心部件（423）内弧面均转动连接有连接杆一（422），四个所述连接杆一（422）远离定心部件（423）的一端共同转动连接有与固定板一（41）上端转动连接的中心柱（421）。
7.根据权利要求6所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述定心部件（423）包括与滑槽四（424）内表面固定连接的齿条二（4236）和通过梯形块与滑槽四（424）内表面滑动连接的滑动座（4231），所述滑动座（4231）外弧面开设有滑槽三（4232），所述滑槽三（4232）内表面滑动连接有支撑座（4233），所述支撑座（4233）靠近滑动座（4231）的一端固定连接有齿条一（4234），所述齿条一（4234）啮合有与滑动座（4231）下部T型块内表面转动连接的齿轮一（4235），所述齿轮一（4235）与齿条二（4236）啮合。
8.根据权利要求7所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述夹持组件（44）包括与中心柱（421）外表面下部固定连接的凸轮（444），所述凸轮（444）外...
【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器生产用检测装置，包括机台（1），其特征在于：所述机台（1）上端固定连接有物料传动带（2），所述物料传动带（2）外表面曲线部分固定连接有若干半导体固定结构（4），所述机台（1）上端中部固定连接有半导体检测结构（5），所述半导体检测结构（5）右端固定安装有下料结构（3），所述物料传动带（2）中心轴传动连接有间歇传动机构（7），所述间歇传动机构（7）与半导体检测结构（5）通过齿轮组和传动轴传动连接，所述机台（1）上端左部固定连接有下料盒（6）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述半导体检测结构（5）包括与机台（1）上端中部固定连接的屏蔽盒（51）和机台（1）上端前部固定连接的检测仪（52），所述屏蔽盒（51）内腔顶部固定连接有支撑架（55），所述支撑架（55）水平部分下端中部固定连接有检测探头（56），所述支撑架（55）竖直部分下端固定连接有引导板（57），所述引导板（57）下端左部前后对称固定连接有下料板（58），所述屏蔽盒（51）内表面前后对称固定连接有通断检测组件（53），两侧所述通断检测组件（53）和屏蔽盒（51）内表面底壁共同设置有与间歇传动机构（7）传动连接的检测驱动组件（54）。
3.根据权利要求2所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述通断检测组件（53）包括与屏蔽盒（51）内壁左右对称固定连接的固定板二（531），所述固定板二（531）左端开设有与右端连通的限位槽一（532），所述固定板二（531）上下对称分布开设左右连通的引导槽一（533），同一水平高度是的两侧所述引导槽一（533）内表面共同滑动连接有电极夹座（534），两个所述电极夹座（534）靠近屏蔽盒（51）内壁的一端共同左右对称通过限位座滑动连接有限位块（537），两侧所述限位块（537）内表面共同滑动连接有与两侧限位槽一（532）内表面滑动连接的限位杆（538），所述限位杆（538）下端固定连接有与检测驱动组件（54）滑动连接的l型杆（535），所述l型杆（535）水平部分外表面固定连接有与检测驱动组件（54）紧贴的复位弹簧二（536），所述l型杆（535）前端和后端与相邻复位弹簧二（536）紧贴。
4.根据权利要求3所述的一种半导体分立器生产用检测装置，其特征在于：所述检测驱动组件（54）包括与机台（1）固定连接的驱动电机（545），所述驱动电机（545）输出端贯穿屏蔽盒（51）下端延伸至屏蔽盒（51）内腔并固定连接有转盘（543），所述转盘（543）上端前后对称开设有引导槽二（544），所述转盘（543）外表面设置有为间歇传动机构（7）传递动力的齿轮组，所述屏蔽盒（51）内腔底壁固定连接有限位板（541），所述限位板（541）上端开设有与下端连通的限位槽二（542），所述转盘（543）、限位槽二（542）内表面均与l型杆（535）滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵越，刘顺生，
申请(专利权)人：深圳市秀武电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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