【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种图像处理装置与方法、定位装置与方法、安装装置与方法。
技术介绍
1、将半导体芯片(semiconductor chip)等电子零件从晶片(wafer)或托盘(tray)拾取，搬送至基板上，并压抵于基板而进行安装。在此种电子零件的安装中，也有在一个基板上安装多个电子零件的情况。在将电子零件安装于基板上之前需要使电子零件与安装区域对齐。
2、为了对基板与电子零件进行定位，例如进行基于图案匹配的方法。在图案匹配中，将包含成为基准的特征(配线图案、标记、端子(电极配置、凸块配置等))的图像预先登记为模板。然后，使对基板或电子零件的包含特征的区域进行拍摄而得的图像与模板进行图案匹配，以对图像与模板的特征的位置的偏移量进行检测。然后，定位机构以修正偏移量的方式进行电子零件与基板的定位。
3、[现有技术文献]
4、[专利文献]
5、[专利文献1]日本专利特开平10-256351号公报
技术实现思路
1、[专利技术所要解决的问题]
2、然而，在所述那样的现有技术中，存在如下情况：由于电子零件的各种表面状态或形状的偏差、图像中的电子零件的拍照方式的偏差等，会受到特征以外的部位的影响，与模板的图案匹配率降低，而导致定位失败。为了应对所述问题，在准备大量模板的情况下，需要花费很大的工夫。
3、本专利技术的实施方式的目的在于提供一种无论所拍摄的图像如何均可提高图案匹配的成功率的图像处理装置、定位装置、安装装置、图像处
4、[解决问题的技术手段]
5、为了达成所述目的，实施方式的图像处理装置具有：学习用物品图像分割部，生成将对物品的包含特征的区域进行拍摄而得的物品图像分割为规定的尺寸后的学习用分割物品图像；示教用特征图像分割部，生成将从所述物品图像中提取了所述特征的特征图像分割为规定的尺寸后的示教用分割特征图像；模型生成部，基于所述学习用分割物品图像及所述示教用分割特征图像，生成从所述物品图像中提取了所述特征的图像生成模型；物品图像分割部，生成将所述物品图像分割为规定的尺寸后的分割物品图像；分割特征图像生成部，利用所述图像生成模型，由所述分割物品图像生成提取了每个所述分割物品图像的所述特征的分割特征图像；特征图像生成部，生成将所述分割特征图像结合而得的特征图像；区域选择部，对所述特征图像的所期望的区域进行选择；模板登记部，将由所述区域选择部选择的区域登记为图案匹配用的模板；以及图案匹配部，对图案匹配用特征图像与所登记的所述模板进行图案匹配，所述图案匹配用特征图像是通过所述特征图像生成部结合由所述分割特征图像生成部根据图案匹配用分割物品图像生成的图案匹配用分割特征图像而得，所述图案匹配用分割物品图像是由所述物品图像分割部对拍摄作为图案匹配的对象的物品的包含特征的区域而得的图案匹配用物品图像进行分割而得。
6、实施方式的定位装置具有所述图像处理装置，且具有：偏移量算出部，算出由所述图案匹配部进行了图案匹配的所述图案匹配用特征图像与所述模板的所述特征的偏移量；定位机构，对成为所述图案匹配的对象的物品进行定位；以及定位控制部，以修正所述偏移量的方式，利用所述定位机构使成为所述图案匹配的对象的物品移动，由此进行定位。
7、实施方式的安装装置具有所述定位装置，所述物品是基板及搭载于所述基板的电子零件，所述定位机构是通过使所述基板及所述电子零件相对移动来进行定位的机构，所述定位机构具有：搭载机构，将被定位的所述电子零件搭载于所述基板；以及安装控制部，通过使所述搭载机构向将所述电子零件搭载于所述基板的方向移动，从而将所述电子零件安装于所述基板。
8、实施方式的图像处理方法包括：学习用物品图像生成处理，生成将对物品的包含特征的区域进行拍摄而得的物品图像分割为规定的尺寸后的学习用物品图像；示教特征图像生成处理，生成将提取了所述物品图像的所述特征的特征图像分割为规定的尺寸后的示教用特征图像；模型生成处理，基于所述学习用物品图像及所述示教用特征图像，生成从所述物品图像中提取了所述特征的图像生成模型；物品图像分割处理，生成将所述物品图像分割为规定的尺寸后的分割物品图像；分割特征图像生成处理，基于所述图像生成模型，由所述分割物品图像生成提取了每个所述分割物品图像的所述特征的分割特征图像；特征图像生成处理，生成将所述分割特征图像结合而得的特征图像；区域选择处理，对所述特征图像的所期望的区域进行选择；模板登记处理，将通过所述区域选择处理而选择的区域登记为图案匹配用的模板；以及图案匹配处理，对图案匹配用特征图像与所登记的所述模板进行图案匹配，所述图案匹配用特征图像是通过所述特征图像生成处理结合通过所述分割特征图像生成处理根据图案匹配用分割物品图像生成的图案匹配用分割特征图像而得，所述图案匹配用分割物品图像是通过所述物品图像分割处理对拍摄作为图案匹配的对象的物品的包含特征的区域而得的图案匹配用物品图像进行分割而得。
9、实施方式的定位方法包括所述图像处理方法，且包括：偏移量算出处理，算出通过所述图案匹配处理进行了图案匹配的所述图案匹配用特征图像与所述模板的所述特征的偏移量；以及定位处理，以修正所述偏移量的方式，利用定位机构使成为所述图案匹配的对象的物品移动，由此进行定位。
10、实施方式的安装方法包括所述定位方法，所述物品是基板及搭载于所述基板的电子零件，所述定位处理是通过使所述基板及所述电子零件相对移动来进行定位的处理，所述安装方法包括使搭载机构将被定位的所述电子零件搭载于所述基板的搭载处理。
11、[专利技术的效果]
12、在本专利技术的实施方式中，无论所拍摄的图像如何均可提高图案匹配的成功率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种图像处理装置，具有：
2.根据权利要求1所述的图像处理装置，具有：
3.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，所述学习用分割物品图像、所述示教用分割特征图像、所述分割物品图像、所述分割特征图像、所述图案匹配用分割物品图像、所述图案匹配用分割特征图像为同一尺寸。
4.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，在所述图案匹配部图案匹配失败的情况下，所述模型生成部使用所述图案匹配失败的图像，再次生成所述图像生成模型。
5.根据权利要求2所述的图像处理装置，其中，所述第一图像转换部能够切换尺寸的转换以及亮度的转换的顺序。
6.一种定位装置，具有如权利要求1或2所述的图像处理装置，且具有：
7.一种安装装置，具有如权利要求6所述的定位装置，
8.一种图像处理方法，包括：
9.根据权利要求8所述的图像处理方法，包括：
10.一种定位方法，包括如权利要求8或9所述的图像处理方法，且包括：
11.一种安装方法，包括如权利要求10所述的定位方法，
【技术特征摘要】
1.一种图像处理装置，具有：
2.根据权利要求1所述的图像处理装置，具有：
3.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，所述学习用分割物品图像、所述示教用分割特征图像、所述分割物品图像、所述分割特征图像、所述图案匹配用分割物品图像、所述图案匹配用分割特征图像为同一尺寸。
4.根据权利要求1或2所述的图像处理装置，其中，在所述图案匹配部图案匹配失败的情况下，所述模型生成部使用所述图案匹配失败的图像，再次生成所述图像生成模型。
5.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：関野司纱，谷尾哲嗣，古水戸顺介，
申请(专利权)人：芝浦机械电子装置株式会社，
类型：发明
国别省市：
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