System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() IGBT芯片的测试设备制造技术_技高网

IGBT芯片的测试设备制造技术

技术编号:42362579 阅读:12 留言:0更新日期:2024-08-16 14:46
本申请涉及轨道交通设备测试领域,特别是用于IGBT芯片(9)的测试设备。该测试设备包括主回路、控制回路、至少一个测试电源、一套接触器开关组件(2)、一个可编程逻辑控制器(4)及一个上位机(5)。该测试设备通过基于型号信息在数据库中匹配相应的测试任务。根据每一测试项目向可编程逻辑控制器(4)及相应的测试电源发送控制信息,使得可编程逻辑控制器(4)控制相应的接触器开关闭合,并使得测试电源输出电流或电压。然后,接收电流或电压的实际测量值,并将实际测量值与标准值进行比较,并得出该项目的测试结果。如此,能够提高IGBT芯片(9)的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及轨道交通设备测试领域,特别是igbt芯片的测试设备。


技术介绍

1、在轨道交通领域,牵引传动系统是动车组、机车等装备的核心部件,而igbt芯片(绝缘栅双极型晶体管)是牵引传动系统的核心部件。igbt芯片是自动控制和功率变换的关键核心部件,igbt芯片的开关速度一秒钟近万次,利用igbt芯片组成的逆变回路实现调频调压,从而实现对高铁列车的车速的控制。

2、igbt芯片在出厂前要对其进行静态参数测试,在现有的测试方法中,需要手动连接igbt芯片与测试仪之间的导线,且人工参与较多,且对操作技能要求较高。一方面现有的测试方法对人的技能要求较高,另一方面也影响了igbt芯片的测试效率。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提出了一种igbt芯片的测试设备,用以提高igbt芯片的测试效率。

2、在本申请提供的igbt芯片的测试设备的一个实施例中,该测试设备包括主回路、控制回路、至少一个测试电源、一套接触器开关组件、一个可编程逻辑控制器及一个上位机。

3、其中,主回路设置有主回路集电极线路及主回路发射极线路;所述主回路集电极线路上连接有多个主集电极探针,每个所述主集电极探针用于导电接触igbt芯片的一个主回路集电极端子;所述主回路发射极线路上连接有多个主发射极探针,每个所述主发射极探针用于导电接触igbt芯片的一个主回路发射极端子。

4、控制回路设置有控制回路门极线路和控制回路发射极线路;所述控制回路门极线路上连接有一个控制门极探针,所述控制门极探针用于导电接触igbt芯片的控制回路门极端子;所述控制回路发射极线路上连接有一个控制发射极探针,所述控制发射极探针用于导电接触igbt芯片的控制回路发射极端子。

5、测试电源通过所述主回路或所述控制回路为待测试的igbt芯片供电。接触器开关组件用于控制所述测试电源的输出电路的通断,以及所述主回路及控制回路是否短路。可编程逻辑控制器信号控制所述接触器开关组件。

6、上位机与所述测试电源及所述可编程逻辑控制器通信连接,且所述所述上位机执行如下操作:获取待测试的igbt芯片的型号信息;基于所述型号信息在数据库中匹配相应的测试任务,所述测试任务中有至少一个测试项目;根据每一所述测试项目向所述可编程逻辑控制器及相应的测试电源发送控制信息,使得所述可编程逻辑控制器控制相应的接触器开关闭合,并使得测试电源输出电流或电压;接收电流或电压的实际测量值;将所述实际测量值与标准值进行比较,并得出该项目的测试结果;依次完成所述测试任务中的各测试项目。

7、在该igbt芯片的测试设备工作过程中,上位机能自动控制测试电源输出设定的电压或电流,并通过可编程逻辑控制器控制接触器开关组件中相应接触器的通断,以对igbt芯片进行相应的参数测试,并且igbt芯片还能接收测试电源反馈的实际电压值或实际电流值,并通过与标准值的比较,得出具体参数测试项目是否合格的结果。如此,能够提高igbt芯片的测试效率。

8、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述测试电源包括一个数字电源,其电压输出端通过其第一组电源线与所述控制回路连接,以向所述igbt芯片供给电压;所述接触器开关组件包括第一接触器和第二接触器,所述第一接触器设置在所述主回路的第一短接线路上,以及所述第二接触器设置在所述第一组电源线上;其中,当所述测试项目为测试igbt芯片的门极-发射极漏电流iges时,所述上位机控制所述第一接触器及所述第二接触器处于闭合状态,以及控制所述数字电源输出第一测试电压;当上位机收到来自所述数字电源反馈的第一实际电流值后,将该第一实际电流值与第一标准电流值进行比较,以判断门极-发射极漏电流iges测试项目是否合格。

9、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述数字电源的测试电流输出端通过其第二组电源线与所述主回路之间连通;所述接触器开关组件还包括第三接触器,该第三接触器设置在所述第二组电源线上;其中,当所述测试项目为测试igbt芯片的门极-发射极阀值电压vge(th)时,所述上位机控制第二接触器及所述第三接触器处于闭合状态,以及所述第一接触器处于断开状态;所述上位机还控制所述数字电源输出第一测试电流;当上位机收到来自所述数字电源反馈的第一实际电压值后,将该第一实际电压值与第二标准电压值进行比较,以判断门极-发射极阀值电压vge(th)测试项目是否合格。

10、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述测试电源还包括一个电流源,其电流输出端的第三组电源线的正极与所述主回路集电极线路连接,第三组电源线的负极与所述主回路发射极线路连接;所述接触器开关组件还包括第四接触器,所述第四接触器设置在所述第三组电源线上;其中,当所述测试项目为测试igbt芯片的集电极-发射极饱和电压vce(sat)时,所述上位机控制所述第二接触器及所述第四接触器处于闭合状态,以及所述第一接触器处于断开状态;所述上位机还控制所述数字电源输出第一控制电压,使得igbt芯片的晶闸管导通,以及控制所述电流源向所述igbt芯片的晶闸管供给第二测试电流;当上位机收到来自所述电流源反馈的第二实际电压值后,将该第二实际电压值与第二标准电压值进行比较,以判断集电极-发射极饱和电压vce(sat)测试项目是否合格;当集电极-发射极饱和电压vce(sat)测试完成后,上位机控制第二接触器和第四接触器断开,以及控制数字电源输出反向控制电压,实现测试设备与igbt芯片的隔离。

11、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述电流源内还设置有内部电压传感器,所述内部电压传感器并联在所述电流源的电源输出端,以获取所述第二实际电压值。

12、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述电流源的电流输出端还连接有第四组电源线,第四组电源线的正极与所述主回路发射极线路连接,第四组电源线的负极与所述主回路集电极线路连接;所述接触器开关组件还包括第五接触器,所述第五接触器设置在所述第四组电源线上;其中,当所述测试项目为测试igbt芯片的二极管压降值vf时,所述上位机控制所述第二接触器及所述第五接触器处于闭合状态,以及所述第一接触器处于断开状态;所述上位机还控制所述数字电源输出第二控制电压,使得igbt芯片的晶闸管截止,以及控制所述电流源向所述igbt芯片的二极管供给第三测试电流;当上位机收到来自所述电流源反馈的第三实际电压值后,将该第三实际电压值与第三标准电压值进行比较,以判断igbt芯片的二极管压降值vf测试项目是否合格。

13、在上述实施例提供的测试设备的一种优选的实施方式中,所述测试电源还包括一个高压测试仪,其电压输出端连接有第五组电源线,所述第五组电源线与所述主回路连接;所述接触器开关组件还包括第六接触器和第七接触器,所述第六接触器连接在所述控制回路的第二短接线路上,所述第七接触器设置在所述第五组电源线上;其中,当所述测试项目为测试igbt芯片的集电极-发射极截止电流ices时,所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.IGBT芯片(9)的测试设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试电源包括一个数字电源(3),其电压输出端通过其第一组电源线(31)与所述控制回路连接,以向所述IGBT芯片(9)供给电压;

3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述数字电源(3)的测试电流输出端通过其第二组电源线(32)与所述主回路之间连通;

4.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试电源还包括一个电流源(7),其电流输出端的第三组电源线(71)的正极与所述主回路集电极线路(11)连接,第三组电源线(71)的负极与所述主回路发射极线路(12)连接;

5.根据权利要求4所述的测试设备,其特征在于,所述电流源(7)内还设置有内部电压传感器(63),所述内部电压传感器(63)并联在所述电流源(7)的电源输出端,以获取所述第二实际电压值。

6.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述电流源(7)的电流输出端还连接有第四组电源线(72),第四组电源线(72)的正极与所述主回路发射极线路(12)连接,第四组电源线(72)的负极与所述主回路集电极线路(11)连接;

7.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试电源还包括一个高压测试仪(8),其电压输出端连接有第五组电源线(81),所述第五组电源线(81)与所述主回路连接;

8.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,还包括一个电流传感器(61),其设置在所述主回路集电极线路(11)与所述测试电源之间,其与所述上位机(5)通信连接,并向所述上位机(5)反馈所述主回路的实际电流值。

9.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,还包括一个外部电压传感器(62),其并联在所述控制回路上,所述外部电压传感器(62)与所述上位机(5)通信连接,并向所述上位机(5)反馈所述控制回路的实际电压值。

10.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,还包括一个扫码枪(51),其与所述上位机(5)通信连接;

...

【技术特征摘要】

1.igbt芯片(9)的测试设备,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于,所述测试电源包括一个数字电源(3),其电压输出端通过其第一组电源线(31)与所述控制回路连接,以向所述igbt芯片(9)供给电压;

3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述数字电源(3)的测试电流输出端通过其第二组电源线(32)与所述主回路之间连通;

4.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述测试电源还包括一个电流源(7),其电流输出端的第三组电源线(71)的正极与所述主回路集电极线路(11)连接,第三组电源线(71)的负极与所述主回路发射极线路(12)连接;

5.根据权利要求4所述的测试设备,其特征在于,所述电流源(7)内还设置有内部电压传感器(63),所述内部电压传感器(63)并联在所述电流源(7)的电源输出端,以获取所述第二实际电压值。

6.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于,所述电流源(7)的电流输出...

【专利技术属性】
技术研发人员:董志永
申请(专利权)人:西门子轨道交通设备天津有限公司
类型:发明
国别省市:

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