【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种chip元件检测领域，尤其涉及一种探针自清洁系统及清洁方法。
技术介绍
1、测包机是指通过其机械来对电子元件进行检测和封装的装置，测包机是电子元件在生产过程对其进行最后的检测来确定是否可以进行使用的装置。
2、其中，在对产品检测的时候，例如对chip元件检测的时候，一般通过探针和chip元件的两端电极接触，用以检测电容是否合格。其中，在利用探针对产品检测的时候，存在以下问题：
3、1、由于环境中异物的存在，一些异物会被吸附到探针的表面，从而导致探针尖端表面脏污；
4、2、探针接触chip元件的时候，元件电极物质黏连，会导致探针尖端表面脏污。
5、而探针尖端表面脏污，会导致测试精度变化，误测逐步增加，影响测试效率和测试精度，同时，探针的研磨频度高，备件的损耗增加，会导致成本高昂，而且还需要人员经常处理，操作人员劳动强度也会更高。
技术实现思路
1、本专利技术目的是提供一种探针自清洁系统及清洁方法，通过使用该系统及方法，能够实现探针的自动清洁，这样能够有效的保证检测稳定性及质量，降低检测误判、重测的发生率，同时还能够提高检测效率，降低耗材费用。
2、为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：一种探针自清洁系统，包括测包机、控制器、计测仪及探针组件，所述探针组件上设有多组探针，所述计测仪、测包机及探针组件与控制器电控连接，所述控制器控制所述探针组件工作，所述探针组件驱动所述探针伸出及回缩；
3、还
4、所述转换回路将所述清洁信号发生回路与所述探针组件电控连接时，所述清洁信号发生回路经所述转换回路给予所述探针通电。
5、上述技术方案中，所述探针为偶数组，所述清洁信号发生回路经所述转换回路与所述探针组件电控连接时，所述清洁信号发生回路给予探针放电，两组所述探针与产品单侧的电极之间接触并形成回路，并在所述探针上产生火花与高温，通过火花及高温对探针表面进行清洁。
6、上述技术方案中，还设有显示组件及上位机，所述显示组件及上位机与所述控制器电控连接。
7、上述技术方案中，所述控制器控制所述转换回路与清洁信号发生回路电性连接或与所述计测仪电性连接，并控制所述清洁信号发生回路供电会断电。
8、上述技术方案中，所述探针为四组，两组所述探针对产品一侧的电极接触检测，另外两组所述探针对产品另外一侧的电极接触检测。
9、本专利技术还提供了一种探针自清洁方法，其步骤为：
10、①控制器给出控制信号到所述探针组件上，所述探针组件驱动所述探针伸出；
11、②所述探针组件同时驱动四组探针伸出，两组探针与产品的一侧电极接触，另外两组探针与产品的另一侧电极接触；
12、③控制器先判定是否需要对探针进行清洁，其中，初始状态下，转换回路会将计测仪与探针组件电连接；
13、④所述步骤③中，如果不需要清洁，直接触发计测，探针对产品进行计测工作，计测仪将计测数据反馈至控制器；
14、⑤所述步骤③中，如果需要清洁，则转换回路切换通道，转换回路将清洁信号发生回路和探针组件电连接；
15、⑥在所述步骤⑤中，在将清洁信号发生回路和探针组件电连接之后，清洁信号发生回路给予探针充电，充电电压为v1，充电电流为a1，充电时间为s1，两组探针和产品一侧的电极之间形成回路，会在探针上面产生火花及高温，将探针表面及尖端进行清洁，并且在清洁的过程中，探针组件会带动探针回缩，脱离产品；
16、⑦所述步骤⑥中，探针清洁完成之后，控制器控制转换回路将计测仪与探针组件电连接，然后回到步骤④，利用探针对产品进行计测。
17、2上述技术方案中，在探针对产品进行清洁，或者探针进行清洁的时候，控制器会将当前的工作状态反馈至上位机以及显示组件，上位机能够对其进行统计分析，显示组件能够直接将工作状态显示出来，且可以通过显示组件调整探针清洁周期或时间。
18、上述技术方案中，所述步骤⑥中，充电时间为0.1毫秒～50毫秒，所述充电电压为5v～220v，所述充电电流为0.1ma～50ma。
19、上述技术方案中，在探针伸出到位之后，延迟t1时间控制器再发出切换通道信号，转换回路将探针组件与计测仪的电连接切换为探针组件与清洁信号发生回路电连接；在发出切换通道信号后，再延迟t2时间，控制器再发出充电信号，清洁信号发生回路再给予探针充电，持续s1的充电时间；
20、在经过s2时间之后，其中s2小于s1，探针组件控制探针回缩，脱离产品的电极，当探针回缩到位之后，控制器延迟t3时间，发出关闭探针充电信号，然后信号发生回路停止充电；
21、在发出关闭探针充电信号之后，延迟t4时间之后，发出切换测量通道信号，转换回路将探针组件与清洁信号发生回路的电连接切换为探针组件与计测仪电连接；
22、在发出切换测量通道信号之后，延迟t5时间，控制器发出信号到计测仪，同时探针组件控制探针伸出，计测仪就能够检测到探针的伸出，进行计测工作。
23、由于上述技术方案运用，本专利技术与现有技术相比具有下列优点：
24、1.本专利技术中通过设置转换回路以及清洁信号发生回路，将探针组件和计测仪或者清洁信号发生回路电连接，探针组件和计测仪连接的时候，能够实现计测工作，在探针组件和清洁信号发生回路连接的时候，能够通过清洁信号发生回路给予探针充电，给予探针尖端上面查收火花与高温，将探针尖端、表面的脏物烧掉或者熔化，用以保证计测精度、降低检测误判、重测的发生率，还能够提高检测效率，降低探针的更换频率，降低耗材费用，降低成本，同时减少更换频率能够降低操作人员劳动强度。
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1.一种探针自清洁系统，其特征在于：包括测包机、控制器、计测仪及探针组件，所述探针组件上设有多组探针，所述计测仪、测包机及探针组件与控制器电控连接，所述控制器控制所述探针组件工作，所述探针组件驱动所述探针伸出及回缩；
2.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述探针为偶数组，所述清洁信号发生回路经所述转换回路与所述探针组件电控连接时，所述清洁信号发生回路给予探针放电，两组所述探针与产品单侧的电极之间接触并形成回路，并在所述探针上产生火花与高温，通过火花及高温对探针表面进行清洁。
3.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：还设有显示组件及上位机，所述显示组件及上位机与所述控制器电控连接。
4.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述控制器控制所述转换回路与清洁信号发生回路电性连接或与所述计测仪电性连接，并控制所述清洁信号发生回路供电会断电。
5.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述探针为四组，两组所述探针对产品一侧的电极接触检测，另外两组所述探针对产品另外一侧的电极接触检测。
<...【技术特征摘要】
1.一种探针自清洁系统，其特征在于：包括测包机、控制器、计测仪及探针组件，所述探针组件上设有多组探针，所述计测仪、测包机及探针组件与控制器电控连接，所述控制器控制所述探针组件工作，所述探针组件驱动所述探针伸出及回缩；
2.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述探针为偶数组，所述清洁信号发生回路经所述转换回路与所述探针组件电控连接时，所述清洁信号发生回路给予探针放电，两组所述探针与产品单侧的电极之间接触并形成回路，并在所述探针上产生火花与高温，通过火花及高温对探针表面进行清洁。
3.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：还设有显示组件及上位机，所述显示组件及上位机与所述控制器电控连接。
4.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述控制器控制所述转换回路与清洁信号发生回路电性连接或与所述计测仪电性连接，并控制所述清洁信号发生回路供电会断电。
5.根据权利要求1所述的探针自清洁系统，其特征在于：所述探针为...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄德根，
申请(专利权)人：苏州优斯登物联网科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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