【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及屏幕检测，尤其涉及一种仪表开机黑屏检测系统、方法、设备及存储介质。
技术介绍
1、目前，仪表是否能够正常启动是嵌入式仪表开发测试过程非常重要的一个环节。传统的测试方式是通过反复的通断电来观察仪表屏幕是否正常显示来确认其可靠性，这种方式非常消耗人力，并且不能做到大规模的检测。因此，如何实现大规模快速检测仪表成为一个亟待解决的问题。
2、上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供了一种仪表开机黑屏检测系统、方法、设备及存储介质，旨在解决如何实现大规模快速检测仪表的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种仪表开机黑屏检测系统，所述仪表开机黑屏检测系统包括上位机和多个光感检测仪；
3、所述上位机，用于分别获取多个光感检测仪对应的检测仪编号、多个待检测仪表的仪表编号和预设屏幕位置对应的目标光感强度值，并根据各光感检测仪对应的检测仪编号和各待检测仪表的仪表编号建立编号映射关系表；
4、多个光感检测仪，用于在所述上位机控制多个待检测仪表开启后，分别通过光感芯片采集各待检测仪表中预设屏幕位置的预设时长光感强度值，并将各预设屏幕位置的预设时长光感强度值发送至所述上位机；
5、所述上位机，还用于根据各预设屏幕位置的预设时长光感强度值和各预设屏幕位置的目标光感强度值分别对多个待检测仪表进行开机黑屏检测；
6、所述上位机，还用于在检
7、可选地，多个光感检测仪，还用于通过mcu确定各光感检测仪对应的检测仪编号；
8、多个光感检测仪，还用于在检测到多个光感检测仪启动后，通过wifi模块将各光感检测仪对应的检测仪编号发送至上位机。
9、可选地，所述上位机，还用于判断各预设屏幕位置的预设时长光感强度值是否大于或等于各预设屏幕位置的目标光感强度值；
10、所述上位机，还用于若各预设屏幕位置的预设时长光感强度值大于或等于各预设屏幕位置的目标光感强度值，则判定多个待检测仪表本次开机正常启动，并确定预设时段内各待检测仪表对应的开机成功次数；
11、所述上位机，还用于若各待检测仪表对应的开机成功次数大于或等于预设成功阈值，则判定多个待检测仪表开机正常。
12、可选地，所述上位机，还用于若至少一个各预设屏幕位置的预设时长光感强度值小于各预设屏幕位置的目标光感强度值，则判定至少一个待检测仪表本次开机失败，并确定预设时段内至少一个待检测仪表对应的开机失败次数；
13、所述上位机，还用于若至少一个待检测仪表对应的开机失败次数大于或等于预设失败阈值，则判定至少一个待检测仪表开机黑屏。
14、可选地，所述上位机，还用于在检测到开机黑屏时，确定至少一个光感检测仪对应的检测仪编号，并根据所述开机黑屏对应的至少一个光感检测仪对应的检测仪编号通过所述编号映射关系表匹配对应的仪表编号；
15、所述上位机，还用于根据所述匹配对应的仪表编号确定至少一个开机黑屏仪表。
16、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种仪表开机黑屏检测系统，所述仪表开机黑屏检测方法包括以下步骤：
17、上位机分别获取多个光感检测仪对应的检测仪编号、多个待检测仪表的仪表编号和预设屏幕位置对应的目标光感强度值，并根据各光感检测仪对应的检测仪编号和各待检测仪表的仪表编号建立编号映射关系表；
18、多个光感检测仪在所述上位机控制多个待检测仪表开启后，分别通过光感芯片采集各待检测仪表中预设屏幕位置的预设时长光感强度值，并将各预设屏幕位置的预设时长光感强度值发送至所述上位机；
19、所述上位机根据各预设屏幕位置的预设时长光感强度值和各预设屏幕位置的目标光感强度值分别对多个待检测仪表进行开机黑屏检测；
20、所述上位机在检测到开机黑屏时，根据所述编号映射关系表从多个待检测仪表中确定至少一个开机黑屏仪表。
21、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种仪表开机黑屏检测设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的仪表开机黑屏检测程序，所述仪表开机黑屏检测程序配置为实现如上文所述的仪表开机黑屏检测系统的步骤。
22、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有仪表开机黑屏检测程序，所述仪表开机黑屏检测程序被处理器执行时实现如上文所述的仪表开机黑屏检测系统的步骤。
23、本专利技术仪表开机黑屏检测系统包括上位机和多个光感检测仪，首先上位机分别获取多个光感检测仪对应的检测仪编号、多个待检测仪表的仪表编号和预设屏幕位置对应的目标光感强度值，并根据各光感检测仪对应的检测仪编号和各待检测仪表的仪表编号建立编号映射关系表，然后多个光感检测仪在上位机控制多个待检测仪表开启后，分别通过光感芯片采集各待检测仪表中预设屏幕位置的预设时长光感强度值，并将各预设屏幕位置的预设时长光感强度值发送至上位机，上位机根据各预设屏幕位置的预设时长光感强度值和各预设屏幕位置的目标光感强度值分别对多个待检测仪表进行开机黑屏检测，上位机在检测到开机黑屏时，根据编号映射关系表从多个待检测仪表中确定至少一个开机黑屏仪表。相较于现有技术中通过反复的通断电来观察仪表屏幕是否正常显示来确认其可靠性，这种方式非常消耗人力，并且不能做到大规模的检测，而本专利技术通过上位机控制仪表上电，之后根据上位机和光感检测仪之间的数据传输，实现了大规模快速检测仪表。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种仪表开机黑屏检测系统，其特征在于，所述仪表开机黑屏检测系统包括上位机和多个光感检测仪；
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，多个光感检测仪，还用于通过MCU确定各光感检测仪对应的检测仪编号；
3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于判断各预设屏幕位置的预设时长光感强度值是否大于或等于各预设屏幕位置的目标光感强度值；
4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于若至少一个各预设屏幕位置的预设时长光感强度值小于各预设屏幕位置的目标光感强度值，则判定至少一个待检测仪表本次开机失败，并确定预设时段内至少一个待检测仪表对应的开机失败次数；
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于在检测到开机黑屏时，确定至少一个光感检测仪对应的检测仪编号，并根据所述开机黑屏对应的至少一个光感检测仪对应的检测仪编号通过所述编号映射关系表匹配对应的仪表编号；
6.一种仪表开机黑屏检测方法，其特征在于，所述仪表开机黑屏检测方法包括以下步骤：
7.一种仪表开机黑屏检测设备，其特征在于
8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有仪表开机黑屏检测程序，所述仪表开机黑屏检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任一项所述的仪表开机黑屏检测系统的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种仪表开机黑屏检测系统，其特征在于，所述仪表开机黑屏检测系统包括上位机和多个光感检测仪；
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，多个光感检测仪，还用于通过mcu确定各光感检测仪对应的检测仪编号；
3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于判断各预设屏幕位置的预设时长光感强度值是否大于或等于各预设屏幕位置的目标光感强度值；
4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用于若至少一个各预设屏幕位置的预设时长光感强度值小于各预设屏幕位置的目标光感强度值，则判定至少一个待检测仪表本次开机失败，并确定预设时段内至少一个待检测仪表对应的开机失败次数；
5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述上位机，还用...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓磊，尤涛，
申请(专利权)人：武汉云片松科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。