【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子，尤其涉及一种显示方法及电子设备。
技术介绍
1、在对诸如笔记本电脑等电子设备进行异常检测的过程中，对电子设备的主板进行检测是其中的一关键环节。当电子设备主板出现故障的时候，通常需要连接一个外接设备，通过对外接设备上显示的字段进行分析来确认主板故障的原因，以便于电子设备的调试或维修，效率较低。因此，如何实现对电子设备的高效异常检测成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本申请提供了一种显示方法及电子设备，以至少解决现有技术中存在的以上技术问题。
2、根据本申请的第一方面，提供了一种显示方法，包括：
3、获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态；
4、在所述运行状态表征bios运行异常的情况下，
5、将电子设备的使能信号调整为第一电平信号，以及将电子设备的背光信号调整为第二电平信号；其中，所述使能信号和所述背光信号用于电子设备的正常显示；
6、响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据；
7、基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型；
8、显示bios的运行异常类型。
9、上述方案中，所述使能信号包括第一使能信号和第二使能信号中的至少之一；
10、所述第一使能信号由所述电子设备的嵌入式控制芯片生成并调整；
11、所述第二使能信号由所述电子设备的处理器生成并调整。
12、上述方案中，所述电子设备还包括时序
13、上述方案中，所述响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据，包括：
14、响应于第一电平信号以及第二电平信号，通过所述处理器确定bios所处的运行阶段信息；
15、基于所述运行阶段信息，获取bios的异常数据；所述异常数据包括bios所处的运行阶段的编码信息。
16、上述方案中，所述基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型，包括：
17、由所述处理器通过i2c将bios的异常数据发送至所述时序控制芯片；
18、基于bios的异常数据中包括的所处的运行阶段的编码信息，通过所述时序控制芯片从存储芯片中确定与所述编码信息对应的bios的运行异常类型。
19、上述方案中，所述bios通过执行至少一个测试任务进行运行；所述获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态，包括：
20、获取bios对所述至少一个测试任务的执行结果；
21、当所述至少一个测试任务中各测试任务的执行结果均表征测试通过时，所述运行状态表征bios运行正常；
22、当存在测试任务的执行结果表征测试不通过时，所述运行状态表征bios运行异常。
23、上述方案中，所述第一电平信号与所述第二电平信号相同或不同。
24、根据本申请的第二方面，提供了一种电子设备，包括：
25、处理器，用于获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态；在所述运行状态表征bios运行异常的情况下，将电子设备的第二使能信号调整为第一电平信号；
26、嵌入式控制芯片，用于将电子设备的背光信号调整为第二电平信号；其中，所述第二使能信号和所述背光信号用于电子设备的正常显示；
27、所述处理器，还用于响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据；基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型；
28、显示屏，用于显示bios的运行异常类型。
29、根据本申请的第三方面，提供了一种电子设备，包括：
30、处理器，用于获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态；
31、嵌入式控制芯片，用于在所述运行状态表征bios运行异常的情况下，将电子设备的第一使能信号调整为第一电平信号；将电子设备的背光信号调整为第二电平信号；其中，所述第一使能信号和所述背光信号用于电子设备的正常显示；
32、所述处理器，还用于响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据；基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型；
33、显示屏，用于显示bios的运行异常类型。
34、根据本申请的第四方面，提供了一种电子设备，包括：
35、处理器，用于获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态；在所述运行状态表征bios运行异常的情况下，将电子设备的第二使能信号调整为第一电平信号；
36、嵌入式控制芯片，用于将电子设备的第一使能信号调整为第一电平信号；将电子设备的背光信号调整为第二电平信号；其中，所述第一使能信号、第二使能信号和所述背光信号用于电子设备的正常显示；
37、所述处理器，还用于响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据；基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型；
38、显示屏，用于显示bios的运行异常类型。
39、本申请中，获取电子设备的基本输入输出系统bios的运行状态，在运行状态表征bios运行异常的情况下，将电子设备的使能信号调整为第一电平信号，以及将电子设备的背光信号调整为第二电平信号；其中，使能信号和背光信号用于电子设备的正常显示。响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据，基于bios的异常数据，确定bios的运行异常类型。显示bios的运行异常类型。与相关技术相比，本申请不需要借助外接设备对bios的运行异常类型进行显示，能够直接在电子设备上显示bios的异常类型，实现了对电子设备的高效异常检测。
40、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种显示方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使能信号包括第一使能信号和第二使能信号中的至少之一；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电子设备还包括时序控制芯片和存储芯片，所述存储芯片用于存储BIOS的运行异常类型以显示；其中，所述处理器通过集成电路总线I2C与时序控制芯片相连接，所述时序控制芯片与所述存储芯片通过串行外设接口相连接。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取BIOS的异常数据，包括：
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于BIOS的异常数据，确定BIOS的运行异常类型，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述BIOS通过执行至少一个测试任务进行运行；所述获取电子设备的基本输入输出系统BIOS的运行状态，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一电平信号与所述第二电平信号相同或不同。
8.一种电子设备，其特征在于，包括：
9.一种电子
10.一种电子设备，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种显示方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述使能信号包括第一使能信号和第二使能信号中的至少之一；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电子设备还包括时序控制芯片和存储芯片，所述存储芯片用于存储bios的运行异常类型以显示；其中，所述处理器通过集成电路总线i2c与时序控制芯片相连接，所述时序控制芯片与所述存储芯片通过串行外设接口相连接。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述响应于第一电平信号以及第二电平信号，获取bios的异常数据，包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：张喜条，张瑜，徐崧哲，刘化冰，蒋嫒霞，杨家铭，胡伟，
申请(专利权)人：合肥联宝信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。