一种PMOS器件动态测试系统技术方案

技术编号:42316753 阅读:16 留言:0更新日期:2024-08-14 15:59
本技术公开了一种PMOS器件动态测试系统,包括电源输入电路、储能电容电路、放电电路、第一驱动电路、第一PMOS器件、数据转换电路、第二驱动电路、第二PMOS器件、功率电感与软件测试模块,所述数据转换电路连接放电电路、软件测试模块、第一驱动电路与第二驱动电路,所述储能电容电路连接电源输入电路、放电电路、第一PMOS器件、功率电感、第二驱动电路与第二PMOS器件。本技术所述的一种PMOS器件动态测试系统,接口灵活,满足多种不同封装的PMOS器件测试需求,器件更换简易,测试效率高,完全采用自动控制,测试可按设定的程序进行动测试,采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及pmos器件测试领域,特别涉及一种pmos器件动态测试系统。


技术介绍

1、pmos器件动态测试系统是一种进行pmos器件检测的支撑设备,pmos器件是指n型衬底、p沟道,靠空穴的流动运送电流的mos管,具有良好的电流控制性能和噪声抗干扰能力,广泛应用于各种电子设备中,常用于数字电路中的逻辑门、存储器和触发器等部件的设计,以及模拟电路中的放大器、滤波器和开关电源等部件的设计。pmos器件的动态特性决定其开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性,直接影响pmos器件的性能,因此pmos器件的动态测试具有极其重要的实际意义,随着科技的不断发展,人们对于pmos器件动态测试系统的制造工艺要求也越来越高。

2、现有的pmos器件测试系统在使用时存在一定的弊端,目前对于pmos器件的动态测试的装置体积较大,成本较高,测试过程复杂,不利于pmos器件动态测试快速实现,给实际的使用过程带来了一定的不利影响,为此,我们提出一种pmos器件动态测试系统。


技术实现思路

1、解决的技术问题:针对现有技术的不足,本技术提供了一种pmos器件动态测试系统,接口灵活,满足多种不同封装的pmos器件测试需求,器件更换简易,测试效率高,完全采用自动控制,测试可按设定的程序进行动测试,采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为excel文件进行处理,可以有效解决
技术介绍
中的问题。

2、技术方案:为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:一种pmos器件动态测试系统,包括电源输入电路、储能电容电路、放电电路、第一驱动电路、第一pmos器件、数据转换电路、第二驱动电路、第二pmos器件、功率电感与软件测试模块,所述数据转换电路连接放电电路、软件测试模块、第一驱动电路与第二驱动电路,所述储能电容电路连接电源输入电路、放电电路、第一pmos器件、功率电感、第二驱动电路与第二pmos器件,所述第一驱动电路与第一pmos器件连接,所述第二驱动电路与第二pmos器件连接,所述第二pmos器件与第一pmos器件连接,所述功率电感与第一pmos器件、第二pmos器件连接。

3、优选的,所述电源输入电路提供整个测试装置的测试母线电压,且电源输入电路为可编程高压电源提供高电压,电压值最高可达到150v。

4、优选的,所述储能电容电路由第一电容组和第二电容组并联组成,所述第一电容组是多个大容值的电解电容串联而成,第二电容组是多个小容值的薄膜电容串联而成。

5、优选的,所述放电电路由隔离驱动电路、功率电阻电路组成。

6、优选的,所述第一驱动电路与第二驱动电路是将信号源产生pwm信号进行放大的电路。

7、优选的,所述第一pmos器件作为陪测功率器件,源极连接到母线电压的正极,漏极连接到第二pmos器件的源极。

8、优选的,所述数据转换电路将上位机发出的控制命令转换成能够识别的电信号,对放电电路、第一驱动电路与第二驱动电路进行控制。

9、优选的,所述第二pmos器件作为被测功率器件,源极连接到第一pmos器件的漏极,漏极连接到母线电压的负极。

10、优选的,所述功率电感为空心电感,根据需求更改感值,一端连接到母线电压的正极,另一端连接到第一pmos器件的漏极,且与第一pmos器件并联连接。

11、优选的,所述软件测试模块通过数据转换电路将命令转换成硬件可识别的电信号发送到放电电路、第一驱动电路与第二驱动电路。

12、有益效果:与现有技术相比,本技术提供了一种pmos器件动态测试系统,具备以下有益效果:该一种pmos器件动态测试系统,接口灵活,满足多种不同封装的pmos器件测试需求,器件更换简易,测试效率高,完全采用自动控制,测试可按设定的程序进行动测试,采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为excel文件进行处理,测试精度高且占用空间极小,便于运输携带,解决了传统测试设备造价昂贵、体积庞大、测试固化的问题,在测试过程中具有较高的便捷性以及灵活性,整个pmos器件动态测试系统结构简单,操作方便,使用的效果相对于传统方式更好。

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【技术保护点】

1.一种PMOS器件动态测试系统,包括电源输入电路(1)、储能电容电路(2)、放电电路(3)、第一驱动电路(4)、第一PMOS器件(5)、数据转换电路(6)、第二驱动电路(7)、第二PMOS器件(8)、功率电感(9)与软件测试模块(10),其特征在于:所述数据转换电路(6)连接放电电路(3)、软件测试模块(10)、第一驱动电路(4)与第二驱动电路(7),所述储能电容电路(2)连接电源输入电路(1)、放电电路(3)、第一PMOS器件(5)、功率电感(9)、第二驱动电路(7)与第二PMOS器件(8),所述第一驱动电路(4)与第一PMOS器件(5)连接,所述第二驱动电路(7)与第二PMOS器件(8)连接,所述第二PMOS器件(8)与第一PMOS器件(5)连接,所述功率电感(9)与第一PMOS器件(5)、第二PMOS器件(8)连接。

2.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述电源输入电路(1)提供整个测试装置的测试母线电压,且电源输入电路(1)为可编程高压电源提供高电压,电压值最高可达到150V。

3.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述储能电容电路(2)由第一电容组和第二电容组并联组成,所述第一电容组是多个大容值的电解电容串联而成,第二电容组是多个小容值的薄膜电容串联而成。

4.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述放电电路(3)由隔离驱动电路、功率电阻电路组成。

5.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述第一驱动电路(4)与第二驱动电路(7)是将信号源产生PWM信号进行放大的电路。

6.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述第一PMOS器件(5)作为陪测功率器件,源极连接到母线电压的正极,漏极连接到第二PMOS器件(8)的源极。

7.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述数据转换电路(6)将上位机发出的控制命令转换成能够识别的电信号,对放电电路(3)、第一驱动电路(4)与第二驱动电路(7)进行控制。

8.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述第二PMOS器件(8)作为被测功率器件,源极连接到第一PMOS器件(5)的漏极,漏极连接到母线电压的负极。

9.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述功率电感(9)为空心电感,根据需求更改感值,一端连接到母线电压的正极,另一端连接到第一PMOS器件(5)的漏极,且与第一PMOS器件(5)并联连接。

10.根据权利要求1所述的一种PMOS器件动态测试系统,其特征在于:所述软件测试模块(10)通过数据转换电路(6)将命令转换成硬件可识别的电信号发送到放电电路(3)、第一驱动电路(4)与第二驱动电路(7)。

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【技术特征摘要】

1.一种pmos器件动态测试系统,包括电源输入电路(1)、储能电容电路(2)、放电电路(3)、第一驱动电路(4)、第一pmos器件(5)、数据转换电路(6)、第二驱动电路(7)、第二pmos器件(8)、功率电感(9)与软件测试模块(10),其特征在于:所述数据转换电路(6)连接放电电路(3)、软件测试模块(10)、第一驱动电路(4)与第二驱动电路(7),所述储能电容电路(2)连接电源输入电路(1)、放电电路(3)、第一pmos器件(5)、功率电感(9)、第二驱动电路(7)与第二pmos器件(8),所述第一驱动电路(4)与第一pmos器件(5)连接,所述第二驱动电路(7)与第二pmos器件(8)连接,所述第二pmos器件(8)与第一pmos器件(5)连接,所述功率电感(9)与第一pmos器件(5)、第二pmos器件(8)连接。

2.根据权利要求1所述的一种pmos器件动态测试系统,其特征在于:所述电源输入电路(1)提供整个测试装置的测试母线电压,且电源输入电路(1)为可编程高压电源提供高电压,电压值最高可达到150v。

3.根据权利要求1所述的一种pmos器件动态测试系统,其特征在于:所述储能电容电路(2)由第一电容组和第二电容组并联组成,所述第一电容组是多个大容值的电解电容串联而成,第二电容组是多个小容值的薄膜电容串联而成。

4.根据权利要求1所述的一种pmos器件动态测试系统,其特征在于:所述放电...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁光胜徐婷婷
申请(专利权)人:北京海瑞克科技发展有限公司
类型:新型
国别省市:

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