【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试，尤其是涉及一种芯片在大规模生产时的质量测试方法、装置、测试设备及存储介质。
技术介绍
1、在集成电路测试加工领域，测试的核心目的是将性能良好的芯片与存在缺陷的芯片通过测试进行准确的区分。然而，由于当前芯片测试制程和技术上存在的局限性，往往会出现一些未经过充分测试或存在不良品质的芯片混入良品芯片中的情况。不仅导致芯片的整体质量下降，还可能对最终产品的性能和稳定性产生不良影响。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请提供一种芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质，旨在解决现有技术中芯片在大规模生产时面临的质量测试问题，以提高芯片的整体质量。
2、本申请的第一方面提供一种芯片质量测试方法，所述方法包括：
3、在成品级测试阶段，获取当前测试的芯片成品的第一uid；
4、将所述第一uid与数据库表中存储的上一个测试的芯片成品的第二uid进行比较；
5、当所述第一uid与所述第二uid不一致时，将所述第一uid存储至所述数据库表中，并获取下一个测试的芯片成品的第三uid；
6、当芯片测试完成后，对所述数据库表中的多个uid进行去重处理；
7、根据去重处理后的数据库表生成芯片测试结果。
8、可选的，所述对所述数据库表中的多个uid进行去重处理包括：
9、将所述数据库表中的多个uid进行分组，得到多个分组；
10、为每个分组初始化一个布隆过滤器；
11、使用所
12、将多个所述目标布隆过滤器通过按位或运算进行合并，得到合并布隆过滤器；
13、基于所述合并布隆过滤器进行uid全局去重处理。
14、可选的，所述使用所述布隆过滤器对对应分组中的uid进行去重处理包括：
15、对于每个分组，采用滑动窗口来遍历uid；
16、在所述窗口内，对每个uid进行哈希计算，并将计算得到的哈希值添加到所述布隆过滤器中；
17、当所述窗口滑动到下一个uid时，判断所述下一个uid的哈希值是否已存在于所述布隆过滤器中；
18、当所述下一个uid的哈希值已存在于所述布隆过滤器中，将所述下一个uid进行删除；
19、当所述下一个uid的哈希值不存在于所述布隆过滤器中，将所述下一个uid添加到所述布隆过滤器中，并继续处理，直至所述窗口滑动到所述分组中的最后一个uid为止。
20、可选的，所述根据去重处理后的数据库表生成芯片测试结果包括：
21、获取所述去重处理后的数据库表中uid的第一数量；
22、获取良品的第二数量；
23、对所述第一数量及所述第二数量进行比较；
24、当所述第一数量等于所述第二数量时，生成芯片测试通过的测试结果；
25、当所述第一数量大于所述第二数量时，生成芯片存在混料的测试结果；
26、当所述第一数量小于所述第二数量时，生成芯片存在漏测的测试结果。
27、可选的，所述方法还包括：
28、在晶圆级测试阶段，检测待测试芯片中是否烧录有uid；
29、当检测到所述待测试芯片中烧录有uid，则控制所述待测试芯片流入不良品中；
30、当没有检测到所述待测试芯片中烧录有uid，则为所述待测试芯片烧录uid，并在烧录uid后，将所述待测试芯片封装为芯片成品。
31、可选的，所述方法还包括：
32、获取所述待测试芯片的芯片特性；
33、根据训练完成的芯片测试模型，确定所述芯片特性对应的目标测试参数及目标测试标准；
34、根据所述目标测试参数对所述待测试芯片进行测试，并获取实际测试数据；
35、根据所述实际测试数据及所述目标测试标准生成芯片性能测试结果。
36、可选的，所述方法还包括：
37、当所述第一uid与所述第二uid一致时，控制所述当前测试的芯片成品流入不良品中。
38、本申请的第二方面提供一种芯片质量测试装置，所述装置包括：
39、第一获取模块，用于在成品级测试阶段，获取当前测试的芯片成品的第一uid；
40、uid比较模块，用于将所述第一uid与数据库表中存储的上一个测试的芯片成品的第二uid进行比较；
41、第二获取模块，用于当所述第一uid与所述第二uid不一致时，将所述第一uid存储至所述数据库表中，并获取下一个测试的芯片成品的第三uid；
42、uid去重模块，用于当芯片测试完成后，对所述数据库表中的多个uid进行去重处理；
43、结果生成模块，用于根据去重处理后的数据库表生成芯片测试结果。
44、本申请的第三方面提供一种测试设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的芯片质量测试方法的步骤。
45、本申请的第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的芯片质量测试方法的步骤。
46、本申请实施例所提供的芯片质量测试方法、装置、测试设备及存储介质，本申请在成品级测试阶段，获取当前测试的芯片成品的第一uid，通过比较当前测试的芯片成品的第一uid与上一个测试的芯片成品的第二uid，能够快速识别出uid是否发生变化，当二者不一致时，将第一uid存储至数据库表中，并获取下一个测试的芯片成品的第三uid，当芯片测试完成后，通过去重处理数据库表中的多个uid，确保了每个芯片成品都有一个唯一且准确的uid记录，能够有效减少未测试芯片和不良品芯片混入良品芯片的可能性，提高了芯片的整体质量；基于去重处理后的数据库表，自动生成芯片测试结果，避免了手动整理和分析测试数据的繁琐过程，提高了测试结果的生成速度。
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1.一种芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述对所述数据库表中的多个UID进行去重处理包括：
3.根据权利要求2所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述使用所述布隆过滤器对对应分组中的UID进行去重处理包括：
4.根据权利要求3所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述根据去重处理后的数据库表生成芯片测试结果包括：
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求5所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
7.根据权利要求6所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
8.一种芯片质量测试装置，其特征在于，所述装置包括：
9.一种测试设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任意一项所述的芯片质量测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存
...【技术特征摘要】
1.一种芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述对所述数据库表中的多个uid进行去重处理包括：
3.根据权利要求2所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述使用所述布隆过滤器对对应分组中的uid进行去重处理包括：
4.根据权利要求3所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述根据去重处理后的数据库表生成芯片测试结果包括：
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的芯片质量测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求5所述的芯片质量测...
【专利技术属性】
技术研发人员：禹乾勋，
申请(专利权)人：深圳市华力宇电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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