对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质技术方案

技术编号：42296095 阅读：8 留言：0更新日期：2024-08-14 15:46

本申请公开了一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质；涉及芯片测试领域；方法包括：响应于测试配置指令生成测试配置文件，并将测试配置文件下发至测试设备；响应于测试启动指令，根据测试配置文件，同时对批量的待测芯片进行并行测试处理；对并行测试处理进行监控，实时获取各个芯片的测试状态信息；对多个测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将第二测试状态汇总信息上传至上位机；根据第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量测试情况，并显示芯片批量测试情况；当并行测试完成，生成记录芯片批量测试情况的日志文件。能够提高批量测试芯片的测试效率和自动化程度。

全部详细技术资料下载

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试领域，尤其是一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质。

技术介绍

1、芯片测试是芯片制造中用于保证芯片质量的一个重要阶段。随着超大规模集成电路的发展，超大型芯片由于其设计的复杂性，需要更加复杂和严格的测试流程，才能生产出高品质的芯片以满足客户需求。

2、随着芯片的广泛应用，市场对于芯片的需求量也越来越大。目前，在芯片测试过程中，通常采用的是一对一的方式，即一台pc对应一个测试板，测试完之后才可以更换下一个芯片，处理下一颗芯片，尽管这样保证了测试的稳定性，但pc(上位机程序)同时只能处理对应测试板上测试的芯片，当测试批量的芯片时，还要花大量的时间来整理分析多测试板的测试日志结果；如此，测试效率较低、测试自动化程度较低，难以满足大量的芯片测试需求。

技术实现思路

1、本申请的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一。

2、本申请实施例提供了一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质，能够提高批量测试芯片的测试效率和自动化程度。

3、第一方面，本申请实施例提供了一种对芯片批量测试的方法，应用于对芯片批量测试的系统，所述系统包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片、所述中转控制器；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；

4、所述方法，包括：

5、上位机响应于输入的测试配置指令，生成测试配置文件，并将所述测试配置文件下发至测试设备；

6、所述测试设备响应于测试启动指令，根据接收到的所述测试配置文件，同时对批量的所述待测芯片进行并行测试处理；

7、所述中转控制器对所述并行测试处理进行监控，实时获取各个芯片的测试状态信息；

8、所述中转控制器和所述测试设备对多个所述测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将所述第二测试状态汇总信息上传至所述上位机；

9、所述上位机根据接收到的所述第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量测试情况，并显示所述芯片批量测试情况；

10、当对批量的所述待测芯片进行的并行测试完成，所述上位机生成记录所述芯片批量测试情况的日志文件。

11、第二方面，本申请实施例提供了一种对芯片批量测试的系统，包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片、所述中转控制器；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；所述对芯片批量测试的系统用于执行如第一方面实施例任一项所述的对芯片批量测试的方法。

12、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面实施例任意一项所述的对芯片批量测试的方法。

13、第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，所述存储介质是计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如第一方面实施例任一项所述的对芯片批量测试的方法。

14、本申请实施例包括：利用对芯片批量测试的系统进行芯片批量测试时，首先，上位机响应于输入的测试配置指令，生成测试配置文件，并将测试配置文件下发至测试设备；其次，测试设备响应于测试启动指令，根据接收到的测试配置文件，同时对批量的待测芯片进行并行测试处理；从而能够提高芯片测试效率；同时，中转控制器对并行测试处理进行监控，实时获取各个芯片的测试状态信息；中转控制器和测试设备对多个测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将第二测试状态汇总信息上传至上位机；而后，上位机根据接收到的第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量测试情况，并显示芯片批量测试情况；最后，当对批量的待测芯片进行的并行测试完成，上位机生成记录芯片批量测试情况的日志文件；自动对批量的测试情况进行统计，提高了批量测试芯片的自动化程度。即是说，本申请实施例能够对批量芯片进行并行测试并自动生成芯片批量测试情况，从而提高批量测试芯片的测试效率和自动化程度。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种对芯片批量测试的方法，其特征在于，应用于对芯片批量测试的系统，所述系统包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片；所述中转控制器连接预设数量的所述子母测试板；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；

2.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述测试设备响应于测试启动指令，根据接收到的所述测试配置文件，同时对批量的所述待测芯片进行并行测试处理，包括：

3.根据权利要求2所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述根据所述候选测试端口范围、所述目标测试对象的类型信息进行芯片类型匹配校验处理，得到校验结果，并根据所述校验结果，从所述候选测试端口范围确定目标测试端口范围，包括：

4.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述中转控制器和所述测试设备对多个所述测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将所述第二测试状态汇总信息上传至所述上位机，包括：</p>

5.根据权利要求4所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述上位机根据接收到的所述第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量测试情况，包括：

6.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，在所述测试设备响应于测试启动指令之前，所述方法还包括：

7.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述测试配置指令包括：功能包选择指令、测试计划创建指令、配置文件创建指令；所述上位机响应于输入的测试配置指令，生成测试配置文件，包括：

8.一种对芯片批量测试的系统，其特征在于，包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片、所述中转控制器；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；所述对芯片批量测试的系统用于执行如权利要求1至7任一项所述的对芯片批量测试的方法。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任意一项所述的对芯片批量测试的方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质是计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至7任一项所述的对芯片批量测试的方法。

...

【技术特征摘要】

4.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述中转控制器和所述测试设备对多个所述测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将所述第二测试状态汇总信息上传至所述上位机，包括：

5.根据权利要求4所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述上位机根据接收到的所述第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘孜，谢登煌，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人