【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，尤其是一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质。
技术介绍
1、芯片测试是芯片制造中用于保证芯片质量的一个重要阶段。随着超大规模集成电路的发展，超大型芯片由于其设计的复杂性，需要更加复杂和严格的测试流程，才能生产出高品质的芯片以满足客户需求。
2、随着芯片的广泛应用，市场对于芯片的需求量也越来越大。目前，在芯片测试过程中，通常采用的是一对一的方式，即一台pc对应一个测试板，测试完之后才可以更换下一个芯片，处理下一颗芯片，尽管这样保证了测试的稳定性，但pc(上位机程序)同时只能处理对应测试板上测试的芯片，当测试批量的芯片时，还要花大量的时间来整理分析多测试板的测试日志结果；如此，测试效率较低、测试自动化程度较低，难以满足大量的芯片测试需求。
技术实现思路
1、本申请的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
2、本申请实施例提供了一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质，能够提高批量测试芯片的测试效率和自动化程度。
3、第一方面，本申请实施例提供了一种对芯片批量测试的方法，应用于对芯片批量测试的系统，所述系统包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片、所述中转控制器；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；
4、所述方法，包括：
...【技术保护点】
1.一种对芯片批量测试的方法，其特征在于，应用于对芯片批量测试的系统，所述系统包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片；所述中转控制器连接预设数量的所述子母测试板；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；
2.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述测试设备响应于测试启动指令，根据接收到的所述测试配置文件，同时对批量的所述待测芯片进行并行测试处理，包括：
3.根据权利要求2所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述根据所述候选测试端口范围、所述目标测试对象的类型信息进行芯片类型匹配校验处理，得到校验结果，并根据所述校验结果，从所述候选测试端口范围确定目标测试端口范围，包括：
4.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述中转控制器和所述测试设备对多个所述测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将所述第二测试状态汇总信息上传至所述上位机，包括：<...
【技术特征摘要】
1.一种对芯片批量测试的方法，其特征在于，应用于对芯片批量测试的系统，所述系统包括：上位机、测试设备、子母测试板、中转控制器；其中，所述测试设备包括多个测试端口，每个所述测试端口连接一个所述子母测试板，所述子母测试板包括多个子板，每块子板上连接多个待测芯片；所述中转控制器连接预设数量的所述子母测试板；所述测试设备分别与所述上位机、所述中转控制器通信连接；
2.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述测试设备响应于测试启动指令，根据接收到的所述测试配置文件，同时对批量的所述待测芯片进行并行测试处理，包括：
3.根据权利要求2所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述根据所述候选测试端口范围、所述目标测试对象的类型信息进行芯片类型匹配校验处理，得到校验结果，并根据所述校验结果，从所述候选测试端口范围确定目标测试端口范围，包括：
4.根据权利要求1所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述中转控制器和所述测试设备对多个所述测试状态信息进行分类汇总处理，得到第二测试状态汇总信息，将所述第二测试状态汇总信息上传至所述上位机，包括：
5.根据权利要求4所述的对芯片批量测试的方法，其特征在于，所述上位机根据接收到的所述第二测试状态汇总信息进行排序处理和统计处理，得到芯片批量...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘孜，谢登煌，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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