本申请涉及芯片质量验证技术领域，特别是涉及一种差错检测机制功能验证方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于节点信息确定错误注入节点列表；根据功能控制模块接口协议构建虚拟功能控制模块接口设备模型，虚拟功能控制模块接口设备模型用于监测待测芯片中功能控制模块接口的信号情况；基于错误注入节点列表以及虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动；编译测试用例、驱动模块以及待测芯片，遍历全部的测试用例，执行错误注入测试，确定待测芯片的差错检测机制的功能状态。采用本方法能够提高功能验证平台的通用性以及验证环境的开发管理效率。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片质量验证，特别是涉及一种差错检测机制功能验证方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、随着半导体技术的发展，越来越多的功能被集成到单硅片上，形成了复杂的电子系统，称为片上系统(soc，system on chip)。片上系统往往包括单个或多个微处理器/微控制器、片上存储器、丰富的片上外设模块以及用于互联的片上功能控制模块接口系统等等。由于多时钟域、多电压域的特点以及多主设备多从设备的复杂连接，给soc功能控制模块接口的设计以及验证带来了巨大的挑战。此外，广泛的应用特别是汽车领域的应用对芯片的可靠性提出了严苛的要求。恶劣的工作环境例如辐射、器件老化都有可能导致芯片内部节点发生瞬时或永久的0/1翻转以及时序变化，从而导致芯片短暂或永久的失效。因此，需要从设计角度出发，增加差错检测机制，检测功能控制模块接口传输异常并上报给系统。端到端的通信保护例如端到端ecc是常用的传输差错检测手段。在发送端，对发送数据，发送地址以及相关控制信号进行编码，一并发送到接收端；在接收端，对接收数据，接收地址以及相关控制信号进行再编码并与接收到的编码进行比较。如果二者一致，说明传输过程无错误发生，如果不一致，说明传输过程有错误发生，需要通知系统做出对应处理。
2、目前，对于soc功能控制模块接口差错检测机制的验证，最有效的方法是基于仿真的错误注入。由于片上系统的复杂性，soc功能控制模块接口可能有多个主设备、多个从设备，主设备与从设备之间还可能存在有多个中间模块，需要对每个节点单独进行测试用例注入。
3、然而，专利技术人发现，目前的soc功能控制模块接口差错检测机制验证手段存在如下的技术问题：
4、在soc功能控制模块接口错误注入验证测试量大的基础上，存在错误注入测试的通用性差，导致应用灵活度低，验证效率差的问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高soc功能控制模块接口差错检测机制功能验证平台的通用性，提高验证环境的开发管理效率的一种差错检测机制功能验证方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种差错检测机制功能验证方法。所述方法包括：
3、一种差错检测机制功能验证方法，所述方法包括：
4、获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于所述节点信息确定错误注入节点列表；
5、根据所述功能控制模块接口协议构建虚拟功能控制模块接口设备模型，所述虚拟功能控制模块接口设备模型用于监测所述待测芯片中功能控制模块接口的信号情况；
6、基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动，所述测试用例用于执行错误注入测试，所述测试驱动用于基于所述测试用例实施功能控制模块接口访问记录以及功能控制模块接口错误注入；
7、编译所述测试用例、所述驱动模块以及所述待测芯片，遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态。
8、在其中一个实施例中，所述基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动包括：
9、获取所述待测芯片的设备信息，根据所述设备信息构建设备访问函数库，所述设备访问函数库存储有与所述设备信息关联的全部设备访问函数；
10、基于所述错误注入节点列表、所述虚拟功能控制模块接口设备模型以及所述设备访问函数库构建测试环境生成脚本，应用所述测试环境生成脚本生成所述测试用例以及所述测试驱动。
11、在其中一个实施例中，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
12、基于所述测试用例确定与所述测试用例对应的目标设备，从所述设备访问函数库中调用与所述目标设备关联的目标设备访问函数；
13、基于所述目标设备访问函数遍历访问与所述目标设备关联的信号线，所述信号线包括地址信号线、数据信号线以及控制信号线。
14、在其中一个实施例中，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
15、基于所述错误注入节点列表构建错误注入序列；
16、在错误注入序列中选取至少两个所述测试用例，对所述测试用例对应的功能控制模块接口节点进行错误注入测试，所述测试用例之间并行执行。
17、在其中一个实施例中，所述编译所述测试用例、所述驱动模块以及所述待测芯片，遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态之前，还包括：
18、基于所述虚拟功能控制模块接口设备模型确定功能控制模块接口访问过程中信号线的有效翻转情况；
19、根据所述有效翻转情况确定错误注入过程中的约束信息，所述约束信息至少包括错误注入值、错误注入位置以及错误注入数量。
20、在其中一个实施例中，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
21、在所述约束信息下将错误随机注入到所述测试用例对应的功能控制模块接口节点上。
22、第二方面，本申请还提供了一种差错检测机制功能验证装置。所述装置包括：
23、错误注入节点模块，用于获取待测芯片的功能控制模块接口协议以及节点信息，基于所述节点信息确定错误注入节点列表；
24、虚拟功能控制模块接口设备模块，用于根据所述功能控制模块接口协议构建虚拟功能控制模块接口设备模型，所述虚拟功能控制模块接口设备模型用于监测所述待测芯片中功能控制模块接口的信号情况；
25、测试用例生成模块，用于基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动，所述测试用例用于执行错误注入测试，所述测试驱动用于基于所述测试用例实施功能控制模块接口访问记录以及功能控制模块接口错误注入；
26、错误注入执行模块，用于编译所述测试用例、所述驱动模块以及所述待测芯片，遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态。
27、在其中一个实施例中，所述错误注入执行模块包括：
28、设备访问函数模块，用于获取所述待测芯片的设备信息，根据所述设备信息构建设备访问函数库，所述设备访问函数库存储有与所述设备信息关联的全部设备访问函数；
29、测试环境脚本模块，用于基于所述错误注入节点列表、所述虚拟功能控制模块接口设备模型以及所述设备访问函数库构建测试环境生成脚本，应用所述测试环境生成脚本生成所述测试用例以及所述测试驱动。
30、在其中一个实施例中，所述错误注入执行模块包括：
31、函数调用模块，用于基于所述测试用例确定与所述测试用例对应的目标设备，从所述设备本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种差错检测机制功能验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试用例覆盖所述待测芯片的所有待测功能控制模块接口节点，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，所述遍历全部的所述测试用例，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
6.一种差错检测机制功能验证装置，其特征在于，所述装置包括：
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述错误注入执行模块包括：
8.根据权利要求6至7中任一所述的装置，其特征在于，所述错误注入执行模块包括：
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。
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【技术特征摘要】
1.一种差错检测机制功能验证方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述错误注入节点列表以及所述虚拟功能控制模块接口设备模型生成测试用例以及测试驱动包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试用例覆盖所述待测芯片的所有待测功能控制模块接口节点，所述遍历全部的所述测试用例，执行所述错误注入测试，确定所述待测芯片的差错检测机制的功能状态包括：
5.根据权利要求1至4任意一项所述的方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：盛斌，徐嘉钢，顾少燃，喻志程，黄松，
申请(专利权)人：苏州旗芯微半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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