【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学设备，更具体地，涉及一种同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置。
技术介绍
1、同轴式望远镜是天文观测、激光通讯、激光测量等领域所使用的常用望远镜结构，具有高结构稳定性、高质量比，以及低光学结构复杂性带来的低制造成本等优点。但在发射探测激光时，发射的激光会被次镜的中心反射回到系统内，产生后向反射杂散光。具体地，同轴式望远镜接收光线时，外部光线经过次镜外侧边缘照射到主镜后，反射到次镜上然后进入光学系统；发射光线时则相反，内部光源发射的光线，照射到次镜后，反射到主镜上，发射到外部空间。但是在发射时，由于同轴望远镜中心有次镜的遮挡，因此发射的光束为中空光束。同时，由于同轴式的设计，如图1所示，激光在照射到次镜时，中心部分光线会直接反射回到系统内部，形成后向反射杂散光。其中，后向反射杂散光会影响光学系统探测性能、影响相机的对比度、降低探测器信噪比、影响图像识别等。因此，对后向反射杂散光的抑制技术是决定光学探测系统性能的重要因素。
2、目前，针对此类后向反射噪声的问题，有方案提出通过衍射器件将激光光束整形，使实心高斯光束转变为中空圆环光束，规避中心部分的后向反射，但仍会有部分光线能量在中心部分产生后向反射杂散光。还有方案提出通过在次镜中心的孔洞抑制激光在发射时的后向反射。但这些方法都难以设计实施，存在加工难度较大、会影响镜面的面型等缺点。
技术实现思路
1、本专利技术为克服上述现有技术所述难以抑制后向反射杂散光的缺陷，提供一种同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置。
...【技术保护点】
1.一种同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，包括主镜和次镜，所述主镜与所述次镜光轴共轴设置，其特征在于，所述次镜靠近主镜的一侧架设有一倾斜反射镜，用于将后向反射杂散光进行反射；所述倾斜反射镜的中心与所述次镜光轴共轴设置，所述倾斜反射镜的口径根据所述主镜和次镜的参数确定。
2.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的口径根据所述主镜和次镜的参数确定，其中：
3.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的反射表面镀设有高反射率薄膜。
4.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的一侧且与光轴垂直位置设置有一光阱，用于吸收由所述倾斜反射镜反射的后向反射杂散光。
5.据权利要求4所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述光阱为圆柱桶状结构，其中心设置有圆锥凸起。
6.根据权利要求4所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述光阱内部涂覆有探测激光波段相对应的高吸收率涂层。
8.根据权利要求7所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述次镜底座上靠近所述主镜的一侧架设有支架，所述倾斜反射镜的后壁粘接在所述支架上；所述支架通过第三连接杆架设于所述次镜底座上，所述第三连接杆的数量及连接方向与所述第二连接杆相同。
9.根据权利要求7所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述支架包括金属支架。
10.一种光学系统，其特征在于，包括反射镜、光学探测系统，以及如权利要求1～9任一项所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置；所述反射镜设置与所述主镜的光轴共轴，用于将由所述次镜反射的外部光线发射至所述光学探测系统的接收端，或将所述光学探测系统出射的探测激光光线反射至所述次镜。
...【技术特征摘要】
1.一种同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，包括主镜和次镜，所述主镜与所述次镜光轴共轴设置，其特征在于，所述次镜靠近主镜的一侧架设有一倾斜反射镜，用于将后向反射杂散光进行反射；所述倾斜反射镜的中心与所述次镜光轴共轴设置，所述倾斜反射镜的口径根据所述主镜和次镜的参数确定。
2.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的口径根据所述主镜和次镜的参数确定，其中：
3.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的反射表面镀设有高反射率薄膜。
4.根据权利要求1所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述倾斜反射镜的一侧且与光轴垂直位置设置有一光阱，用于吸收由所述倾斜反射镜反射的后向反射杂散光。
5.据权利要求4所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述光阱为圆柱桶状结构，其中心设置有圆锥凸起。
6.根据权利要求4所述的同轴式望远镜次镜后向反射抑制装置，其特征在于，所述光阱内部涂覆有探测激光波段相对应的高吸收率涂层。
7.根据权利要求1～6任一项所述的同轴式望远镜次镜...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩西达，周立祥，李明，林旭东，李辉，吴先霖，张才士，赵宏超，叶贤基，吴志刚，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：
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