【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
所公开的技术涉及一种用于从测试样品中去除多余材料的装置和方法。更具体地，本技术涉及一种用于从样品中自动去除多余材料的装置，该样品用于测量样品的流变特性和机械特性的仪器中。
技术介绍
1、用旋转流变仪执行的材料表征需要精确的样品体积和几何结构。特别地，聚合物熔体的测试涉及将测试样品材料形成为测试盘的一系列步骤。该材料通常以粒料的形式提供，然后将粒料加工以形成具有与测试几何结构匹配的直径的均匀测试盘。例如，测试几何结构可以具有25mm的直径，并且盘的高度可以是5.0mm或更小以匹配由测试几何结构限定的间隙。
2、形成测试盘的一种方法包括将固体聚合物粒料放置在下部几何结构上，部分地熔化粒料，将部分地熔化的粒料与测试几何结构一起压缩以形成均匀的团，并且然后手动地切割突出超过测试几何结构直径的多余材料。所得到的测试盘在尺寸上是高度可变的，并且执行该方法需要很高的技能。变化性可以产生不准确且可变的测试结果。变化性可能是许多因素的结果，诸如不一致的初始样品体积和预热时间、压缩时间速率和温度的变化。由于在执行该方法时去除材料的量、压缩间隙高度以及样品暴露于氧气的时间的变化，结果也可能发生变化。环境暴露时间尤其成问题，因为聚合物测试通常在具有受控气氛的腔室中执行。多余材料的修整需要手动操纵，因此必须打开腔室，这导致由于暴露于环境空气而导致的大气变化性和由于冷却而导致的热变化性。
技术实现思路
1、在一个方面中，一种用于从测试样品中去除多余材料的装置包括测试几何结构、修整环和致动器。测试几
2、下部几何结构可以包括下部板，并且上部几何结构可以包括上部板。这些几何结构中的一个几何结构的外径可以小于另一个几何结构的直径。
3、修整环可定位成使得当侧壁邻近下部几何结构或上部几何结构的外边缘时限定用于接纳样品材料的孔。修整环可以具有基部，该基部具有相对于旋转轴线从修整环的圆周径向向外延伸的表面。
4、致动器可被进一步配置为使修整环围绕旋转轴线旋转。该一个或多个切割边缘可以是设置在侧壁的端部处的圆形切割边缘。
5、侧壁可以包括多个孔口，并且用于包围每个孔口的侧壁的部分包括切割边缘。每个孔口可以成形为侧壁中的狭槽。每个狭槽的端部可沿着修整环的长度与相邻狭槽的端部重叠。
6、侧壁可由多个指状物限定，每个指状物从修整环的基部延伸，间隙将每个指状物与相邻指状物分开。指状物中的每个指状物具有相对于修整环的长度以锐角设置的切割边缘。指状物可由柔性材料形成。指状物中的每个指状物可以具有与修整环的基部相对设置的端部，并且指状物的位于端部处的部分可以远离旋转轴线弯曲。每个指状物可具有带锯齿轮廓的前边缘。锯齿轮廓可包括一个或多个突起部以及该一个或多个突起部。该一个或多个突起部可以包括一个或多个齿，其中齿中的一个齿的形状可以不同于齿中的另一个齿的形状。
7、在另一方面中，一种用于从测试样品中去除多余材料的方法包括在流变仪的下部几何结构和上部几何结构之间提供样品材料，其中该几何结构中的每个几何结构具有圆形边缘并且被配置为围绕旋转轴线旋转。该方法还包括提供修整环，该修整环包括侧壁、与旋转轴线重合的环轴线和至少一个切割边缘，该至少一个切割边缘沿着修整环的圆周的至少一部分以至少与下部几何结构和上部几何结构中的至少一者的直径一样大的直径设置。该方法还包括在平行于旋转轴线的方向上平移修整环，使得该一个或多个切割边缘移动经过下部几何结构和上部几何结构中的至少一者的圆形边缘，从而去除突出到修整环的圆周外部的多余样品材料。
8、该方法还可包括将热量施加到设置在下部几何结构和上部几何结构之间的样品材料，并且在下部几何结构和上部几何结构之间压缩样品材料以形成测试样品。
9、该测试样品可以是样品盘，并且下部几何结构和上部几何结构可以是圆形板。
10、该至少一个切割边缘可以是多个切割边缘，并且该方法还可以包括当这些切割边缘邻近下部几何结构和上部几何结构时使修整环围绕旋转轴线旋转。
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1.一种用于从测试样品中去除多余材料的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述下部几何结构包括下部板，并且所述上部几何结构包括上部板。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述下部几何结构和所述上部几何结构中的一者的外径小于所述下部几何结构和所述上部几何结构中的另一者的直径。
4.根据权利要求1所述的装置，其中，当所述修整环被定位成使得所述侧壁邻近所述下部几何结构或所述上部几何结构的外边缘时，限定用于接纳样品材料的孔。
5.根据权利要求1所述的装置，其中所述致动器被进一步配置为使所述修整围绕所述旋转轴线旋转。
6.根据权利要求1所述的装置，其中所述至少一个切割边缘是设置在所述侧壁的端部处的圆形切割边缘。
7.根据权利要求1所述的装置，其中所述侧壁包括多个孔口，并且其中用于包围每个孔口的所述侧壁的至少一部分包括切割边缘。
8.根据权利要求7所述的装置，其中所述孔口中的每个孔口成形为所述侧壁中的狭槽。
9.根据权利要求8所述的装置，其中每个狭槽的端部沿着所述修整环的长度与
10.根据权利要求1所述的装置，其中所述侧壁由多个指状物限定，每个指状物从所述修整环的基部延伸，其中间隙将每个指状物与相邻指状物分开，所述指状物中的每个指状物具有相对于所述修整环的长度以锐角设置的切割边缘。
11.根据权利要求10所述的装置，其中所述指状物由柔性材料形成。
12.根据权利要求10所述的装置，其中所述指状物中的每个指状物具有与所述修整环的所述基部相对设置的端部，并且其中所述指状物的位于所述端部处的部分远离所述旋转轴线弯曲。
13.根据权利要求1所述的装置，其中所述修整环具有基部，所述基部具有相对于所述旋转轴线从所述修整环的所述圆周径向向外延伸的表面。
14.根据权利要求10所述的装置，其中每个指状物具有带锯齿轮廓的前边缘。
15.根据权利要求14所述的装置，其中所述锯齿轮廓包括一个或多个突起部。
16.根据权利要求15所述的装置，其中所述一个或多个突起部包括一个或多个齿，并且其中所述齿中的一个齿的形状不同于所述齿中的另一个齿的形状。
17.一种用于从测试样品中去除多余材料的方法，所述方法包括：
18.根据权利要求17所述的方法，其中所述至少一个切割边缘是多个切割边缘，所述方法还包括当所述切割边缘与所述下部几何结构和所述上部几何结构相邻时使所述修整围绕所述旋转轴线旋转。
19.根据权利要求17所述的方法，所述方法还包括：
20.根据权利要求18所述的方法，其中所述测试样品是样品盘，并且所述下部几何结构和所述上部几何结构是圆形板。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于从测试样品中去除多余材料的装置，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其中所述下部几何结构包括下部板，并且所述上部几何结构包括上部板。
3.根据权利要求1所述的装置，其中所述下部几何结构和所述上部几何结构中的一者的外径小于所述下部几何结构和所述上部几何结构中的另一者的直径。
4.根据权利要求1所述的装置，其中，当所述修整环被定位成使得所述侧壁邻近所述下部几何结构或所述上部几何结构的外边缘时，限定用于接纳样品材料的孔。
5.根据权利要求1所述的装置，其中所述致动器被进一步配置为使所述修整围绕所述旋转轴线旋转。
6.根据权利要求1所述的装置，其中所述至少一个切割边缘是设置在所述侧壁的端部处的圆形切割边缘。
7.根据权利要求1所述的装置，其中所述侧壁包括多个孔口，并且其中用于包围每个孔口的所述侧壁的至少一部分包括切割边缘。
8.根据权利要求7所述的装置，其中所述孔口中的每个孔口成形为所述侧壁中的狭槽。
9.根据权利要求8所述的装置，其中每个狭槽的端部沿着所述修整环的长度与相邻狭槽的端部重叠。
10.根据权利要求1所述的装置，其中所述侧壁由多个指状物限定，每个指状物从所述修整环的基部延伸，其中间隙将每个指状物与相邻指状物分开，所述指状物中的每个指状物具有相对于所述修整...
【专利技术属性】
技术研发人员：R·李，P·福斯特，A·拉肖，S·蔡尔迪尔斯，
申请(专利权)人：TA仪器沃特世有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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