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灵敏式发光测量杆制造技术

技术编号:4221578 阅读:200 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
灵敏型精密测量杆包括:测量基杆、测量头、测量杆、微分测量头、电池、发光二极管。该测量杆可以用于各种场合的距离精密测量,尤其适合于点接触式的测量。如在汽轮机低压缸和相应轴承箱的装配过程中,低压缸和轴承箱的轴承孔中心线要求必须在同一直线。通常用细钢丝作出中心线的辅助线,以辅助线为基准,调节低压缸和轴承箱的位置,以保证装配精度。该测量杆可以精确、方便的测量轴承孔圆周到细钢丝的距离。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于装备制造领域的辅助工装装置,具体的说是涉及一种用来对装备制造过程中钻斜孔的辅助工装装置。技术背景在装备制造领域有时需要精确测量一条线或一个点到某处的距离,传统的方法通常是使用内径千分尺进行测量。这种测量的优点在于可以使用较简便的工具进 行很精确的测量,可以很好测量两个平面的距离或者是孔的内径。但是,当被测两处中的一处或两处为线或者点的时候,该方法存在一个很大的缺陷。因为测量头和待测点都很小,很 难靠视觉判断测量杆和测点是否接触,从而降低了测量精度。为了解决上述问题,本专利技术利用发光二极管来判断测量杆是否已经和测点接触的测量工具。从而再没有过分的增加成本的同时很好的解决了该问题。
技术实现思路
本专利技术是为 了弥补在某些情况下使用内径千分尺或测量杆时不易判断千分尺是否和测点相接触而研制的。本专利技术的技术方案是这样实现的所述的测量杆包括测量头、测量杆A、测量杆B等(根据不同情况,选择不同的测量杆,不一定是两个)、测量基杆、发光二极管、电池、微分测量头、细钢丝、测量杆、轴承箱、低 压缸、轴承箱组成,其特征是根据需要,使用不同的测量杆接驳成略小于待测长度的测量 杆;测量时使用微分测量头对测量杆的长度进行微调;当测量杆上发光二极管发光时,停止微分测量头的调节,此时即为正常测量状态,这时的读数即为测出的尺寸。需要说明的是该测量杆利用的原理是电流使二极管发光的原理,要求测量杆都 是用导体制作,待测件也必须是导体(装备制造业中的绝大部分需要精密测量的工件都是 由金属制成的。)当测量杆两端测量头和工件接触时,电池、二极管、测量杆、工件构成回路,从而使电路内有电流通过,二极管发光。附图说明图1为测量杆装配图;图2为测量杆零件图;图3为测量杆使用说明图;图4为轴承孔放大图。具体实施方式如图1、图2、图3、图4所述本专利技术是由接驳测量头1、接驳测量杆 A2、测量基杆3、发光二极管4、电池5、接驳测量杆B6、接驳微分测量杆7、细钢丝8、测量杆 9、轴承箱10、低压缸11、轴承箱12组成,其基本特征在于图1为测量杆装配图,将发光二 极管4置于测量基杆3的曹中,使二极管的两级接触良好的固定于槽的两端;将电池5置于 测量基杆3内;根据需要接驳测量杆2、6等;在测量杆的一端接驳测量头1 ;在另一端接驳 微分测量杆7。图3为该测量杆用于汽轮机中低压缸和轴承箱装配过程的说明图。低压缸11和 轴承箱10、12的装配要求是三者的中心线必须在同一条直线。现在用细钢丝8做了一条 代表中心线的辅助线。用测量杆9测量各个轴承孔的圆周到中心线的距离,然后根据结果调整低压缸、轴承箱与钢丝的相对位置,直到达到装配要求.权利要求一种精密测量工具,用于装备制造业中距离的测量。包括测量基杆、测量头、测量杆、微分测量头、电池、发光二极管。其特征是测量基杆开槽,将发光二极管置于槽内;电池亦置于槽内;根据需要将合适的测量杆接驳到测量基杆上,达到略小于待测长度的杆长;测量杆一端接驳测量头,另一端接驳微分测量头。2.根据权利要求1所述的精密测量工具,其特征在于使用不同的测量杆接驳成不同 的长度,再用微分测量头微调,其测量精度为0. 001mm。3.根据权利要求1所述的精密测量工具,其特征在于当测量杆两端和工件接触时,电 池、二极管、测量杆、工件构成回路,二极管发光,表示现在为测量状态,微分测量头读书即 为需测量尺寸。全文摘要灵敏型精密测量杆包括测量基杆、测量头、测量杆、微分测量头、电池、发光二极管。该测量杆可以用于各种场合的距离精密测量,尤其适合于点接触式的测量。如在汽轮机低压缸和相应轴承箱的装配过程中,低压缸和轴承箱的轴承孔中心线要求必须在同一直线。通常用细钢丝作出中心线的辅助线,以辅助线为基准,调节低压缸和轴承箱的位置,以保证装配精度。该测量杆可以精确、方便的测量轴承孔圆周到细钢丝的距离。文档编号G01B5/14GK101799266SQ200910219740公开日2010年8月11日 申请日期2009年11月10日 优先权日2009年11月10日专利技术者吴正杰, 唐永涛, 杨洪举 申请人:杨洪举本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种精密测量工具,用于装备制造业中距离的测量。包括测量基杆、测量头、测量杆、微分测量头、电池、发光二极管。其特征是:测量基杆开槽,将发光二极管置于槽内;电池亦置于槽内;根据需要将合适的测量杆接驳到测量基杆上,达到略小于待测长度的杆长;测量杆一端接驳测量头,另一端接驳微分测量头。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨洪举吴正杰唐永涛
申请(专利权)人:杨洪举
类型:发明
国别省市:91[中国|大连]

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