System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 掉电检测保持方法技术_技高网

掉电检测保持方法技术

技术编号:42165551 阅读:6 留言:0更新日期:2024-07-27 00:13
本发明专利技术公开一种掉电检测保持方法,其应用于掉电检测保持电路;所述掉电检测保持电路包括有掉电检测电路、超级电容组、控制电路、用于为超级电容组充电的充电电路以及用于供超级电容组放电的放电电路;超级电容组的负极端接地,充电电路和放电电路均与超级电容组的正极端连接;控制电路分别与超级电容组和放电电路连接以根据超级电容组的电压来控制超级电容组放电;所述掉电检测保持方法包括以下步骤:当掉电后,控制电路根据超级电容组的电压来控制放电电路进行放电;其发现掉电后发送通知至CPU关机,还解决超级电容放电过程因负载变轻电压被拉升的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及掉电检测保持方法,尤其是指一种掉电检测保持方法。


技术介绍

1、在某些严酷环境下的工业安全应用的防火墙设备有时需要一个功能:在设备掉电的时候,系统要保存关键数据并执行关机动作。

2、这样就需要一旦设备掉电需要保持工作几秒来给系统做出反应。因为成本的原因,不可能给客户使用电池,单几秒工作时间,使用超级电容是最合理的。

3、但电路设计完成后,在实际测试中发现产品掉电后,主电源有十几个连续的震荡,该震荡会导致设备反复的启动,可能导致产品的寿命降低。

4、造成这种现象的原因是超级电容自身的特性内阻比较大,并且超级电容非恒压或恒流源,放电过程能量一直下降,降到一定值主电源芯片关闭,负载变轻就会有一个瞬间的拉升,主电源芯片又会开启,重复循环,直到超级电容的能量不足以拉升到电源芯片阈值以上,系统才不会被重启。

5、因此,本专利技术中,申请人精心研究了一种新的技术方案来解决上述问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供一种掉电检测保持方法,其发现掉电后发送通知至cpu关机,还解决超级电容放电过程因负载变轻电压被拉升的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术采用如下之技术方案:

3、一种掉电检测保持方法,其应用于掉电检测保持电路;

4、所述掉电检测保持电路包括有超级电容组、控制电路、用于掉电时检测的掉电检测电路、用于上电时为超级电容组充电的充电电路以及用于掉电后供电给主电源芯片的放电电路;

5、超级电容组的负极端接地,充电电路和放电电路均与超级电容组的正极端连接;控制电路分别与超级电容组和放电电路连接以根据超级电容组的电压来控制超级电容组放电继而供电给主电源芯片;

6、所述掉电检测保持方法包括以下步骤:

7、当掉电后,掉电检测电路发送信号至cpu,与此同时,控制电路根据超级电容组的电压来控制放电电路进行放电继而供电给主电源芯片从而让cpu保存数据发出掉电信号正常完成关机动作。

8、作为一种优选方案,所述掉电检测电路包括有电阻r1517、电阻r1523、电阻r1524、电容c415、电阻r329以及型号为74lvc1g08的二输入与门芯片u52;

9、所述电阻r1517和电阻r1523相串联,电阻r1517的非串联节点用于连接+3.3v,电阻r1517和电阻r1523的串联节点用于连接由供电电源给出的24v_pwr_off掉电信号,电阻r1523的非串联节点连接二输入与门芯片u52的引脚1,电阻r1524的一端连接二输入与门芯片u52的引脚2,电阻r1524的另一端用于连接pd_det信号,二输入与门芯片u52的引脚3接地,二输入与门芯片u52的引脚4用于连接+3.3v且其通过电容c415接地,电阻r329的一端连接二输入与门芯片u52的引脚4,电阻r329的另一端用于连接cpu的gpio4_13引脚。

10、作为一种优选方案,所述掉电检测电路还包括有用于提供pd_det信号的信号提供电路,所述信号提供电路包括有型号为adm811sar7的芯片u54以及相串联的电阻r1516、电阻r443、电阻r448;

11、电阻r1516的非串联节点用于连接p24v电压端,电阻r443和电阻r448的串联节点连接芯片u54的引脚4,芯片u54的引脚1和电阻r448的非串联节点均接地,芯片u54的引脚2用于输出pd_det信号。

12、作为一种优选方案,所述超级电容组包括有相串联的第一超级电容ce1和第二超级电容ce2,第一超级电容ce1和第二超级电容ce2均为20f且2.7v的超级电容;

13、所述第一超级电容ce1的非串联节点为超级电容组的正极端以输出vcc5v_cap电压,所述第二超级电容ce2的非串联节点为超级电容组的负极端。

14、作为一种优选方案,所述充电电路包括有稳压二极管d43以及相串联的电阻r450、电阻r451和电阻r449;

15、电阻r450的非串联节点连接稳压二极管d43的负极,稳压二极管d43的正极用于连接vcc5v0_dcin电压,电阻r450和电阻r451的串联节点连接第一超级电容ce1的非串联节点;

16、电阻r451和电阻r449的串联节点连接第一超级电容ce1和第二超级电容ce2的串联节点,第二超级电容ce2的非串联节点和电阻r449的非串联节点均接地。

17、作为一种优选方案,所述放电电路包括有电阻r1514、电阻r1515、电容c420、电阻r1519、稳压二极管d44、稳压二极管d42、极性电容c421、电容c422、型号为cjq4407的芯片q57和型号为2n7002k的芯片q55;

18、电阻r1514和电阻r1515串联,电阻r1514的非串联节点连接vcc5v_cap电压,电阻r1515的非串联节点连接芯片q55的引脚3,芯片q55的引脚2接地,芯片q55的引脚1连接电阻r1519的一端,电阻r1519的另一端用于连接cap_en控制信号;

19、电容c420并联于电阻r1514的两端,芯片q57的引脚1至引脚3共同用于连接vcc5v_cap电压,电阻r1514和电阻r1515的串联节点;

20、芯片q57的引脚5至引脚8共同连接稳压二极管d42的正极,稳压二极管d44的正极用于连接vcc5v0_dcin电压,稳压二极管d42和稳压二极管d44两者的负极共同连接极性电容c421的正极,极性电容c421的正极用于连接vcc5v0_sys电压,极性电容c421的负极接地,电容c422与极性电容c421并联。

21、作为一种优选方案,所述控制电路用于输出cap_en控制信号,其包括有电压基准芯片u1、三极管q1、电阻r5、电阻r6、相串联的电阻r1和电阻r2、相串联的电阻r3和电阻r4;

22、电阻r1的非串联节点连接vcc5v_cap电压,电阻r2的非串联节点接地,电阻r1和电阻r2的串联节点连接电压基准芯片u1的引脚2,电压基准芯片u1的引脚2通过电阻r5连接三极管q1的集电极,电压基准芯片u1的引脚3接地;

23、电阻r3的非串联节点连接vcc5v_cap电压,电阻r4的非串联节点连接电压基准芯片u1的引脚1,电阻r3和电阻r4的串联节点连接三极管q1的基极,三极管q1的发射极连接vcc5v_cap电压;

24、三极管q1的集电极用于输出cap_en控制信号,三极管q1的集电极通过电阻r9接地。

25、本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,由上述技术方案可知:其主要是掉电检测电路,发现掉电后发送通知至cpu关机,尤其是,控制电路分别与超级电容组和放电电路连接以根据超级电容组的电压来控制超级电容组放电,进而解决超级电容在放电过程由于一直放电导致负载变轻继而供给主电源芯片的电压被拉升的问题。

26本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种掉电检测保持方法,其特征在于:其应用于掉电检测保持电路;

2.根据权利要求1所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述掉电检测电路包括有电阻R1517、电阻R1523、电阻R1524、电容C415、电阻R329以及型号为74LVC1G08的二输入与门芯片U52;

3.根据权利要求2所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述掉电检测电路还包括有用于提供PD_DET信号的信号提供电路,所述信号提供电路包括有型号为ADM811SAR7的芯片U54以及相串联的电阻R1516、电阻R443、电阻R448;

4.根据权利要求1所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述超级电容组包括有相串联的第一超级电容CE1和第二超级电容CE2,第一超级电容CE1和第二超级电容CE2均为20F且2.7V的超级电容;

5.根据权利要求4所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述充电电路包括有稳压二极管D43以及相串联的电阻R450、电阻R451和电阻R449;

6.根据权利要求4所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述放电电路包括有电阻R1514、电阻R1515、电容C420、电阻R1519、稳压二极管D44、稳压二极管D42、极性电容C421、电容C422、型号为CJQ4407的芯片Q57和型号为2N7002K的芯片Q55;

7.根据权利要求3所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述控制电路用于输出CAP_EN控制信号,其包括有电压基准芯片U1、三极管Q1、电阻R5、电阻R6、相串联的电阻R1和电阻R2、相串联的电阻R3和电阻R4;

...

【技术特征摘要】

1.一种掉电检测保持方法,其特征在于:其应用于掉电检测保持电路;

2.根据权利要求1所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述掉电检测电路包括有电阻r1517、电阻r1523、电阻r1524、电容c415、电阻r329以及型号为74lvc1g08的二输入与门芯片u52;

3.根据权利要求2所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述掉电检测电路还包括有用于提供pd_det信号的信号提供电路,所述信号提供电路包括有型号为adm811sar7的芯片u54以及相串联的电阻r1516、电阻r443、电阻r448;

4.根据权利要求1所述的掉电检测保持方法,其特征在于:所述超级电容组包括有相串联的第一超级电容ce1和第二超级电容ce2,第一超级电容ce1和第二超级电容ce...

【专利技术属性】
技术研发人员:高建华张慰天陈书生
申请(专利权)人:北京华电众信技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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