【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于测试轮胎的设备和方法。
技术介绍
1、翻新轮胎的使用已经变得越来越普遍，所述翻新轮胎是在损坏的轮胎(即在内衬层中具有诸如孔、裂纹或凹凸的缺陷的轮胎)所经受的翻新处理结束时获得的。然而，在执行翻新处理之前，以可靠的方式识别轮胎中、尤其是胎体上存在的所有缺陷并对其进行修复是极其重要的。即使对胎体的视觉或机械检查是相对准确的，但经常发生一些缺陷无法被识别；这些缺陷于是可能在翻新处理期间或在道路上使用翻新轮胎期间引发问题，导致轮胎故障、安全性问题和车辆停止。
2、为此，已知如下的轮胎测试设备，其中测试轮胎具有环状胎体，该环状胎体在内侧限定腔并支撑配置在胎体外侧的一对侧壁。所述设备通常包括：借助于连接有多个线环的至少一个板而获得的探测器，该线环被设计成在胎体的腔的表面轮廓上滑动并且由导电材料制成；扩展体，该扩展体旨在加宽胎体以使探测器进入腔附近；至少一个辊，该辊被设计成支撑轮胎并使轮胎围绕中心轴线旋转并且由导电材料制成；最后还包括高电压测试系统，该高电压测试系统适于检测胎体中缺陷的存在并且包括由探测器和辊限定的一对电极。
3、在使用中，使辊旋转，使得轮胎围绕其中心轴线旋转。当轮胎旋转时，探测器在内腔的表面上滑动，并且同时由供电电源供应高电压脉冲，从而在探测器周围产生电场。在胎体没有缺陷(内衬层中的孔、裂纹或凹凸等)的情况下，胎体在两个电极之间提供绝缘。相反，在胎体有缺陷的情况下，不确保两个电极之间的绝缘，并且通过控制单元检测到缺陷。
4、然而，迄今为止所描述的轮胎的设备存在一些缺点。特
技术实现思路
1、因此，本专利技术的目的是提供可靠的用于测试轮胎的设备，该设备不受现有技术的缺点的影响，并且特别地制造起来容易且经济。
2、本专利技术的另一个目的是提供用于测试轮胎的方法，该方法不受现有技术的缺点影响，并且特别地实施起来容易且经济。
3、根据本专利技术，提供了根据所附权利要求的用于测试轮胎的设备和方法。
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1.一种用于测试轮胎(2)的设备，所述轮胎(2)具有第一中心轴线(X)并且具有环状胎体(3)，所述环状胎体(3)在内部限定腔(16)并支撑被配置在所述胎体(3)的外侧的一对侧壁(4)；所述设备(1)包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径的范围为68厘米至240厘米；优选地，所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径等于103厘米。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述外表面(11)的表面电阻率包括在10*e3至10*e6Ω/sq cm的范围内。
4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述涂层(10)的厚度小于或等于15mm，优选地范围为4mm至15mm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述链甲部(29)的长度(L)为至少3cm；优选地，所述链甲部(29)的长度(L)的范围为8cm至15cm。
6.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中在所述胎体(3)的内侧配置有内衬层；并且所述链甲部(29)沿着纵向覆盖至少3cm的所述内衬层表面，优选地，所述链甲部(29)
7.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述结构体(17)包括中央销(18)和第二可移动块(22)，所述中央销(18)具有第二轴线(X18)并且在其一端刚性地连接到第一固定块(19)，所述第二可移动块(22)连接到所述销(18)并且沿着所述销(18)在提升位置和测试位置之间自由滑动，在所述提升位置中，距所述第一块(19)的距离最大并且在横向于所述第二轴线(X18)的方向上占据的空间最小，在所述测试位置中，距所述第一块(19)的距离最小并且在横向于所述第二轴线(X18)的方向上占据的空间最大。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一块设置有被设计成在所述内腔(16)的轮廓上滑动的第一引导辊(20)。
9.根据权利要求7或8所述的设备，其中所述结构体(17)包括连接到所述第一块(19)和所述第二块(22)两者的至少一个铰接臂(21A、21B)。
10.根据权利要求9所述的设备，其中所述结构体(17)包括一对铰接臂(21A、21B)，所述铰接臂相对于所述第二轴线(X18)以镜像方式配置并且连接到所述第一块(19)和所述第二块(22)两者。
11.根据权利要求10所述的设备，其中借助于相应的第一杆(23A、23B)获得各铰接臂(21A、21B)，所述第一杆借助于相应的第一铰接销(24A、24B)在第一端处铰接到所述第二块(22)的相应端。
12.根据权利要求11所述的设备，其中在第二端处连接的各第一杆(23A、23B)承载适合于在所述内腔(16)的表面上滑动的相应的第二引导辊(25A、25B)。
13.根据权利要求11或13所述的设备，其中借助于相应的第二杆(26A、26B)获得各铰接臂(21A、21B)，所述第二杆在第一端处借助于相应的第二铰接销(27A、27B)铰接到所述第一固定块(19)的相应附加物，并且在第二端处借助于相应的第三铰接销(28A、28B)连接到相应的第一杆(23A9、23B)的第二端。
14.根据权利要求11至13中任一项所述的设备，其中所述铰接销(24A、24B、27A、27B、28A、28B)的轴线彼此平行并且正交于所述第二轴线(X18)。
15.根据权利要求11至14中任一项所述的设备，其中所述链甲部(29)优选地在所述第三铰接销(28A、28B)的区域中连接到所述第一杆(23A、23B)。
16.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，在使用时，所述辊(6)与所述结构体(17)的轴线(X18)对准。
17.根据权利要求1至15中任一项所述的设备，其中，在使用时，所述辊(6)和所述结构体(17)不对准；特别地，所述辊(6)和所述结构体(17)以形成范围为0°至30°的角度(α)的方式配置。
18.一种用于测试轮胎(2)的方法，所述方法使用根据权利要求1至17中任一项来实现的设备并且包括：
19.根据权利要求18的方法，其中所述制备步骤不包括加宽所述胎体(3)以将所述探测器(13)插入到所述内腔(16)中的子步骤。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于测试轮胎(2)的设备，所述轮胎(2)具有第一中心轴线(x)并且具有环状胎体(3)，所述环状胎体(3)在内部限定腔(16)并支撑被配置在所述胎体(3)的外侧的一对侧壁(4)；所述设备(1)包括：
2.根据权利要求1所述的设备，其中所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径的范围为68厘米至240厘米；优选地，所述外表面(11)的凹形轮廓的弯曲半径等于103厘米。
3.根据权利要求1或2所述的设备，其中所述外表面(11)的表面电阻率包括在10*e3至10*e6ω/sq cm的范围内。
4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述涂层(10)的厚度小于或等于15mm，优选地范围为4mm至15mm。
5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述链甲部(29)的长度(l)为至少3cm；优选地，所述链甲部(29)的长度(l)的范围为8cm至15cm。
6.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中在所述胎体(3)的内侧配置有内衬层；并且所述链甲部(29)沿着纵向覆盖至少3cm的所述内衬层表面，优选地，所述链甲部(29)沿着纵向覆盖8cm至15cm的所述内衬层表面。
7.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述结构体(17)包括中央销(18)和第二可移动块(22)，所述中央销(18)具有第二轴线(x18)并且在其一端刚性地连接到第一固定块(19)，所述第二可移动块(22)连接到所述销(18)并且沿着所述销(18)在提升位置和测试位置之间自由滑动，在所述提升位置中，距所述第一块(19)的距离最大并且在横向于所述第二轴线(x18)的方向上占据的空间最小，在所述测试位置中，距所述第一块(19)的距离最小并且在横向于所述第二轴线(x18)的方向上占据的空间最大。
8.根据权利要求7所述的设备，其中所述第一块设置有被设计成在所述内腔(16)的轮廓上滑动的第一引导辊(20)。
9.根据权利要求7或8所述的设备，其中所述结构体(17)包括连接到所述第一块(19)和所述第二块(22)两者的至少一个铰接臂(21a、21b)。
【专利技术属性】
技术研发人员：B·文森特，
申请(专利权)人：普利司通欧洲有限公司，
类型：发明
国别省市：
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