【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种基于指数分布的自适应单像素采样方法，属于计算成像和光学工程领域。
技术介绍
1、单像素成像采样方法是计算成像的一个重要研究方向，其目的是通过特定的采样方法提高单像素成像效率和质量；单像素成像采样方法在散射成像、非视域成像、瞬态成像等领域有着广泛的应用；单像素成像采样方法主要是研究采用什么样的方法来采集重建图像的频谱信息，以此提高成像质量。傅里叶单像素采样大致流程为先设定采样比率，然后根据采样比率确定采样路径，按照采样路径加载单像素调制模版，最后得到采样频谱。
2、虽然已有的多种算法提高了采样效果和单像素重建质量，但因在单像素采样过程中采用固定路径或固定的采样概率密度函数，忽略了对不同场景中的频谱特性适应，导致已有方法的采样效果受限，并且存在采样频谱信息质量不高，最终成像质量差的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提出一种基于指数分布的单像素成像采样方法，其可以在低采样率或不完全采样的情况下，高效地对重建图像的频谱信息进行采样。
2、本专利技术通过在单像素成像采样过程中，根据自然图像的频谱特性设定采样区域，在每个区域中设定不同概率采样密度函数，按照傅里叶单像素低频完全采样、中频变密度采样、高频均匀随机采样策略，解决了已有方法中忽略了图像频谱特性的问题，大幅提升单像素重建图像质量。
3、本专利技术的一种基于指数分布的自适应单像素成像采样方法包括以下内容：
4、1.根据重建图像大小和各采样区域面积公式s1＝2s3，
5、2.根据低频区域s1、中频区域s2和高频区域s3的采样面积，计算出各区域的采样半径r1,r2和r3。
6、3.完成低频区域s1的采样，根据低频区域s1频谱分布特点，确定中频区域s2的自适应采样参数θ，开始中频区域s2采样。
7、4.完成低频区域s1的采样，根据低频区域s1频谱分布特点，确定中频区域s2的自适应采样参数θ，开始中频区域s2采样。
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1.一种基于指数分布的自适应单像素采样方法，可以在低采样率或不完全采样的情况下，高效地对重建图像的频谱信息进行采样，其特征在于提出了一套基于指数分布的自适应单像素采样方法，其特征主要包含如下步骤：
【技术特征摘要】
1.一种基于指数分布的自适应单像素采样方法，可以在低采样率或不完全采样的情况下，高效地对重建图像的...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕顺，刘怡光，陈杰，郑豫楠，杨磊，史雪蕾，
申请(专利权)人：四川大学，
类型：发明
国别省市：
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