【技术实现步骤摘要】
本申请涉及玻璃测试，尤其涉及一种有色玻璃材料内透过率的测量方法。
技术介绍
1、有色玻璃材料是滤光片等光学零件的重要组成部分，光谱透过率是有色玻璃材料的关键指标之一。当前一般采用分光光度计测量一定厚度的有色玻璃材料的光谱透过率，但该测试结果属于外透过率，没有考虑有色玻璃材料两侧的反射率，以及内部的光学吸收作用。然而，在一些设计领域，比如吸收型光学滤光片设计，需要获得有色玻璃的内透过率。
2、当前获取有色玻璃的内透过率的一般方法为，在分光光度计测量的外透过率基础上，乘以一个反射损失系数：；其中，。业内通常取，即587.6nm对应的折射率。显然，这种做法，没有考虑折射率随波长变化的问题，而采用了一个定值，此外，反射损失系数本身，也经过了近似，这种方法得到的内透过率，在整个光谱范围中，误差较大。
3、另一种方法是，是gb 7962.12-2010 提出的，从同一光源发出的两束光通量相同的单色平行光，分别垂直入射到表面状态和内部材料特性完全相同而厚度不同的两块样品时，出射光通量之比，被认为是厚度相当于被测样品厚度差的样品的光谱内透射比。这种方法，一方面需要制备两块厚度不同的样品，导致测量成本和准备工作复杂度增加，另一方面，虽然两块样品来自同一材料，但测量结果的准确性与两块样品表面磨削抛光的工艺质量关联较大，需要保证两块样品的表面粗糙度完全相同，对工艺要求较高。
4、现有的有色玻璃材料内透过率测量方法存在误差大或工艺要求较高的问题。
技术实现思路
1、本申
2、本申请提供了一种有色玻璃材料内透过率的测量方法，包括：
3、将待测有色玻璃材料制备为具有目标厚度、目标形状的待测样品，并对所述待测样品的两侧表面进行抛光处理，得到目标待测样品；
4、通过分光光度计、样品台及光电探测器获取目标波段内所述目标待测样品的外透过率；
5、将所述分光光度计切换为反射率测试模式，并通过所述分光光度计、所述样品台及所述光电探测器获取所述目标波段内所述目标待测样品的反射率；
6、通过所述外透过率及所述反射率根据第一公式获取所述目标待测样品的内透过率。
7、可选地，所述通过分光光度计、样品台及光电探测器获取目标波段内所述目标待测样品的外透过率包括：
8、标定所述分光光度计的基线；
9、将所述目标待测样品放置于样品台中央，所述样品台角度为0°，令入射光0°角正入射到所述目标待测样品表面；
10、将光电探测器的角度位置设置于所述分光光度计的180°处；
11、控制所述分光光度计扫描所述目标待测样品，扫描波长范围为所述目标波段的范围，步进为1nm，结合所述基线获取所述目标待测样品在所述目标波段的外透过率。
12、可选地，所述将所述分光光度计切换为反射率测试模式，并通过所述分光光度计、所述样品台及所述光电探测器获取所述目标波段内所述目标待测样品的反射率包括：
13、控制样品台，将所述目标待测样品的角度旋转至角度，将所述光电探测器旋转至角度2；
14、控制所述分光光度计扫描所述目标待测样品，扫描波长范围为所述目标波段的范围，步进为1nm，结合标定基线获取所述目标待测样品在所述目标波段的反射率。
15、可选地，在所述通过所述外透过率及所述反射率根据第一公式获取所述目标待测样品的内透过率之后，所述测量方法还包括：
16、通过所述目标厚度及所述目标待测样品的内透过率根据第二公式获取任意厚度的待测有色玻璃材料的内透过率。
17、可选地，所述第二公式为：
18、；
19、其中，为任意厚度的待测样品的内透过率，为厚度为d的目标待测样品的内透过率。
20、可选地，所述第一公式为：
21、；
22、其中，为所述目标待测样品的内透过率，为所述目标待测样品的反射率，为所述目标待测样品的外透过率。
23、可选地，所述目标厚度为1mm至5mm。
24、可选地，所述目标形状为方形平板，边长为30mm至50mm，或，所述目标形状为圆形平板，直径为30mm至50mm。
25、可选地，所述抛光处理后的目标待测样品的表面粗糙度为0.012。
26、可选地，所述目标波段为380nm至780nm。
27、可选地，所述目标待测样品的角度旋转至角度，α为5°~8°
28、从以上技术方案可以看出，本申请具有以下优点：通过对同一块样品的外透过率、反射率进行测量，并通过外透过率及反射率根据第一公式即可获取目标待测样品的内透过率，不需要使用两块表面粗糙度完全相同样品进行测量，降低了工艺要求，而且外透过率和反射率均通过实际测量所得，不需要通过近似的方法得到参数，提高了内透过率的测量精度。
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1.一种有色玻璃材料内透过率的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述通过分光光度计、样品台及光电探测器获取目标波段内所述目标待测样品的外透过率包括：
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述将所述分光光度计切换为反射率测试模式，并通过所述分光光度计、所述样品台及所述光电探测器获取所述目标波段内所述目标待测样品的反射率包括：
4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在所述通过所述外透过率及所述反射率根据第一公式获取所述目标待测样品的内透过率之后，所述测量方法还包括：
5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述第二公式为：
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述第一公式为：
7.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述目标厚度为1mm至5mm。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述目标形状为方形平板，边长为30mm至50mm，或，所述目标形状为圆形平板，直径
9.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述抛光处理后的目标待测样品的表面粗糙度为0.012。
10.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述目标波段为380nm至780nm。
11.根据权利要求1至5中任一项所述的测量方法，其特征在于，所述目标待测样品的角度旋转至角度，α为5°~8°。
...【技术特征摘要】
1.一种有色玻璃材料内透过率的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述通过分光光度计、样品台及光电探测器获取目标波段内所述目标待测样品的外透过率包括：
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述将所述分光光度计切换为反射率测试模式，并通过所述分光光度计、所述样品台及所述光电探测器获取所述目标波段内所述目标待测样品的反射率包括：
4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，在所述通过所述外透过率及所述反射率根据第一公式获取所述目标待测样品的内透过率之后，所述测量方法还包括：
5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述第二公式为：
6.根据权利要求1至5中任...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱晓非，周梦华，翟爽，杨硕，张滨，
申请(专利权)人：深圳精智达技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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