【技术实现步骤摘要】
本技术涉及探针卡，具体是一种用于芯片测试用的悬臂探针卡。
技术介绍
1、探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试，探针卡是在检测设备与集成电路芯片之间的一种连接介子，半导体测试行业所用的探针卡的基本结构是将探针的一端通过比如焊接的方式，固定在电路板(pcb)上，通过使用探针主体触碰芯片引出信号，达到检测的作用。
2、现有的悬臂探针卡在使用时，无法对探针进行调节，当测试芯片的尺寸不同时，无法很好的使探针与芯片进行接触，导致无法对芯片进行检测，使用较为不便，为此，我们提供了一种用于芯片测试用的悬臂探针卡解决以上问题。
技术实现思路
1、解决的技术问题
2、本技术的目的就是为了弥补现有技术的不足，提供了一种用于芯片测试用的悬臂探针卡。
3、技术方案
4、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板，所述电路板的顶端通过螺栓连接有安装板，所述电路板的左右两侧固定连接有装配座，且装配座的内侧通过转轴连接有探针，且探针呈相互对称设置，所述探针的顶部设有导线，且导线的另一端与电路板的内壁固定连接，所述装配座的内部活动连接有调节机构，且调节机构位于探针的上侧，所述安装板的内部活动连接有导向环，且导向环的底端固定连接有定位机构。
5、上述的，所述调节机构包括推动板、连接板、连杆一、连杆二和调节杆，所述连杆一和连杆二分别活动连接于连接板的两端，所述连接
6、上述的，所述装配座的内部开设有调节槽，所述推动板的前端穿过调节槽并活动连接于调节槽的内部，所述调节杆位于推动板的底部，且调节杆的前端穿过装配座的内壁并与装配座通过螺纹活动连接。
7、上述的，所述推动板位于探针的正上方，所述连接板的底端通过连杆二活动连接于探针的内部，且连杆二位于探针的上侧。
8、上述的，所述定位机构包括支撑块、连接弹簧、卡块和定位垫板，所述定位垫板活动连接于支撑块的底部，所述支撑块的两端内壁开设有容纳槽，所述连接弹簧位于容纳槽的内壁，且连接弹簧的一端固定连接于容纳槽的内壁，所述卡块固定连接于连接弹簧的另一端，且定位垫板的两端活动连接于卡块的外部。
9、上述的，所述支撑块的顶端固定连接于导向环的底端，且支撑块位于导向环的两侧，所述支撑块和定位垫板之间设置有定位槽，且探针的分别活动连接于定位槽的内部，所述定位垫板的两端内壁开设有卡槽，所述卡块与卡槽相适配，且卡块分别位于卡槽的内部。
10、上述的，所述导向环的顶端固定连接有限位弹簧，所述限位弹簧的顶端固定连接有压力感应装置，且压力感应装置固定连接于安装板的内壁。
11、有益效果：
12、与现有技术相比，该一种用于芯片测试用的悬臂探针卡具备如下有益效果：
13、一、本技术通过设置的定位机构，通过转动调节杆带动推动板进行前后移动，通过对推动板的水平位置进行调整，使探针进行轻微转动，从而对探针的角度进行调整，使探针能更好的与芯片接触，从而保证探针与芯片检测的结果。
14、二、本技术通过设置的定位机构，通过支撑块两端设置的卡块，使连接弹簧向外推动卡块，使卡块分别插入定位垫板两端的卡槽内，从而将探针固定在支撑块与定位垫板之间的定位槽内，并通过限位弹簧推动向下推动导向环，方便调整探针与芯片之间的高度，使探针与芯片接触更贴合，保证探针的检测结果。
15、本技术的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本技术的实践中得到教导。
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1.一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板(1)，其特征在于：所述电路板(1)的顶端通过螺栓连接有安装板(2)，所述电路板(1)的左右两侧固定连接有装配座(3)，且装配座(3)的内侧通过转轴连接有探针(4)，且探针(4)呈相互对称设置，所述探针(4)的顶部设有导线(5)，且导线(5)的另一端与电路板(1)的内壁固定连接，所述装配座(3)的内部活动连接有调节机构(6)，且调节机构(6)位于探针(4)的上侧，所述安装板(2)的内部活动连接有导向环(7)，且导向环(7)的底端固定连接有定位机构(8)。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述调节机构(6)包括推动板(601)、连接板(602)、连杆一(603)、连杆二(604)和调节杆(605)，所述连杆一(603)和连杆二(604)分别活动连接于连接板(602)的两端，所述连接板(602)位于推动板(601)的两侧，所述连接板(602)的顶端通过连杆一(603)与推动板(601)活动连接，且连杆一(603)位于推动板(601)的前端，所述调节杆(605)的后端活动连接于推动板(601)
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述装配座(3)的内部开设有调节槽(9)，所述推动板(601)的前端穿过调节槽(9)并活动连接于调节槽(9)的内部，所述调节杆(605)位于推动板(601)的底部，且调节杆(605)的前端穿过装配座(3)的内壁并与装配座(3)通过螺纹活动连接。
4.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述推动板(601)位于探针(4)的正上方，所述连接板(602)的底端通过连杆二(604)活动连接于探针(4)的内部，且连杆二(604)位于探针(4)的上侧。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述定位机构(8)包括支撑块(801)、连接弹簧(802)、卡块(803)和定位垫板(804)，所述定位垫板(804)活动连接于支撑块(801)的底部，所述支撑块(801)的两端内壁开设有容纳槽(10)，所述连接弹簧(802)位于容纳槽(10)的内壁，且连接弹簧(802)的一端固定连接于容纳槽(10)的内壁，所述卡块(803)固定连接于连接弹簧(802)的另一端，且定位垫板(804)的两端活动连接于卡块(803)的外部。
6.根据权利要求5所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述支撑块(801)的顶端固定连接于导向环(7)的底端，且支撑块(801)位于导向环(7)的两侧，所述支撑块(801)和定位垫板(804)之间设置有定位槽(11)，且探针(4)的分别活动连接于定位槽(11)的内部，所述定位垫板(804)的两端内壁开设有卡槽(12)，所述卡块(803)与卡槽(12)相适配，且卡块(803)分别位于卡槽(12)的内部。
7.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述导向环(7)的顶端固定连接有限位弹簧(13)，所述限位弹簧(13)的顶端固定连接有压力感应装置(14)，且压力感应装置(14)固定连接于安装板(2)的内壁。
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，包括电路板(1)，其特征在于：所述电路板(1)的顶端通过螺栓连接有安装板(2)，所述电路板(1)的左右两侧固定连接有装配座(3)，且装配座(3)的内侧通过转轴连接有探针(4)，且探针(4)呈相互对称设置，所述探针(4)的顶部设有导线(5)，且导线(5)的另一端与电路板(1)的内壁固定连接，所述装配座(3)的内部活动连接有调节机构(6)，且调节机构(6)位于探针(4)的上侧，所述安装板(2)的内部活动连接有导向环(7)，且导向环(7)的底端固定连接有定位机构(8)。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述调节机构(6)包括推动板(601)、连接板(602)、连杆一(603)、连杆二(604)和调节杆(605)，所述连杆一(603)和连杆二(604)分别活动连接于连接板(602)的两端，所述连接板(602)位于推动板(601)的两侧，所述连接板(602)的顶端通过连杆一(603)与推动板(601)活动连接，且连杆一(603)位于推动板(601)的前端，所述调节杆(605)的后端活动连接于推动板(601)的内部。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片测试用的悬臂探针卡，其特征在于：所述装配座(3)的内部开设有调节槽(9)，所述推动板(601)的前端穿过调节槽(9)并活动连接于调节槽(9)的内部，所述调节杆(605)位于推动板(601)的底部，且调节杆(605)的前端穿过装配座(3)的内壁并与装配座(3)通过螺纹活动连接。
4.根据权利要求2所述的一种用于...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙波波，
申请(专利权)人：江苏鹏利芝达恩半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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