测试板卡及测试系统技术方案

技术编号:42123124 阅读:20 留言:0更新日期:2024-07-25 00:40
本技术公开一种测试板卡及测试系统,测试板卡包括基板和设置于基板上的测试服务通信接口、微控制器和测试信号激励/采集接口,测试板卡进行测试时,测试服务通信接口接收外部启动测试信号传输至微控制器,微控制器响应外部启动测试信号产生第一测试控制信号后,通过测试信号激励/采集接口向外输出第一测试控制信号;进而通过接收不同的外部启动测试信号,微控制器产生不同的第一测试控制信号并通过测试信号激励/采集接口向外输出至待测设备,解决了对待测设备中的不同测试对象进行测试时,需要进行大量的接线拆线以接入对应的激励源或测试设备,导致的测试效率低、测试结果一致性差的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及器件测试,尤其是涉及一种测试板卡及测试系统


技术介绍

1、电子器件的可靠性和稳定性通常需要进行多个功能模块的一次或多次测试,相关技术中,在对电子器件上的测试对象(包括电子器件上的硬件模块或运行在电子器件上的软件模块)进行测试时,针对不同的测试对象往往需要对应接入不同的激励源、测量设备等,这造成了整个测试过程需要频繁的进行接线拆线,进而导致测试效率低,并且由于大量手动操作容易带来的测试误差等问题。

2、因此,如何解决相关技术中对电子设备进行测试时,测试接线繁琐、由于大量手动接线造成测试误差大技术问题,成为本领域技术人员需要解决的技术难题。


技术实现思路

1、本技术实施例提出一种测试板卡及测试系统,用以解决相关技术中对电子设备上的测试对象进行测试时,测试接线繁琐导致的测试效率低,且由于大量手动接线造成测试误差大技术问题。

2、第一方面,本技术的一个实施例提供了一种测试板卡,包括:

3、基板;

4、测试服务通信接口,设置于所述基板上,用于接收外部启动测试信号;

5、微控制器,设置于所述基板上,与所述测试服务通信接口连接,用于响应所述外部启动测试信号并输出第一测试控制信号;

6、测试信号激励/采集接口,设置于所述基板上,与所述微控制器连接,用于向外输出所述第一测试控制信号。

7、本技术实施例的测试板卡至少具有如下有益效果:

8、本技术实施例中一种测试板卡,其包括有基板和设置于基板上的测试服务通信接口、微控制器和测试信号激励/采集接口,微控制器分别与测试服务通信接口、测试信号激励/采集接口连接,在使用测试板卡进行测试时,测试服务通信接口接收外部启动测试信号传输至微控制器,微控制器响应外部启动测试信号产生第一测试控制信号后,通过测试信号激励/采集接口向外输出第一测试控制信号;进而通过接收不同的外部启动测试信号,微控制器产生不同的第一测试控制信号并通过测试信号激励/采集接口向外输出至待测设备,解决了相关技术中在对待测设备中的不同测试对象进行测试时,需要进行大量的接线拆线以接入对应的激励源或测试设备,导致的测试效率低、测试结果一致性差的技术问题,提供了一种高效的、测试结果一致性高的测试板卡。

9、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试信号激励/采集接口还用于采集第二测试控制信号,并将所述第二测试控制信号传输至所述微控制器;

10、所述微控制器响应于所述第二测试控制信号产生测试数据信息后,所述测试服务通信接口将所述测试数据信息向外传输。

11、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试板卡还包括辅助测试组件;

12、所述辅助测试组件设置于所述基板上,与所述微控制器连接;

13、所述微控制器根据所述第一测试控制信号或所述第二测试控制信号控制所述辅助测试组件的工作状态。

14、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试服务通信接口包括jtag接口、swd接口中的一种或多种,所述微控制器中对应集成设置有jtag模块、swd模块的一种或多种;

15、所述jtag接口、所述swd接口中的一种或多种设置于所述基板的第一侧。

16、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试信号激励/采集接口包括spi接口、can接口、i2c接口、pwm接口、uart接口、analog接口中的一种或多种,所述微控制器中对应集成设置有sip模块、can模块、i2c模块、pwm模块、uart模块、analog模块中的一种或多种;

17、所述spi接口、所述can接口、所述i2c接口、所述pwm接口、所述uart接口、所述analog接口中的一种或多种设置在所述基板的第二侧。

18、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试板卡还包括电磁屏蔽膜;

19、所述微控制器通过连接线路分别与所述测试服务通信接口、所述测试信号激励/采集接口连接,所述连接线路在所述基板上所处区域覆盖设置有所述电磁屏蔽膜。

20、根据本技术的另一些实施例的测试板卡,所述测试板卡还包括结构增强组件;

21、对应于所述测试服务通信接口处于所述基板的区域、对应于所述微控制器处于所述基板的区域、对应所述测试信号激励/采集接口处于所述基板的区域中的至少一处或多处设置有所述结构增强组件。

22、第二方面,本使用新型实施例提供了一种测试系统,其包括测试服务器、待测设备以及如上所述的测试板卡;

23、所述测试服务器与所述测试板卡上的测试服务通信接口连接;所述待测设备与所述测试板卡上的测试信号激励/采集接口连接;所述测试服务器与所述待测设备连接;

24、其中,所述测试服务器向所述测试板卡发送第一启动测试信号,以使得所述测试板卡向所述待测设备发送第一测试控制信号,所述测试服务器读取所述待测设备响应于所述第一测试控制信号产生的第一测试数据信息;

25、或者,所述测试服务器向所述待测设备发送第二启动测试信号,以使得所述待测设备向所述测试板卡发送第二测试控制信号,所述测试服务器读取所述测试板卡响应于所述第二测试控制信号产生的第二测试数据信息。

26、根据本技术的另一些实施例的测试系统,所述测试服务器包括计算机;

27、所述计算机与所述待测设备上的swd接口连接;

28、所述计算机与所述测试板卡上的测试服务通信接口连接。

29、根据本技术的另一些实施例的测试系统,所述待测设备包括芯片或搭载有芯片原型的fpga板。

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【技术保护点】

1.一种测试板卡,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试板卡,其特征在于,所述测试信号激励/采集接口还用于采集第二测试控制信号,并将所述第二测试控制信号传输至所述微控制器;

3.根据权利要求2所述的测试板卡,其特征在于,所述测试板卡还包括辅助测试组件;

4.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试服务通信接口包括JTAG接口、SWD接口中的一种或多种,所述微控制器中对应集成设置有JTAG模块、SWD模块的一种或多种;

5.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试信号激励/采集接口包括SPI接口、CAN接口、I2C接口、PWM接口、UART接口、Analog接口中的一种或多种,所述微控制器中对应集成设置有SIP模块、CAN模块、I2C模块、PWM模块、UART模块、Analog模块中的一种或多种;

6.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试板卡还包括电磁屏蔽膜;

7.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试板卡还包括结构增强组件;

8.一种测试系统,其特征在于,包括测试服务器、待测设备以及如权利要求1至7任一项所述的测试板卡;

9.根据权利要求8所述的测试系统,其特征在于,所述测试服务器包括计算机;

10.根据权利要求8或9所述的测试系统,其特征在于,所述待测设备包括芯片或搭载有芯片原型的FPGA板。

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【技术特征摘要】

1.一种测试板卡,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试板卡,其特征在于,所述测试信号激励/采集接口还用于采集第二测试控制信号,并将所述第二测试控制信号传输至所述微控制器;

3.根据权利要求2所述的测试板卡,其特征在于,所述测试板卡还包括辅助测试组件;

4.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试服务通信接口包括jtag接口、swd接口中的一种或多种,所述微控制器中对应集成设置有jtag模块、swd模块的一种或多种;

5.根据权利要求1至3任一项所述的测试板卡,其特征在于,所述测试信号激励/采集接口包括spi接口、can接口、i2c接口、pwm接口、uart接口、analo...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐峻伟蔡朱平马言龙
申请(专利权)人:上海水木蓝鲸半导体技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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