【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，特别涉及一种高效的多芯片同时测试装置。
技术介绍
1、在整个生产制程中，须确保cmos芯片无电性功能性不良与partical及刮伤等外观不良；芯片来料之后到ccm完成组装之前，并无制程对其良品率进行全检，只能到芯片+lens+vcm完成组装后才能检测cmos芯片各项性能是否完好。
2、通过lens镜头在测试时生成产品图像，通过生成产品图像，判断产品上是否有有缺陷。如果将每pcscmos芯片单独从料盘中取出进行测试全检，时间与人力消耗都将是巨大，检测效率低，而且人工取放料，容易划伤芯片，使得cmos芯片外观不良风险大大增加。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种高效的多芯片同时测试装置。
2、为实现上述目的，本专利技术采用的技术方案是：
3、本专利技术所述的一种高效的多芯片同时测试装置，它包括有机架和测试装置；所述机架上设置有用于将载有芯片的料盘送入到测试装置下方的料盘输送线；所述测试装置包括有lens固定板、与料盘配对使用的产品测试治具和均布在lens固定板上的多个lens镜头；所述lens固定板上方设置有固定在机架上的光源。
4、进一步地，所述测试装置还包括有竖直角度调节组件；所述竖直角度调节组件上连接有水平角度调节组件；所述水平角度调节组件连接在lens固定板上。
5、进一步地，所述竖直角度调节组件包括有竖直调节底座和固定在水平角度调节组件上的竖直摆块；竖直摆
6、所述竖直调节底座的顶表面上设置有与弧形导向槽相匹配的弧形滑块；所述弧形滑块滑动连接在弧形导向槽；所述竖直摆块的侧表面开设有与弧形导向槽相接通的第二螺纹孔；第二螺纹孔内螺纹连接有抵紧在竖直调节底座上的第二锁紧螺栓；所述弧形滑块的内部转动连接有蜗杆；所述弧形导向槽的表面上设置有与蜗杆相啮合的多个齿牙；所述齿牙沿弧形导向槽的圆弧方向排。
7、进一步地，所述竖直角度调节组件的数量为两个；两个弧形导向槽的轴心均与水平面相互平行设置；两个弧形导向槽的轴心之间呈相互垂直设置。
8、进一步地，所述竖直角度调节组件上设置有升降微调组件；所述升降微调组件包括有上升降座和微调升降座；所述上升降座滑动连接在微调升降座上；所述上升降座上沿高度方向开设有上升降座条形孔；所述微调升降座上螺纹连接有第三锁紧螺栓；所述第三锁紧螺栓穿过上升降座条形孔后螺纹连接在微调升降座上；所述第三锁紧螺栓的头部压紧在上升降座上；所述微调升降座上转动连接有摆杆；所述微调升降座上固定有第二微分头；所述摆杆的两端分别抵紧在第二微分头的测量杆和上升降座的底部。
9、进一步地，所述机架上固定有顶部治具压板；所述产品测试治具设置在顶部治具压板的正下方；所述料盘输送线包括有两条相互平行的输送线；两条输送线之间设置有用于带动顶部治具压板做升降运动的治具抬升组件。
10、进一步地，所述产品测试治具包括有料盘定位框、固定在治具抬升组件上的治具底板、固定在治具底板上的治具本体；所述治具本体上固定有多条导向销；料盘定位框滑动连接在导向销上；所述料盘定位框与治具本体之间连接有弹簧。
11、进一步地，所述料盘输送线还包括有两个调节固定架；两个调节固定架之间固定有输送线导向轴；所述输送线上均固定有输送线固定架；所述输送线固定架上固定有与输送线导向轴滑动连接的调节导向套；所述输送线固定架上均固定有调节丝杆螺母；所述调节固定架上转动连接有双向丝杆；两个调节丝杆螺母分别螺纹连接在双向丝杆的两段螺纹上；输送线固定架上固定有与输送线导向轴滑动连接的调节导向套。
12、进一步地，所述双向丝杆上固定有调节手轮.
13、进一步地，所述机架上固定有激光测量仪组件；所述激光测量仪组件包括有第二测量仪固定板、测量仪固定座、固定在机架上的第一测量仪固定板、连接在第一测量仪固定板与第二测量仪固定板之间的横移直线模组、连接在第二测量仪固定板与测量仪固定座之间的纵移直线模组；所述测量仪固定座上固定有激光测量仪本体。
14、采用上述结构后，本专利技术有益效果为：本专利技术所述的一种高效的多芯片同时测试装置，在使用本专利技术时，料盘放入到料盘输送线中，料盘输送线将料盘输送至测试装置后，通过产品测试治具进行对料盘定位，料盘脱离料盘输送线，并使各个lens镜头分别与料盘上对应的镜头同轴对准，利用产品测试治具将料盘中的芯片接通电路；通过多个lens镜头获取芯片表面的图像传输到计算机后与标准图像进行对比，进行批量判断芯片是否为良品，另外增加光源使得lens镜头的成像更加清晰。该结构能够使得芯片批量自动上料和自动检测，降低劳动强度，提高检测效率，降低芯片检测时上下料被划伤的风险，通过多个lens镜头同步获取多个芯片的图像进行判断，提高检测的效率。
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1.一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：它包括有机架（K）和测试装置；所述机架（K）上设置有用于将载有芯片的料盘送入到测试装置下方的料盘输送线（J）；所述测试装置包括有LENS固定板（G）、与料盘配对使用的产品测试治具（I）和均布在LENS固定板（G）上的多个LENS镜头（H）；所述LENS固定板（G）上方设置有固定在机架（K）上的光源（L）。
2.根据权利要求1所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括有竖直角度调节组件（B）；所述竖直角度调节组件（B）上连接有水平角度调节组件（A）；所述水平角度调节组件（A）连接在LENS固定板（G）上。
3.根据权利要求2所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件（B）包括有竖直调节底座（B6）和固定在水平角度调节组件（A）上的竖直摆块（B1）；竖直摆块（B1）正对竖直调节底座（B6）的一侧设置有弧形导向槽（B101）；所述弧形导向槽（B101）的轴心呈水平设置；
4.根据权利要求3所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件
5.根据权利要求2所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件（B）上设置有升降微调组件（C）；所述升降微调组件（C）包括有上升降座（C1）和微调升降座（C6）；所述上升降座（C1）滑动连接在微调升降座（C6）上；所述上升降座（C1）上沿高度方向开设有上升降座条形孔（C5）；所述微调升降座（C6）上螺纹连接有第三锁紧螺栓（C4）；所述第三锁紧螺栓（C4）穿过上升降座条形孔（C5）后螺纹连接在微调升降座（C6）上；所述第三锁紧螺栓（C4）的头部压紧在上升降座（C1）上；所述微调升降座（C6）上转动连接有摆杆（C2）；所述微调升降座（C6）上固定有第二微分头（C3）；所述摆杆（C2）的两端分别抵紧在第二微分头（C3）的测量杆和上升降座（C1）的底部。
6.根据权利要求1所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述机架（K）上固定有顶部治具压板（N）；所述产品测试治具（I）设置在顶部治具压板（N）的正下方；所述料盘输送线（J）包括有两条相互平行的输送线（J4）；两条输送线（J4）之间设置有用于带动顶部治具压板（N）做升降运动的治具抬升组件（M）。
7.根据权利要求1所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述产品测试治具（I）包括有料盘定位框（I2）、固定在治具抬升组件（M）上的治具底板（I1）、固定在治具底板（I1）上的治具本体（I3）；所述治具本体（I3）上固定有多条导向销（I4）；料盘定位框（I2）滑动连接在导向销（I4）上；所述料盘定位框（I2）与治具本体（I3）之间连接有弹簧（I5）。
8.根据权利要求6所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述料盘输送线（J）还包括有两个调节固定架（J1）；两个调节固定架（J1）之间固定有输送线导向轴（J3）；所述输送线（J4）上均固定有输送线固定架（J2）；所述输送线固定架（J2）上固定有与输送线导向轴（J3）滑动连接的调节导向套（8）；所述输送线固定架（J2）上均固定有调节丝杆螺母（J7）；所述调节固定架（J1）上转动连接有双向丝杆（J5）；两个调节丝杆螺母（J7）分别螺纹连接在双向丝杆（J5）的两段螺纹上；输送线固定架（J2）上固定有与输送线导向轴（J3）滑动连接的调节导向套（J8）。
9.根据权利要求8所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述双向丝杆（J5）上固定有调节手轮（J6）。
10.根据权利要求1所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述机架（K）上固定有激光测量仪组件（P）；所述激光测量仪组件（P）包括有第二测量仪固定板（P2）、测量仪固定座（P5）、固定在机架（K）上的第一测量仪固定板（P1）、连接在第一测量仪固定板（P1）与第二测量仪固定板（P2）之间的横移直线模组（P3）、连接在第二测量仪固定板（P2）与测量仪固定座（P5）之间的纵移直线模组（P4）；所述测量仪固定座（P5）上固定有激光测量仪本体（P6）。
...【技术特征摘要】
1.一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：它包括有机架（k）和测试装置；所述机架（k）上设置有用于将载有芯片的料盘送入到测试装置下方的料盘输送线（j）；所述测试装置包括有lens固定板（g）、与料盘配对使用的产品测试治具（i）和均布在lens固定板（g）上的多个lens镜头（h）；所述lens固定板（g）上方设置有固定在机架（k）上的光源（l）。
2.根据权利要求1所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述测试装置还包括有竖直角度调节组件（b）；所述竖直角度调节组件（b）上连接有水平角度调节组件（a）；所述水平角度调节组件（a）连接在lens固定板（g）上。
3.根据权利要求2所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件（b）包括有竖直调节底座（b6）和固定在水平角度调节组件（a）上的竖直摆块（b1）；竖直摆块（b1）正对竖直调节底座（b6）的一侧设置有弧形导向槽（b101）；所述弧形导向槽（b101）的轴心呈水平设置；
4.根据权利要求3所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件（b）的数量为两个；两个弧形导向槽（b101）的轴心均与水平面相互平行设置；两个弧形导向槽（b101）的轴心之间呈相互垂直设置。
5.根据权利要求2所述的一种高效的多芯片同时测试装置，其特征在于：所述竖直角度调节组件（b）上设置有升降微调组件（c）；所述升降微调组件（c）包括有上升降座（c1）和微调升降座（c6）；所述上升降座（c1）滑动连接在微调升降座（c6）上；所述上升降座（c1）上沿高度方向开设有上升降座条形孔（c5）；所述微调升降座（c6）上螺纹连接有第三锁紧螺栓（c4）；所述第三锁紧螺栓（c4）穿过上升降座条形孔（c5）后螺纹连接在微调升降座（c6）上；所述第三锁紧螺栓（c4）的头部压紧在上升降座（c1）上；所述微调升降座（c6）上转动连接有摆杆（c2）；所述微调升降座（c6）上固定有第二微分头（c3）；所述摆杆（c2）的两端分别抵紧在第二微分头（c3）的测量杆和上升降座（c1）的底部。
6.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈俊安，刘涛，何伟福，
申请(专利权)人：广东涌固科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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