【技术实现步骤摘要】
本申请涉及污水处理，具体涉及一种pcba控制板测试方法及系统。
技术介绍
1、pcba控制板是印刷电路封装（printed circuit board assembly）的简称，并通过板上的走线将这些元器件相互连接起来，构成一个功能完整的电子设备系统，并利用电路板上的处理器实现一定的数据分析能力。pcba控制板主要包含电路连接、信号传输和各种电路运算、控制等功能。除此之外，pcba控制板不仅包含pcb板本身，还包含了安装在pcb上的电子元件，如集成电路、电阻、电容等。
2、pcba控制板的测试是为了发现设计制造缺陷，保证设计的准确性和完整性，是确保电子产品质量可靠性的重要步骤。但是在pcba控制板中往往存在高频电路，因此在信号传输过程中容易形成电磁耦合干扰，而电磁耦合干扰一般是由控制板设计缺陷或元器件焊接缺陷造成的。与此同时，外界环境因素也会对传输过程中的信号造成干扰。而电磁耦合干扰的强度较低且夹杂在外界环境干扰因素中，测试设备可能无法检测到这种干扰，从而导致潜在的问题或缺陷在测试中被忽略。针对上述问题，本申请提出了一种pcba控制板测试方法及系统。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本申请的目的在于提供一种pcba控制板测试方法及系统，所采用的技术方案具体如下：
2、第一方面，本申请实施例提供了一种pcba控制板测试方法，该方法包括以下步骤：
3、在pcba控制板上，获取各测试点在各采集时刻的电压数字信号，按照时间升序组成各测试点的电压序
4、通过时间窗口将各测试点的电压序列均划分为多个窗口电压序列；根据窗口电压序列中电压变化趋势结合回归算法得到电位图；在每个窗口电压序列中，根据电位图中的电位走势和电压分布情况获取每个时间窗口的各电位变化周期序列；
5、根据电压变化的快慢程度构建每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数；
6、在各测试点中，获取控制板高低电位，根据所有电位变化周期序列的点位突变系数以及电压与控制板高低电位之间的差异情况构建每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数；
7、以各测试点为中心设置对比测试点，在各测试点与其对比测试点的同一时间窗口内的窗口电压序列中，根据点位失真紊乱系数之间的差异以及测试点之间的差异构建每个窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数；
8、根据各测试点中所有窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定系数得到各测试点的布线缺陷系数；结合各测试点的布线缺陷系数获取pcba控制板测试结果。
9、优选的，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的获取过程为：
10、在每个窗口电压序列中，电位图中电位下降的结束时刻到最近下一次电位下降的结束时刻之间的电压值组成电位变化周期序列。
11、优选的，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数的构建过程为：
12、在每个窗口电压序列中，根据各电位变化周期序列得到每个时间窗口的各电位变化周期序列的第一、二、三及四子序列；
13、将第二子序列中电压最大值与电压最小值的差值取绝对值，记为上升电位绝对值；计算第二子序列中电压最大值和最小值的采集时刻的差值，记为上升电位变化时差；计算上升电位变化时差和上升电位绝对值的比值，记为各电位变化周期序列的第一变化值；
14、在第四子序列中，按照所述第一变化值的构建方法得到第二变化值；计算第一变化值与第二变化值的加权和，记为各电位变化周期序列的特征变化值；计算第二子序列与第四子序列之间的距离，记为各电位变化周期序列的相隔距离；所述特征变化值和所述相隔距离均与所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数成正向关联。
15、优选的，所述根据各电位变化周期序列得到每个时间窗口的各电位变化周期序列的第一、二、三及四子序列，包括：
16、将各电位变化周期序列的起始时刻到电位上升的起始时刻之间的电压值组成各电位变化周期序列的第一子序列；将电位上升的起始时刻到电位上升至最高点的时刻之间的电压值组成各电位变化周期序列的第二子序列；将电位上升至最高点的时刻到电位下降的起始时刻之间的电压值组成各电位变化周期序列的第三子序列；将电位下降的起始时刻到电位下降至最低点的时刻之间的电压值组成各电位变化周期序列的第四子序列。
17、优选的，所述每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数的构建过程为：
18、在每个窗口电压序列的各电位变化周期序列中，将第一子序列中各采集时刻的电压值与控制板低电位的差值取绝对值，记为低电位参考绝对值；计算所有采集时刻的低电位参考绝对值的标准差，记为各电位变化周期序列的第一残差值；
19、将第三子序列中各采集时刻的电压值与控制板高电位的差值取绝对值，记为高电位参考绝对值；计算所有采集时刻的高电位参考绝对值的标准差，记为各电位变化周期序列的第二残差值；
20、将所述第一残差值与第二残差值的加权结果与点位突变系数的和值，记为各电位变化周期序列的失真紊乱值；每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数与每个窗口电压序列的各电位变化周期序列的失真紊乱值成正向关联。
21、优选的，控制板耦合缺陷判定指数的构建过程为：
22、在各测试点的同一时间窗口的窗口电压序列中，根据所有电位变化周期序列中第一子序列和第三子序列中电压差异情况获取每个窗口电压序列的协同变化序列；
23、基于各测试点与其余测试点中任一测试点在同一时间窗口中，计算两个窗口电压序列的点位失真紊乱系数之间的差异，记为失真权重；计算两个窗口电压序列的协同变化序列之间的距离，记为相似度量结果；将失真权重与相似度量结果的比值作为每个窗口电压序列的突发性失真系数；每个窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定系数分别与所述突发性失真系数和点位失真紊乱系数成正向关联。
24、优选的，所述每个窗口电压序列的协同变化序列的获取过程为：
25、在每个窗口电压序列的各电位变化周期序列中，计算第一子序列中电压最大值与最小值的差值，记为各电位变化周期序列的第一协同差值；计算第三子序列中电压最大值与最小值的差值，记为各电位变化周期序列的第二协同差值；将所述第一协同差值与第二协同差值加权的结果作为各电位变化周期序列的协同变化因子，每个窗口电压序列的所有电位变化周期序列的协同变化因子组成每个窗口电压序列的协同变化序列。
26、优选的，所述各测试点的布线缺陷系数为所有窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数的均值的归一化结果。
27、优选的，所述结合各测试点的布线缺陷系数获取pcba控制板的测试结果，包括：
28、当各测试点的布线缺陷系数小于预设缺陷阈值时，则测试点正常；反之，测试点异常；将正常测试点个数与控制板上的所有测试点个数的比值作为控制板的合格度，当合格度大于预设合格度时，pcba控制板生产合格。
29、第二方面，本申请实施例还提供了一种pcba控制板测试系统，包括存本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的获取过程为：
3.如权利要求1所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数的构建过程为：
4.如权利要求3所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述根据各电位变化周期序列得到每个时间窗口的各电位变化周期序列的第一、二、三及四子序列，包括：
5.如权利要求4所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数的构建过程为：
6.如权利要求4所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，控制板耦合缺陷判定指数的构建过程为：
7.如权利要求6所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述每个窗口电压序列的协同变化序列的获取过程为：
8.如权利要求1所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述各测试点的布线缺陷系数为所有窗口电压序列的控制板耦
9.如权利要求1所述的一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，所述结合各测试点的布线缺陷系数获取PCBA控制板的测试结果，包括：
10.一种PCBA控制板测试系统，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-9任意一项所述方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种pcba控制板测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的一种pcba控制板测试方法，其特征在于，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的获取过程为：
3.如权利要求1所述的一种pcba控制板测试方法，其特征在于，所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数的构建过程为：
4.如权利要求3所述的一种pcba控制板测试方法，其特征在于，所述根据各电位变化周期序列得到每个时间窗口的各电位变化周期序列的第一、二、三及四子序列，包括：
5.如权利要求4所述的一种pcba控制板测试方法，其特征在于，所述每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数的构建过程为：
6.如权利要求4所述的一种pcba控制板测试方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：张金建，李泽湘，
申请(专利权)人：深圳市创马优精密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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