System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置制造方法及图纸_技高网

一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置制造方法及图纸

技术编号:42089131 阅读:6 留言:0更新日期:2024-07-19 17:03
本发明专利技术公开了一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,包括:光学测量系统、人工晶状体支架和通光底座;通光底座设置于光学测量系统的光路中,且开设有容纳腔,用于容纳模拟人眼房水的溶液;人工晶状体支架设置于通光底座,且其部分位于容纳腔内并开设有支架通光槽,支架通光槽用于放置人工晶状体并能够对人工晶状体的两个襻同时施加相同的压缩力,使得人工晶状体的两个襻同时受到相同的压缩力,确保人工晶状体在压缩过程中的稳定性;光学测量系统用于分别测量人工晶状体上表面的光学成像在无压缩状态和在压缩状态下的位置。这种测量方式不受投影轮廓边界模糊的影响,测量精度高,使得本测量装置测量稳定性好、测量结果准确性高和测量精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及人眼治疗,特别涉及一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置


技术介绍

1、晶状体是眼球中重要的屈光介质之一。它呈双凸透镜状,直径约9mm,厚约4~5mm,前后两面交界处称为赤道部,两面的顶点分别称为晶状体前极、后极。晶状体就像照相机里的镜头一样,对光线有屈光作用,同时也能滤去一部分紫外线,保护视网膜,但它最重要的作用是通过睫状肌的收缩或松弛改变屈光度,使看远或看近时眼球聚光的焦点都能准确地落在视网膜上。随着年龄的增加或者一些外伤性损伤会造成晶状体浑浊,导致视力下降,甚至失明。目前白内障仍然是全球第一位的致盲眼病,超声乳化联合人工晶状体植入术是白内障唯一的治疗手段。该治疗手段通过超声乳化摘除人眼原本浑浊的晶状体,用人工晶状体替换人眼晶状体,达到恢复视力的效果。

2、人工晶状体植入后,依靠襻支撑在囊袋或睫状沟中,维持人工晶状体的稳定性。由于囊袋和睫状沟的直径分别为10mm和11mm,而人工晶状体总直径一般在11mm~13mm,因此人工晶状体植入人眼后处于压缩状态。人工晶状体压缩力下轴向位移即模拟人工晶状体在受到囊袋或者睫状肌压缩后,向前或者向后产生的轴向位移。由于人工晶状体植入位置处于虹膜和玻璃体之间,人工晶状体受压后产生的轴向位移过大,会导致光学区部分或者全部暴露于虹膜前面,支撑襻仍在虹膜后,人工晶状体呈现嵌顿于瞳孔的状态,造成人工晶状体的瞳孔夹持。如果瞳孔夹持造成人工晶状体明显的倾斜则可引起散光、慢性葡萄膜炎、后囊膜增厚浑浊、黄斑囊样水肿及人工晶状体表面色素沉着,这些都可引起患者视力明显减退。

3、目前测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置主要基于投影法,利用直径为10mm/11mm的测座,通过投影仪放大人工晶状体在测座中受压缩后拱起的高度。因为人工晶状体的主体通常存在不同的面型设计(凹凸、凸凹、双凸等),仅通过投影仪观察存在分界面模糊,而且当人工晶状体的襻受到测座两侧不同的压缩力时,人工晶状体的主体存在倾斜的现象,此时压缩力下的轴向位移并不能简单通过投影仪观察得到。也就是说,现有测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置仍存在如下的缺点:

4、1、通过投影仪测量人工晶状体压缩力下轴向位移,需要在投影仪屏幕上观察人工晶状体在投影仪屏幕上的倒影,人工晶状体本身存在一定的厚度(0.3mm~1.5mm不等,光焦度不同,厚度不同),人工晶状体的边界在投影仪上观察时,容易分辨不清,造成测量误差;

5、2、测座压缩过程中需要分别调节测座两端的调节螺母,调节速率不同造成人工晶状体的两个襻受到不同的压缩力,导致人工晶状体在压缩过程中出现倾斜、偏心等不稳定现象,影响测量结果的准确性;

6、3、测量装置的定径圆的直径为10mm,仅能满足植入在人眼囊袋(压缩直径为10mm)中的人工晶状体的测量需求,对于植入人眼睫状沟(压缩直径为11mm)中的人工晶状体及其他特殊压缩直径设计的人工晶状体无法进行测量,应用范围小,无法适用于所有类型的人工晶状体。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术提供了一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,具有测量稳定性好、测量结果准确性高和测量精度高等特点。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:

3、一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,包括:光学测量系统、人工晶状体支架和通光底座;

4、所述通光底座设置于所述光学测量系统的光路中,且开设有容纳腔,用于容纳模拟人眼房水的溶液;

5、所述人工晶状体支架设置于所述通光底座,且其部分位于所述容纳腔内并开设有支架通光槽,所述支架通光槽用于放置人工晶状体并能够对所述人工晶状体的两个襻同时施加相同的压缩力;

6、所述光学测量系统用于分别测量所述人工晶状体上表面的光学成像在无压缩状态和在压缩状态下的位置。

7、优选地,所述人工晶状体支架包括:滑座、第一滑臂、第二滑臂、传动组件和驱动组件;

8、所述滑座设置于所述通光底座;

9、所述第一滑臂和所述第二滑臂可相对滑动设置于所述滑座,且其自由端部均位于所述容纳腔内并在自由端部之间形成所述支架通光槽;

10、所述驱动组件设置于滑座,用于带动所述第一滑臂滑向所述第二滑臂;

11、所述传动组件设置于所述通光底座,至少用于在所述驱动组件带动所述第一滑臂滑向所述第二滑臂时,带动所述第二滑臂同步滑向所述第一滑臂,使所述第一滑臂和所述第二滑臂同步相向滑动。

12、优选地,所述第一滑臂的自由端部包括第一压板,所述第二滑臂的自由端部包括第二压板,所述第一压板和所述第二压板沿所述第一滑臂或所述第二滑臂的滑动方向相对设置,且均位于所述容纳腔内;

13、所述第一压板朝向所述第二压板的端面开设有第一半通光槽,所述第二压板朝向所述第一压板的端面开设有第二半通光槽,所述第一半通光槽和所述第二半通光槽之间形成所述支架通光槽。

14、优选地,所述第一半通光槽开设有第一襻槽,用于放置所述人工晶状体的第一襻,所述第一半通光槽与所述第一襻槽槽底的上边缘之间设有第一襻槽倒角;

15、所述第二半通光槽开设有第二襻槽,用于放置所述人工晶状体的第二襻,所述第二半通光槽与所述第二襻槽槽底的上边缘之间设有第二襻槽倒角。

16、优选地,所述传动组件包括:传动杆、第一固定座和两个滚柱;

17、所述第一固定座设置于所述通光底座;

18、所述传动杆与所述第一滑臂或所述第二滑臂平行设置,且其中间部分可转动连接于所述第一固定座;

19、两个所述滚柱分别垂直设置于所述传动杆的两端,且分别同所述第一滑臂和所述第二滑臂抵接配合。

20、优选地,还包括:第二固定座和挡板;

21、所述驱动部分包括:数显千分表;

22、所述数显千分表通过所述第二固定座固定于所述滑座;

23、所述挡板设置于所述第一滑臂,且所述数显千分表的测量杆用于推动所述挡板,以使所述第一滑臂滑向所述第二滑臂。

24、优选地,所述通光底座包括:底座基座和通光玻璃;

25、所述底座基座设置于所述光学测量系统的光路中,且开设有所述容纳腔,所述容纳腔的腔底开设有底座通光槽,且与所述支架通光槽对位分布;

26、所述通光玻璃封堵所述容纳腔的底座通光槽;

27、所述人工晶状体支架设置于所述底座基座。

28、优选地,还包括通光盖片;

29、所述通光盖片设置于所述通光底座容纳腔的腔顶,用于盖住所述容纳腔内溶液的液面。

30、优选地,所述通光盖片包括:盖片基座和通光盖玻片;

31、所述盖片基座横跨设置于所述容纳腔的腔顶,且其底部设有凸台,用于盖住所述容纳腔内溶液的液面,所述盖片基座还开设有盖片通光槽,且与所述支架通光槽对位分布;

32、所述通光盖玻片封堵所述盖片通光槽。

33、优选地,还包括通光孔阑;...

【技术保护点】

1.一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,包括:光学测量系统、人工晶状体支架(02)和通光底座(03);

2.根据权利要求1所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述人工晶状体支架(02)包括:滑座(02051)、第一滑臂、第二滑臂、传动组件和驱动组件;

3.根据权利要求2所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述第一滑臂的自由端部包括第一压板,所述第二滑臂的自由端部包括第二压板,所述第一压板和所述第二压板沿所述第一滑臂或所述第二滑臂的滑动方向相对设置,且均位于所述容纳腔(035)内;

4.根据权利要求3所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述第一半通光槽(02231)开设有第一襻槽,用于放置所述人工晶状体(07)的第一襻,所述第一半通光槽(02231)与所述第一襻槽槽底的上边缘之间设有第一襻槽倒角;

5.根据权利要求2所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述传动组件包括:传动杆(0206)、第一固定座(0208)和两个滚柱(0207);p>

6.根据权利要求2所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,还包括:第二固定座(0210)和挡板(0209);

7.根据权利要求1所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述通光底座(03)包括:底座基座(032)和通光玻璃(031);

8.根据权利要求1所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,还包括通光盖片(01);

9.根据权利要求8所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述通光盖片(01)包括:盖片基座(011)和通光盖玻片(012);

10.根据权利要求1所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,还包括通光孔阑(04);

...

【技术特征摘要】

1.一种测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,包括:光学测量系统、人工晶状体支架(02)和通光底座(03);

2.根据权利要求1所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述人工晶状体支架(02)包括:滑座(02051)、第一滑臂、第二滑臂、传动组件和驱动组件;

3.根据权利要求2所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述第一滑臂的自由端部包括第一压板,所述第二滑臂的自由端部包括第二压板,所述第一压板和所述第二压板沿所述第一滑臂或所述第二滑臂的滑动方向相对设置,且均位于所述容纳腔(035)内;

4.根据权利要求3所述的测量人工晶状体压缩力下轴向位移的装置,其特征在于,所述第一半通光槽(02231)开设有第一襻槽,用于放置所述人工晶状体(07)的第一襻,所述第一半通光槽(02231)与所述第一襻槽槽底的上边缘之间设有第一襻槽倒角;

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【专利技术属性】
技术研发人员:宋婷冯勤郝琦傅敏陈琼慧林倩钰章晨洁
申请(专利权)人:浙江省医疗器械检验研究院国家食品药品监督管理局杭州医疗器械质量监督检验中心
类型:发明
国别省市:

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