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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子电路领域,更具体地说涉及芯片用电源领域,特别是涉及一种电压检测电路和电子设备。
技术介绍
1、在芯片上电(或掉电)的过程中,需要精准控制芯片中的各个模块的开启(或关闭)时序,并且需要保证各个模块开启时输入各个模块的电压能驱动各个模块正常工作,从而保证整个芯片的正常工作,以提高芯片运行的可靠性和安全性,进而延长芯片的使用寿命。因此,在芯片中通常内置集成有上电复位模块(por,power-on-reset)和掉电复位模块(bor,brown-out-reset)。
2、por和bor分别作为芯片上电和掉电过程中的第一道屏障和最后一道屏障,por和bor的精度将对芯片中的其他模块的开启和关闭时机和时序起着决定性的作用。为了确保芯片中的各个模块能够在合适的电压下工作,业界内对por和bor精度要求越来越高。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的是提供一种电压检测电路和电子设备,用于对芯片上电(或掉电)过程中的电源电压进行高精度检测,以提供por和bor功能。
2、本申请实施例的第一方面提供了一种电压检测电路,包括:
3、比较模块,用于将待比较电压信号与基准电压信号进行比较,在比较结果为所述待比较电压信号的电压小于所述基准电压信号的电压的情况下输出低电平的初始检测信号,在比较结果为所述待比较电压信号的电压大于所述基准电压信号的电压的情况下输出高电平的初始检测信号,所述待比较电压信号由电源电压得到;
4、调节模块,用于检测所述基准电
5、本申请实施例的第二方面提供了一种电子设备,该电子设备包括第一方面所述的电压检测电路。
6、在本申请实施例中,在上电过程中,比较模块将(由电源电压得到的)待比较电压信号与基准电压信号进行比较,在待比较电压信号小于基准电压信号的电压的情况下比较模块输出的初始检测信号为低电平“0”,在待比较电压信号大于基准电压信号的电压的情况下比较模块输出的初始检测信号为低电平“1”,而调节模块检测基准电压信号和电源电压,在检测结果不满足预定条件(基准电压信号的电压大于基准电压信号的检测电压且电源电压大于或等于基准电压信号的工作电压,工作电压大于检测电压)的情况下,将(由初始检测信号得到的)第一检测信号始终钳位至零电位,在检测结果满足预定条件的情况下,停止对第一检测信号的钳位,以使第一检测信号输出。在本申请实施例中,调节模块检测基准电压信号和电源电压,在基准电压信号和电源电压均达到芯片供电需求的情况下,再释放由(比较模块输出的)初始检测信号得到的第一检测信号;而比较模块要在(由电源电压得到的)待比较电压信号的电压大于基准电压信号的电压情况才会输出高电平的初始检测信号,从而实现对芯片上电过程中的电源电压进行高精度检测,以提供por功能(有关掉电过程请参见后文更具体的说明)。
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1.一种电压检测电路,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的电压检测电路,其特征在于,还包括:
3.根据权利要求2所述的电压检测电路,其特征在于,所述第一反相模块,包括:
4.根据权利要求3所述的电压检测电路,其特征在于,所述偶数个第一反相器中至少存在一个反相器是施密特触发器。
5.根据权利要求2所述电压检测电路,其特征在于,还包括:
6.根据权利要求5所述的电压检测电路,其特征在于,所述滤波模块是RC滤波器。
7.根据权利要求2所述的电压检测电路,其特征在于,还包括:
8.根据权利要求7所述的电压检测电路,其特征在于,所述变压模块,包括:
9.根据权利要求2所述的电压检测电路,其特征在于,所述调节模块,包括:
10.根据权利要求9所述的电压检测电路,其特征在于,所述开关子模块,包括:
11.根据权利要求9所述的电压检测电路,其特征在于,所述开关子模块,包括:
12.根据权利要求9所述的电压检测电路,其特征在于,所述调节模块,还包括:
< ...【技术特征摘要】
1.一种电压检测电路,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的电压检测电路,其特征在于,还包括:
3.根据权利要求2所述的电压检测电路,其特征在于,所述第一反相模块,包括:
4.根据权利要求3所述的电压检测电路,其特征在于,所述偶数个第一反相器中至少存在一个反相器是施密特触发器。
5.根据权利要求2所述电压检测电路,其特征在于,还包括:
6.根据权利要求5所述的电压检测电路,其特征在于,所述滤波模块是rc滤波器。
7.根据权利要求2所述的电压检测电路,其特征在于,还包括:
8.根据权利要求7...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈俊峰,
申请(专利权)人:北京四维图新科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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