【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路，特别涉及一种使用单端口自动夹具移除的去嵌方法。
技术介绍
1、传统的校准方法和基于测量的去嵌过程需要设计校准套件和测量标准，过程繁琐且成本高昂。即使是使用2x直通(through)夹具的简单自动夹具移除(automatic fixtureremoval，afr)，仍然需要一条直通线来提取夹具的特性，而且存在一些限制。自动夹具移除通常指的是使用自动化系统来移除夹具，夹具是在制造和加工过程中用于固定工件的装置。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种使用单端口自动夹具移除的去嵌方法，提供一种新的单端口自动夹具移除(1xafr)技术来去嵌夹具，节省pcb面积、校准和测量时间。
2、本申请公开了一种使用单端口自动夹具移除的去嵌方法，包括：
3、通过网络分析仪测量待测件一端是开路或短路时的反射系数s11；
4、在第一时间门测量待测件一端是开路或短路时夹具发射的第一时域信号，将所述第一时域信号转换为第一频域信号，以获得所述夹具的第一反射系数s11fix；
5、在第二时间门测量所述待测件一端是开路或短路时夹具发射的第二时域信号，将所述第二时域信号转换为第二频域信号，并根据所述第二频域信号和负载的反射系数计算所述夹具的正向传输损耗s21fix和反向传输损耗s12fix；以及
6、基于梅森规则利用所述反射系数s11、第一反射系数s11fix、正向传输损耗s21fix和反向传输损耗s12fix计算所述夹具的第二反射系数
7、在一个优选例中，所述夹具的正向传输损耗s21fix和反向传输损耗s12fix等于其中twil表示双向插入损耗，γ表示负载的反射系数。
8、在一个优选例中，所述夹具的第二反射系数s22fix等于其中s11表示所述夹具开路或短路时的反射系数。
9、在一个优选例中，将所述第二时域信号转换为第二频域信号时，还包括：加窗处理。
10、在一个优选例中，所述加窗处理采用的加窗函数为改进的hamming窗口函数。
11、在一个优选例中，所述夹具的一端开路或短路，所述夹具的另一端连接到测量仪器，所述测量仪器校准到参考平面，所述测量仪器向所述夹具发射阶跃波或脉冲波。
12、在一个优选例中，所述测量仪器为网络分析仪，所述夹具包括与所述网络分析仪相连的pcb板上的走线和sma连接器。
13、本申请实施方式中，提供一种新的单端口自动夹具移除(1xafr)技术来去嵌夹具，使用单端口afr(1xafr)时，可对开路或短路时夹具的时域响应(tdr)进行选通和加窗处理，然后提取夹具的直通s参数(s-parameters)。当夹具连接到被测设备(dut，也称为待测件)时，其响应可以从混合s参数中分离出来，从而获得被测设备的s参数。大量的仿真和测试数据证明新的1xafr方法与传统的trl校准和2x直通afr方法的性能相似，但可以节省更多的pcb面积、校准和测量时间。
14、本申请的说明书中记载了大量的技术特征，分布在各个技术方案中，如果要罗列出本申请所有可能的技术特征的组合(即技术方案)的话，会使得说明书过于冗长。为了避免这个问题，本申请上述
技术实现思路
中公开的各个技术特征、在下文各个实施方式和例子中公开的各技术特征、以及附图中公开的各个技术特征，都可以自由地互相组合，从而构成各种新的技术方案(这些技术方案均应该视为在本说明书中已经记载)，除非这种技术特征的组合在技术上是不可行的。例如，在一个例子中公开了特征a+b+c，在另一个例子中公开了特征a+b+d+e，而特征c和d是起到相同作用的等同技术手段，技术上只要择一使用即可，不可能同时采用，特征e技术上可以与特征c相组合，则，a+b+c+d的方案因技术不可行而应当不被视为已经记载，而a+b+c+e的方案应当视为已经被记载。
【技术保护点】
1.一种使用单端口自动夹具移除的去嵌方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的去嵌方法，其特征在于，所述夹具的正向传输损耗S21Fix和反向传输损耗S12Fix均等于其中TWIL表示双向插入损耗，Γ表示负载的反射系数。
3.根据权利要求2所述的去嵌方法，其特征在于，所述夹具的第二反射系数S22Fix等于其中S11表示所述夹具开路或短路时的反射系数。
4.根据权利要求1所述的去嵌方法，其特征在于，将所述第二时域信号转换为第二频域信号时，还包括：加窗处理。
5.根据权利要求4所述的去嵌方法，其特征在于，所述加窗处理采用的加窗函数为改进的Hamming窗口函数。
6.根据权利要求1所述的去嵌方法，其特征在于，所述夹具的一端开路或短路，所述夹具的另一端连接到测量仪器，所述测量仪器校准到参考平面，所述测量仪器向所述夹具发射阶跃波或脉冲波。
7.根据权利要求6所述的去嵌方法，其特征在于，所述测量仪器为网络分析仪，所述夹具包括与所述网络分析仪相连的PCB板上的走线和SMA连接器。
【技术特征摘要】
1.一种使用单端口自动夹具移除的去嵌方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的去嵌方法，其特征在于，所述夹具的正向传输损耗s21fix和反向传输损耗s12fix均等于其中twil表示双向插入损耗，γ表示负载的反射系数。
3.根据权利要求2所述的去嵌方法，其特征在于，所述夹具的第二反射系数s22fix等于其中s11表示所述夹具开路或短路时的反射系数。
4.根据权利要求1所述的去嵌方法，其特征在于，将所述第二时域信号转换为第二频域信号时...
【专利技术属性】
技术研发人员：余燎原，王浩南，蔡同健，姚玉征，苏海，
申请(专利权)人：集益威半导体上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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