System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 接口测试方法、设备、接口测试系统技术方案_技高网

接口测试方法、设备、接口测试系统技术方案

技术编号:42064317 阅读:8 留言:0更新日期:2024-07-19 16:48
本申请提出一种接口测试方法、设备、接口测试系统,所述方法应用于被测设备,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:通过所述控制信号输出端向所述测试设备发送第一指令,所述第一指令用于触发所述测试设备将所述信号输出端口的引脚电平设置为所述第一指令所指示的设定电平状态;获取在所述测试设备的信号输出端口的引脚电平为所述设定电平状态的情况下,所述被测设备生成的测试参数值,所述测试参数值用于确定对所述待测试接口的测试结果。上述方案能够提高设备接口测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及自动测试,尤其涉及一种接口测试方法、设备、接口测试系统


技术介绍

1、linux内核版本在发布前需要测试设备上的各种接口的功能是否正常。对于某些接口来说,无法在被测设备本地完成测试,而是需要人工操作外部设备与被测试接口进行通信交互,在交互过程中测试被测设备的接口功能。

2、上述测试方式的需要耗费大量人力,并且测试效率较低。


技术实现思路

1、基于上述技术问题,本申请提出一种接口测试方法、设备、接口测试系统,能够提高设备接口测试效率。

2、本申请第一方面提出一种接口测试方法,应用于被测设备,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

3、通过所述控制信号输出端向所述测试设备发送第一指令,所述第一指令用于触发所述测试设备将所述信号输出端口的引脚电平设置为所述第一指令所指示的设定电平状态;

4、获取在所述测试设备的信号输出端口的引脚电平为所述设定电平状态的情况下,所述被测设备生成的测试参数值,所述测试参数值用于确定对所述待测试接口的测试结果。

5、在第一方面的一些实现方式中,所述方法还包括:

6、在通过所述信号输出端向所述测试设备发送第一指令之前,所述被测设备加载设备驱动及设备树;

7、和/或,

8、所述被测设备将所述测试参数值发送至与所述被测设备相连的上位机。

9、在第一方面的一些实现方式中,所述方法还包括:根据对所述待测试接口的测试项目,生成所述第一指令;其中,所述测试项目包括测试外部设备向所述待测试接口输入特定类型信号时、所述被测设备的输出;

10、所述第一指令包括引脚信息和引脚电平状态信息,所述引脚信息用于标识用于输出所述特定类型信号的引脚,所述引脚电平状态信息用于表示与所述特定类型信号相对应的引脚电平状态。

11、在第一方面的一些实现方式中,所述待测试接口包括第一引脚组和第二引脚组,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚组和第四引脚组,所述第一引脚组的各个引脚与所述第三引脚组的各个引脚一一对应相连,所述第二引脚组的各个引脚与所述第四引脚组的各个引脚一一对应相连;

12、所述第一指令包括所述第三引脚组和/或所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息。

13、在第一方面的一些实现方式中,所述第三引脚组的引脚电平为低电平,所述第一指令包括所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息;

14、其中,所述第一指令中的所述引脚电平状态信息包括引脚电平状态,或者,所述第一指令中的所述引脚电平状态信息包括引脚电平状态以及引脚电平状态的保持时长。

15、在第一方面的一些实现方式中,所述待测试接口包括第一引脚和第二引脚,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚和第四引脚,所述第一引脚与所述第三引脚相连,所述第二引脚与所述第四引脚相连;

16、所述第一指令包括所述第三引脚或所述第四引脚对应的引脚电平状态信息,其中,所述引脚电平状态信息包括低电平、高电平、高阻态中的任意一种。

17、本申请第二方面提出一种接口测试方法,应用于测试设备,所述测试设备的控制信号输入端与被测设备的控制信号输出端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

18、通过所述控制信号输入端接收所述被测设备发送的第一指令;

19、将所述信号输出端口的引脚电平设置为所述第一指令所指示的电平状态,以使所述被测设备获取在所述测试设备的信号输出端口的引脚电平为所述设定电平状态的情况下,所述被测设备生成的测试参数值,所述测试参数值用于确定对所述待测试接口的测试结果。

20、在第二方面的一些实现方式中,所述第一指令包括引脚信息和引脚电平状态信息,所述引脚信息用于标识用于输出所述特定类型信号的引脚,所述引脚电平状态信息用于表示与所述特定类型信号相对应的引脚电平状态。

21、在第二方面的一些实现方式中,所述待测试接口包括第一引脚组和第二引脚组,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚组和第四引脚组,所述第一引脚组的各个引脚与所述第三引脚组的各个引脚一一对应相连,所述第二引脚组的各个引脚与所述第四引脚组的各个引脚一一对应相连;

22、所述第一指令包括所述第三引脚组和/或所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息。

23、在第二方面的一些实现方式中,所述第三引脚组的引脚电平为低电平,所述第一指令包括所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息;

24、其中,所述第一指令中的所述引脚电平状态信息包括引脚电平状态,或者,所述第一指令中的所述引脚电平状态信息包括引脚电平状态以及引脚电平状态的保持时长。

25、在第二方面的一些实现方式中,所述待测试接口包括第一引脚和第二引脚,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚和第四引脚,所述第一引脚与所述第三引脚相连,所述第二引脚与所述第四引脚相连;

26、所述第一指令包括所述第三引脚或所述第四引脚对应的引脚电平状态信息,其中,所述引脚电平状态信息包括低电平、高电平、高阻态中的任意一种。

27、本申请第三方面提出一种设备,所述设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述设备被配置为执行如第一方面或第一方面的任意实现方式所述的接口测试方法。

28、本申请第四方面提出一种测试设备,所述测试设备的控制信号输入端与被测设备的控制信号输出端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述测试设备被配置为执行如第二方面或第二方面的任意实现方式所述的接口测试方法。

29、本申请第四方面提出一种接口测试系统,包括至少一组被测设备和测试设备的组合,在任一组被测设备和测试设备的组合中,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连;

30、其中,所述被测设备被配置为执行如第一方面或第一方面的任意实现方式所述的接口测试方法;

31、和/或,

32、所述测试设备被配置为执行如第二方面或第二方面的任意实现方式所述的接口测试方法。

33、在第四方面的一些实现方式中,所述接口测试系统还包括上位机,所述上位机与所述被测设备通信连接,所述上位机用于控制所述被测设备开启接口测试,和/或,对所述被测设备采集的测试参数值进行解析得到接口测试结果。

34、本申请提出的接口测试方法将被测设备的信号输出端口的引脚与被测设备的待测试接口的引脚相连,并且将被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,由本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种接口测试方法,其特征在于,应用于被测设备,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:根据对所述待测试接口的测试项目,生成所述第一指令;其中,所述测试项目包括测试外部设备向所述待测试接口输入特定类型信号时、所述被测设备的输出;

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚组和第二引脚组,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚组和第四引脚组,所述第一引脚组的各个引脚与所述第三引脚组的各个引脚一一对应相连,所述第二引脚组的各个引脚与所述第四引脚组的各个引脚一一对应相连;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第三引脚组的引脚电平为低电平,所述第一指令包括所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息;

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚和第二引脚,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚和第四引脚,所述第一引脚与所述第三引脚相连,所述第二引脚与所述第四引脚相连;

7.一种接口测试方法,其特征在于,应用于测试设备,所述测试设备的控制信号输入端与被测设备的控制信号输出端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第一指令包括引脚信息和引脚电平状态信息,所述引脚信息用于标识用于输出所述特定类型信号的引脚,所述引脚电平状态信息用于表示与所述特定类型信号相对应的引脚电平状态。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚组和第二引脚组,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚组和第四引脚组,所述第一引脚组的各个引脚与所述第三引脚组的各个引脚一一对应相连,所述第二引脚组的各个引脚与所述第四引脚组的各个引脚一一对应相连;

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第三引脚组的引脚电平为低电平,所述第一指令包括所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息;

11.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚和第二引脚,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚和第四引脚,所述第一引脚与所述第三引脚相连,所述第二引脚与所述第四引脚相连;

12.一种设备,其特征在于,所述设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述设备被配置为执行如权利要求1至6中任意一项所述的接口测试方法。

13.一种测试设备,其特征在于,所述测试设备的控制信号输入端与被测设备的控制信号输出端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述测试设备被配置为执行如权利要求7至11中任意一项所述的接口测试方法。

14.一种接口测试系统,其特征在于,包括至少一组被测设备和测试设备的组合,在任一组被测设备和测试设备的组合中,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连;

15.根据权利要求14所述的接口测试系统,其特征在于,所述接口测试系统还包括上位机,所述上位机与所述被测设备通信连接,所述上位机用于控制所述被测设备开启接口测试,和/或,对所述被测设备采集的测试参数值进行解析得到接口测试结果。

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【技术特征摘要】

1.一种接口测试方法,其特征在于,应用于被测设备,所述被测设备的控制信号输出端与测试设备的控制信号输入端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:根据对所述待测试接口的测试项目,生成所述第一指令;其中,所述测试项目包括测试外部设备向所述待测试接口输入特定类型信号时、所述被测设备的输出;

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚组和第二引脚组,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚组和第四引脚组,所述第一引脚组的各个引脚与所述第三引脚组的各个引脚一一对应相连,所述第二引脚组的各个引脚与所述第四引脚组的各个引脚一一对应相连;

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第三引脚组的引脚电平为低电平,所述第一指令包括所述第四引脚组中的至少一个引脚对应的引脚电平状态信息;

6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述待测试接口包括第一引脚和第二引脚,所述测试设备的信号输出端口包括第三引脚和第四引脚,所述第一引脚与所述第三引脚相连,所述第二引脚与所述第四引脚相连;

7.一种接口测试方法,其特征在于,应用于测试设备,所述测试设备的控制信号输入端与被测设备的控制信号输出端相连,所述被测设备的待测试接口的引脚,与所述测试设备的信号输出端口的引脚相连,所述方法包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述第一指令包括引脚信息和引脚电平状态信息,所述引脚信息用于标识用于输出所述特定类型信号的引脚,所述引脚电平状态信息用于表示与所述特定类型信号相对应的引脚电平状态。

9.根据权利要求8所...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈小凤郑倩冰吴彤
申请(专利权)人:飞腾信息技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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