【技术实现步骤摘要】
本技术属于芯片测试技术改进领域，尤其涉及一种带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路及测试系统。
技术介绍
1、目前一般使用ic测试机测试此类光耦的电参数；也有技术人员设计多种测试装置来测试此类芯片的电参，而通常的测试装置测试某几个电参数，需要多个测试装置才能测试全部电参数。
2、ic测试机价格昂贵且操作不易，需专业技术人员编程与维护；若使用现有的测试装置，测试一颗产品需要使用多个测试装置，操作较繁琐，效率较低。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路及测试系统，旨在解决上述的技术问题。
2、本技术是这样实现的，一种带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，所述带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路包括ic测试座、电压输入模块、信号输入模块、脉冲输入模块、滤波模块及模拟栅极模块，所述电源输入模块的输出端、信号输入模块的输出端及脉冲输入模块的输出端分别连接所述ic测试座的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述模拟栅极模块的输入端。
3、本技术的进一步技术方案是：所述电压输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压单元及第四电压单元，所述第一电压单元的输出端分别连接所述ic测试座的第2、3脚，所述第二电压单元的输出端分别连接所述ic测试座的第13、11及12脚，所述第三电压单元的输出端分别连接所述第14及16脚，所述第四电压单元的输出端连接所
4、本技术的进一步技术方案是：所述第一电压单元包括可调电阻vr1、开关k1及开关k4，所述可调电阻vr1的一端连接所述开关k1的一端，所述开关k1的另一端分别连接所述ic测试座的第3脚及开关k4的一端。
5、本技术的进一步技术方案是：所述第二电压单元包括可调电阻vr11、开关k11、开关k8、可调电阻vr8、开关k9、可调电阻vr9、开关k6、可调电阻vr6、开关k7、可调电阻vr7、开关k12、可调电阻vr12、开关k13及开关k14，所述可调电阻vr11的一端分别连接所述开关k11的一端、开关k8的一端、开关k6的一端及ic测试座的第13脚，所述开关k8的另一端将所述可调电阻vr8分别连接所述ic测试座的第11脚及开关k9的一端，所述开关k9的另一端经所述可调电阻vr9接地，所述开关k6的另一端经所述可调电阻vr6分别连接所述ic测试座的第11脚及开关k7的一端，所述开关k7的另一端经所述可调电阻vr7接地，所述开关k12的一端连接所述ic测试座的第11脚，所述开关k12的另一端经所述可调电阻vr12连接开关k13的一端，所述ic测试座的第10脚经所述开关k14接地。
6、本技术的进一步技术方案是：所述第三电压单元包括可调电阻vr10、开关k10及开关k5，所述可调电阻vr10与所述开关k10并联后的一端分别连接所述开关k5的一端及ic测试座的第14脚，所述开关k5的另一端连接所述ic测试座的第16脚。
7、本技术的进一步技术方案是：所述第四电压单元包括可调电阻vr4，所述可调电阻vr4的一端连接所述ic测试座的第15脚。
8、本技术的进一步技术方案是：所述信号输入模块包括可调电阻vr2、开关k2、开关k15、可调电阻vr3及开关k3，所述可调电阻vr2与所述开关k2并联后的一端分别连接所述ic测试座的第6、7脚，所述可调电阻vr2与所述开关k2并联后的另一端连接所述开关k15的一端，所述开关k15的另一端连接所述可调电阻vr3与所述开关k3并联后的一端，所述可调电阻vr3与所述开关k3并联后的另一端连接所述ic测试座的第8脚。
9、本技术的进一步技术方案是：所述脉冲输入模块包括高压脉冲发生器p1，所述高压脉冲发生器p1的正输出端分别连接所述ic测试座的第1、4、5及8脚，所述高压脉冲发生器p1的负输出端接地，所述模拟栅极模块包括电容c5，所述电容c5的一端连接所述开关k13的另一端，所述电容c5的另一端接地。
10、本技术的进一步技术方案是：所述滤波模块包括电容c1、电容c2、电容c3及电容4，所述电容c1的一端连接所述可调电阻vr1的另一端，所述电容c2的一端连接所述开关k4的另一端，所述可调电阻vr10的一端分别连接所述电容c3的一端及电容c4的一端，所述电容c1的另一端、电容c2的另一端、电容c3的另一端及电容c4的另一端均接地。
11、本技术的另一目的在于提供一种测试系统，所述测试系统包括测试电路、直流电压源、信号发生器、万用表、示波器及热电耦测温仪，所述直流电压源的输出端连接所述测试电路的输入端，所述信号发生器的输出端连接所述测试电路的输入端，所述测试电路的输出端分别连接所述示波器的输入端及万用表的输入端，所述热电耦测温仪的测试电路中ic测试座上的被测物的表面温度。
12、本技术的有益效果是：该测试电路简单、低成本的设备便利地完成此类产品的电参数测试，极大地方便了此类带保护功能的驱动光耦的测试，使用单一测试装置和低成本的常规设备就可完成所有电参数测试，所用设备均是技术部门的必备设备，无须购买ic测试机等昂贵设备，且能保证测试精度。
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1.带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路包括IC测试座、电压输入模块、信号输入模块、脉冲输入模块、滤波模块及模拟栅极模块，所述电压输入模块的输出端、信号输入模块的输出端及脉冲输入模块的输出端分别连接所述IC测试座的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述模拟栅极模块的输入端。
2.根据权利要求1所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述电压输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压单元及第四电压单元，所述第一电压单元的输出端分别连接所述IC测试座的第2、3脚，所述第二电压单元的输出端分别连接所述IC测试座的第13、11及12脚，所述第三电压单元的输出端分别连接所述第14及16脚，所述第四电压单元的输出端连接所述IC测试座的第16脚。
3.根据权利要求2所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第一电压单元包括可调电阻VR1、开关K1及开关K4，所述可调电阻VR1的一端连接所述开关K1的一端
4.根据权利要求3所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第二电压单元包括可调电阻VR11、开关K11、开关K8、可调电阻VR8、开关K9、可调电阻VR9、开关K6、可调电阻VR6、开关K7、可调电阻VR7、开关K12、可调电阻VR12、开关K13及开关K14，所述可调电阻VR11的一端分别连接所述开关K11的一端、开关K8的一端、开关K6的一端及IC测试座的第13脚，所述开关K8的另一端将所述可调电阻VR8分别连接所述IC测试座的第11脚及开关K9的一端，所述开关K9的另一端经所述可调电阻VR9接地，所述开关K6的另一端经所述可调电阻VR6分别连接所述IC测试座的第11脚及开关K7的一端，所述开关K7的另一端经所述可调电阻VR7接地，所述开关K12的一端连接所述IC测试座的第11脚，所述开关K12的另一端经所述可调电阻VR12连接开关K13的一端，所述IC测试座的第10脚经所述开关K14接地。
5.根据权利要求4所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第三电压单元包括可调电阻VR10、开关K10及开关K5，所述可调电阻VR10与所述开关K10并联后的一端分别连接所述开关K5的一端及IC测试座的第14脚，所述开关K5的另一端连接所述IC测试座的第16脚。
6.根据权利要求5所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第四电压单元包括可调电阻VR4，所述可调电阻VR4的一端连接所述IC测试座的第15脚。
7.根据权利要求6所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述信号输入模块包括可调电阻VR2、开关K2、开关K15、可调电阻VR3及开关K3，所述可调电阻VR2与所述开关K2并联后的一端分别连接所述IC测试座的第6、7脚，所述可调电阻VR2与所述开关K2并联后的另一端连接所述开关K15的一端，所述开关K15的另一端连接所述可调电阻VR3与所述开关K3并联后的一端，所述可调电阻VR3与所述开关K3并联后的另一端连接所述IC测试座的第8脚。
8.根据权利要求7所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述脉冲输入模块包括高压脉冲发生器P1，所述高压脉冲发生器P1的正输出端分别连接所述IC测试座的第1、4、5及8脚，所述高压脉冲发生器P1的负输出端接地，所述模拟栅极模块包括电容C5，所述电容C5的一端连接所述开关K13的另一端，所述电容C5的另一端接地。
9.根据权利要求8所述的带保护功能的IGBT栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述滤波模块包括电容C1、电容C2、电容C3及电容4，所述电容C1的一端连接所述可调电阻VR1的另一端，所述电容C2的一端连接所述开关K4的另一端，所述可调电阻VR10的一端分别连接所述电容C3的一端及电容C4的一端，所述电容C1的另一端、电容C2的另一端、电容C3的另一端及电容C4的另一端均接地。
10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括权利要求1－9任一项所述的测试电路、直流电压源、信号发生器、万用表、示波器及热电耦测温仪，所述直流电压源的输出端连接所述测试电路的输入端，所述信号发生器的输出端连接所述测试电路的输入端，所述测试电路的输出端分别连接所述示波器的输入端及万用表的输入端，所述热电耦测温仪的测试测试电路中IC测试座上的被测物的表面温度。<...
【技术特征摘要】
1.带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路包括ic测试座、电压输入模块、信号输入模块、脉冲输入模块、滤波模块及模拟栅极模块，所述电压输入模块的输出端、信号输入模块的输出端及脉冲输入模块的输出端分别连接所述ic测试座的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述滤波模块的输入端，所述电压输入模块的输出端连接所述模拟栅极模块的输入端。
2.根据权利要求1所述的带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述电压输入模块包括第一电压单元、第二电压单元、第三电压单元及第四电压单元，所述第一电压单元的输出端分别连接所述ic测试座的第2、3脚，所述第二电压单元的输出端分别连接所述ic测试座的第13、11及12脚，所述第三电压单元的输出端分别连接所述第14及16脚，所述第四电压单元的输出端连接所述ic测试座的第16脚。
3.根据权利要求2所述的带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第一电压单元包括可调电阻vr1、开关k1及开关k4，所述可调电阻vr1的一端连接所述开关k1的一端，所述开关k1的另一端分别连接所述ic测试座的第3脚及开关k4的一端。
4.根据权利要求3所述的带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，其特征在于，所述第二电压单元包括可调电阻vr11、开关k11、开关k8、可调电阻vr8、开关k9、可调电阻vr9、开关k6、可调电阻vr6、开关k7、可调电阻vr7、开关k12、可调电阻vr12、开关k13及开关k14，所述可调电阻vr11的一端分别连接所述开关k11的一端、开关k8的一端、开关k6的一端及ic测试座的第13脚，所述开关k8的另一端将所述可调电阻vr8分别连接所述ic测试座的第11脚及开关k9的一端，所述开关k9的另一端经所述可调电阻vr9接地，所述开关k6的另一端经所述可调电阻vr6分别连接所述ic测试座的第11脚及开关k7的一端，所述开关k7的另一端经所述可调电阻vr7接地，所述开关k12的一端连接所述ic测试座的第11脚，所述开关k12的另一端经所述可调电阻vr12连接开关k13的一端，所述ic测试座的第10脚经所述开关k14接地。
5.根据权利要求4所述的带保护功能的igbt栅极驱动光耦的测试电路，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：明迪生，赖海江，
申请(专利权)人：安芯微半导体技术深圳股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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