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基于超声检测的缺陷识别方法、装置、介质和检测系统制造方法及图纸

技术编号:42053028 阅读:11 留言:0更新日期:2024-07-16 23:32
本发明专利技术公开了一种基于超声检测的缺陷识别方法、装置、介质和检测系统,其中,方法包括:获取待检测部的回波波形;对回波波形进行波形自相关静态比较和动态比较以及波形互相关静态比较和动态比较,获得缺陷波形特征;根据缺陷波形特征确定待检测部的缺陷类型。由此,根据本发明专利技术实施例的基于超声检测的缺陷识别方法,可以通过对回波波形进行波形自相关静态比较和动态比较以及波形互相关静态比较和动态比较,以获取待检测部的回波波形的缺陷波形特征,并根据缺陷波形特征精准地确定出待检测部的缺陷类型,从而,在确保正常的超声检测工作的前提下,有效降低超声检测的检测误报率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声检测,尤其涉及一种基于超声检测的缺陷识别方法、一种计算机可读存储介质、一种基于超声检测的缺陷识别装置和一种超声检测系统。


技术介绍

1、相关技术的超声检测系统中,通常采用的是闸门判别方法,即通过设置相应的报警闸门宽度阈值和高度阈值来对待检测物的回波波形进行缺陷识别与报警。

2、然而,相关技术的问题在于,在进行超声检测的过程中,由于受到工件制造、组装和运用过程中的不同因素影响,会出现大量的回波信号超出报警闸门宽度阈值和高度阈值而触发误报警,导致超声检测的误报率居高不下,不利于进行正常的超声检测工作。


技术实现思路

1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本专利技术的第一个目的在于提出一种基于超声检测的缺陷识别方法,能够在确保正常的超声检测工作的前提下,有效降低超声检测的检测误报率。

2、本专利技术的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

3、本专利技术的第三个目的在于提出一种超声检测系统。

4、本专利技术的第四个目的在于提出一种基于超声检测的缺陷识别装置。

5、本专利技术的第五个目的在于提出另一种超声检测系统。

6、为达到上述目的,本专利技术第一方面实施例提出的基于超声检测的缺陷识别方法,包括:获取待检测部的回波波形;对所述回波波形进行波形自相关静态比较和动态比较以及波形互相关静态比较和动态比较,获得缺陷波形特征;根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型。

7、根据本专利技术实施例的基于超声检测的缺陷识别方法,可以通过对回波波形进行波形自相关静态比较和动态比较以及波形互相关静态比较和动态比较,以获取待检测部的回波波形的缺陷波形特征,并根据缺陷波形特征精准地确定出待检测部的缺陷类型,从而,在确保正常的超声检测工作的前提下,有效降低超声检测的检测误报率。

8、另外,根据本专利技术上述实施例的基于超声检测的缺陷识别方法,还可以具有如下的附加技术特征:

9、在本专利技术的一些实施例中,所述缺陷类型包括裂纹缺陷、压装应力缺陷、刀痕缺陷和腐蚀缺陷中的一种或多种。

10、在本专利技术的一些实施例中,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:在所述缺陷波形特征满足裂纹反射波的波形变化特征时,确定所述待检测部存在裂纹缺陷,其中,所述裂纹反射波的波形变化特征包括:波形自相关静态比较时的裂纹反射波无杂波、根部前沿到波幅最高值的一半高度之间连线的斜率和波幅最高值的一半高度到波幅最高值之间连线的斜率在预设区间且均不小于第一预设值;波形自相关动态比较时的裂纹反射波在探头往复移动时有规律地左右移动、且波峰逐渐由高变低和再由低变高,而在探头作周向平稳运动时波幅逐渐变化、且无左右移动;波形互相关静态比较时的裂纹反射波峰值与始波和底波之间相对距离稳定;波形互相关动态比较时的裂纹反射波在探头往复移动时有规律地左右移动、且波峰逐渐由高变低和再由低变高,裂纹反射波峰值与始波和底波之间相对距离稳定,在探头作周向平稳运动时裂纹反射波和底波仅有波幅的逐渐变化、且无左右移动。

11、在本专利技术的一些实施例中,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:在所述缺陷波形特征满足压装应力波的波形变化特征时,确定所述待检测部存在压装应力缺陷,其中,所述压装应力波的波形变化特征包括:波形自相关静态比较时的压装应力波前后沿呈不规则波形、且根部前沿到波幅最高值的一半高度之间连线的斜率和波幅最高值的一半高度到波幅最高值之间连线的斜率小于第二预设值;波形自相关动态比较时的压装应力波在探头往复移动时存在多峰,而在探头作周向平稳运动时仅有波幅的逐渐变化、无左右移动;波形互相关静态比较时的压装应力波峰值与始波和底波之间相对距离稳定;波形互相关动态比较时的压装应力波在探头往复移动时存在多峰,而在探头作周向平稳运动时仅有波幅的逐渐变化、且峰值与始波和底波之间相对距离稳定。

12、在本专利技术的一些实施例中,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:在所述缺陷波形特征满足刀痕反射波的波形变化特征时,确定所述待检测部存在刀痕缺陷,其中,所述刀痕反射波的波形变化特征包括:波形自相关静态比较时的刀痕反射波的位移小于预设位移阈值,波幅大于预设波幅阈值,且根部前沿到波幅最高值的一半高度之间连线的斜率和波幅最高值的一半高度到波幅最高值之间连线的斜率小于第二预设值;波形自相关动态比较时的刀痕反射波在探头往复移动时前后存在多条小型反射波、在扫描线上此起彼伏、左右滚动;波形互相关静态比较时的刀痕反射波峰值与始波和底波之间相对距离稳定;

13、波形互相关动态比较时的刀痕反射波在探头往复移动时峰值与始波和底波之间相对距离稳定,且与底波之间相对幅值处于预设幅值波动范围内。

14、在本专利技术的一些实施例中,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:在所述缺陷波形特征满足腐蚀沟反射波的波形变化特征时,确定所述待检测部存在腐蚀缺陷,其中,所述腐蚀沟反射波的波形变化特征包括:波形自相关静态比较时的腐蚀沟反射波分布在出现裂纹的区域内,有时与裂纹重合,且波峰处于预设峰值范围内;波形自相关动态比较时的腐蚀沟反射波在移动探头时存在游动现象,而在探头往复移动时腐蚀沟反射波在扫描线上有规律地左右移动;波形互相关静态比较时的腐蚀沟反射波与始波和底波之间相对距离稳定;波形互相关动态比较时的腐蚀沟反射波在探头往复移动时在扫描线上的波形呈有规律地左右移动,且峰值与始波和底波之间相对距离稳定。

15、为达到上述目的,本专利技术第二方面实施例提出的计算机可读存储介质,其上存储有基于超声检测的缺陷识别程序,该基于超声检测的缺陷识别程序被处理器执行时实现前述本专利技术实施例的基于超声检测的缺陷识别方法。

16、根据本专利技术实施例的计算机可读存储介质,通过处理器执行其上存储有的基于超声检测的缺陷识别程序,能够在确保正常的超声检测工作的前提下,有效降低超声检测的检测误报率。

17、为达到上述目的,本专利技术实施例的第三方面提出的超声检测系统,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的基于超声检测的缺陷识别程序,所述处理器执行所述基于超声检测的缺陷识别程序时,实现前述本专利技术实施例的基于超声检测的缺陷识别方法。

18、根据本专利技术实施例的超声检测系统,通过处理器运行存储器上的基于超声检测的缺陷识别程序,能够在确保正常的超声检测工作的前提下,有效降低超声检测的检测误报率。

19、为达到上述目的,本专利技术实施例的第四方面提出的基于超声检测的缺陷识别装置,包括:获取模块,用于获取待检测部的回波波形;比较模块,用于对所述回波波形进行波形自相关静态比较和动态比较以及波形互相关静态比较和动态比较,获得缺陷波形特征;确定模块,用于根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型。

20、根据本专利技术实施例的基于超声检测的缺陷识别装置,通过获取模块获取待检测部的回波波形,并通过比较模块对回波波形进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于超声检测的缺陷识别方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷类型包括裂纹缺陷、压装应力缺陷、刀痕缺陷和腐蚀缺陷中的一种或多种。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

7.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有基于超声检测的缺陷识别程序,该基于超声检测的缺陷识别程序被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的基于超声检测的缺陷识别方法。

8.一种超声检测系统,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的基于超声检测的缺陷识别程序,所述处理器执行所述基于超声检测的缺陷识别程序时,实现根据权利要求1-6中任一项所述的基于超声检测的缺陷识别方法。

9.一种基于超声检测的缺陷识别装置,其特征在于,包括:

10.一种超声检测系统,其特征在于,包括根据权利要求9所述的基于超声检测的缺陷识别装置。

...

【技术特征摘要】

1.一种基于超声检测的缺陷识别方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷类型包括裂纹缺陷、压装应力缺陷、刀痕缺陷和腐蚀缺陷中的一种或多种。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类型,包括:

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷波形特征确定所述待检测部的缺陷类...

【专利技术属性】
技术研发人员:谭鹰张旭亮张闪吴艳杰赵斌
申请(专利权)人:北京新联铁集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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