【技术实现步骤摘要】
本技术涉及元器件检测，尤其涉及一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置。
技术介绍
1、达林顿晶体管是一种半导体复合管，由于其结构为两个晶体管复合而成，所以达林顿晶体管放大倍数较大，有的达林顿晶体管的放大倍数可以达到几千倍，甚至上万倍。达林顿管因其具有很高的放大系数，广泛应用于电力电子，发动机，发电机组，纺织机械，汽车空调风扇调节器中。
2、公告号为cn206775770u的中国专利申请公开了一种基于多路达林顿晶体管阵列的改进电路，包含达林顿晶体管阵列，控制单元，供电直流电源，感性负载，达林顿管阵列内部续流二极管公共端分别连接一个接地开关和公共续流二极管，公共续流二极管负极接感性负载的供电直流电源，接地开关闭合，达林顿晶体管阵列全驱动，接地开关断开，达林顿晶体管阵列内部各个续流二极管与公共续流二极管形成感性负载的续流回路。但是上述方案接入达林顿晶体管阵列后仅能实现对达林顿晶体管阵列的全驱动，同时进行全驱动的达林顿晶体管数量存在限制，无法实现对多组达林顿晶体管阵列的检测，因此，提供一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置，来提升达林顿晶体管阵列的检测效率，是非常有必要的。
技术实现思路
1、有鉴于此，本技术提出了一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，通过第一开关模块和第二开关模块对应切换检测模块中的多条检测支路，实现集成电路检测模块对于检测支路中达林顿管的切换检测，从而提升达林顿晶体管阵列的检测效率。
2、第一方面，本技术提供了一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路
3、所述第一检测模块分别与所述第一开关模块和所述集成电路检测模块电性连接，所述第一检测模块包括第一检测支路、第二检测支路、第三检测支路以及第四检测支路；
4、所述第一开关模块与所述集成电路检测模块电性连接，所述第一开关模块用于切换所述第一检测支路、所述第二检测支路、所述第三检测支路以及所述第四检测支路；
5、所述第二检测模块分别与所述第二开关模块和所述集成电路检测模块电性连接，所述第二检测模块包括第五检测支路、第六检测支路、第七检测支路以及第八检测支路；
6、所述第二开关模块与所述集成电路检测模块电性连接，所述第二开关模块用于切换所述第五检测支路、所述第六检测支路、所述第七检测支路以及所述第八检测支路；
7、所述集成电路检测模块用于分别向所述第一检测模块和所述第二检测模块传输多个测试信号，使所述第一检测模块和所述第二检测模块对应产生的多个检测信号。
8、在以上技术方案的基础上，优选的，所述第一开关模块包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，所述第一切换单元分别所述第二切换单元和所述第三切换单元电性连接，所述第二切换单元分别与所述第四切换单元和所述第五切换单元电性连接，所述第三切换单元分别与所述第六切换单元和所述第七切换单元电性连接，所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均与所述集成电路检测模块电性连接。
9、在以上技术方案的基础上，优选的，所述第一检测支路分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第二检测支路分别与所述第五切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第三检测支路分别与所述第六切换单元和所述集成电路检测模块电性连接，所述第四检测支路分别与所述第七切换单元和所述集成电路检测模块电性连接。
10、更进一步优选的，所述集成电路检测模块包括集成电路测试系统母板、第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座，所述集成电路测试系统母板分别与所述第一欧式插座、所述第二欧式插座、所述第三欧式插座以及所述第二开关模块电性连接，所述第一欧式插座分别与所述第一检测模块和所述第二检测模块电性连接。
11、更进一步优选的，所述第一检测支路包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块电性连接。
12、更进一步优选的，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均包括dip转接座和达林顿晶体管阵列，所述dip转接座与所述达林顿晶体管阵列电性连接。
13、更进一步优选的，所述第一切换单元、所述第二切换单元、所述第三切换单元、所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均为继电器。
14、第二方面，本申请提供一种多支路达林顿晶体管阵列测试装置，其包括壳体和设有第一方面中任一一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板，上述电路板设于上述壳体内。
15、本技术提供的一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路及装置相对于现有技术具有以下有益效果：
16、(1)通过第一开关模块和第二开关模块对应切换第一检测模块和第二检测模块中的多个检测支路，使得检测电路能够实时检测多条检测支路中的达林顿管，实现集成电路检测模块对于检测支路中达林顿管的切换检测，从而提升达林顿晶体管阵列的检测效率；
17、(2)通过设置第一开关模块和第二开关模块，以简化与对应检测模块之间的连接电路，同时通过第一开关模块和第二开关模块组合控制每个切换单元的通断，每次可以使1个待测器件与集成电路检测模块导通并进行测试，使得测试电路能够批量完成达林顿晶体管阵列的测试，能够极大提升达林顿晶体管阵列的检测效率。
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1.一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，包括第一检测模块(1)、第一开关模块(2)、第二检测模块(3)、第二开关模块(4)以及集成电路检测模块(5)，其中，
2.如权利要求1所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一开关模块(2)包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，所述第一切换单元分别所述第二切换单元和所述第三切换单元电性连接，所述第二切换单元分别与所述第四切换单元和所述第五切换单元电性连接，所述第三切换单元分别与所述第六切换单元和所述第七切换单元电性连接，所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均与所述集成电路检测模块(5)电性连接。
3.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一检测支路分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第二检测支路分别与所述第五切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第三检测支路分别与所述第六切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述
4.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述集成电路检测模块(5)包括集成电路测试系统母板、第一欧式插座、第二欧式插座以及第三欧式插座，所述集成电路测试系统母板分别与所述第一欧式插座、所述第二欧式插座、所述第三欧式插座以及所述第二开关模块(4)电性连接，所述第一欧式插座分别与所述第一检测模块(1)和所述第二检测模块(3)电性连接。
5.如权利要求4所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一检测支路包括第一待测器件、第二待测器件、第三待测器件以及第四待测器件，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接。
6.如权利要求5所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一待测器件、所述第二待测器件、所述第三待测器件以及所述第四待测器件均包括DIP转接座和达林顿晶体管阵列，所述DIP转接座与所述达林顿晶体管阵列电性连接。
7.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一切换单元、所述第二切换单元、所述第三切换单元、所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均为继电器。
8.一种多支路达林顿晶体管阵列测试装置，其特征在于，包括壳体和设有如权利要求1至7任一项所述的一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路的电路板，所述电路板设于所述壳体内。
...【技术特征摘要】
1.一种多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，包括第一检测模块(1)、第一开关模块(2)、第二检测模块(3)、第二开关模块(4)以及集成电路检测模块(5)，其中，
2.如权利要求1所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一开关模块(2)包括第一切换单元、第二切换单元、第三切换单元、第四切换单元、第五切换单元、第六切换单元以及第七切换单元，所述第一切换单元分别所述第二切换单元和所述第三切换单元电性连接，所述第二切换单元分别与所述第四切换单元和所述第五切换单元电性连接，所述第三切换单元分别与所述第六切换单元和所述第七切换单元电性连接，所述第四切换单元、所述第五切换单元、所述第六切换单元以及所述第七切换单元均与所述集成电路检测模块(5)电性连接。
3.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述第一检测支路分别与所述第四切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第二检测支路分别与所述第五切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第三检测支路分别与所述第六切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接，所述第四检测支路分别与所述第七切换单元和所述集成电路检测模块(5)电性连接。
4.如权利要求2所述的多支路达林顿晶体管阵列测试电路，其特征在于，所述集成电路检测模块(5)包括集成电...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡增，谭建东，李卫平，程涛，饶尊煜，刘维，王艺澄，韩毅，丁志强，吴楚俊，金祥，陶晶晶，李明轶，
申请(专利权)人：中电中南武汉计量检测有限公司，
类型：新型
国别省市：
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