【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于量子，具体涉及一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法。
技术介绍
1、量子纠缠是量子计算中的重要概念，可以带来巨大的加速效应，是实现量子计算能力指数增长的基础之一。然而，要实现大规模的多量子比特操控却是一个具有挑战性的目标，不仅需要高连通性的量子系统和高保真度的多比特门，还需要高效、精密的量子态测量。目前的样品架构和测量手段在面临大规模量子比特测量时存在结构复杂、效率低下等诸多挑战。
2、为了应对这些挑战，我们提出了一种新的技术，该技术利用探测比特读取目标比特的信息，以减少大规模比特读取腔的数量，从而简化超导量子芯片的结构。这种技术尤其适用于目标比特只需要能谱信息的情况，例如耦合器。耦合器能谱的测量对于超导量子芯片中的磁通串扰校准、波形失真校准和门操控校准至关重要。通过准确测量耦合器能谱并相应地调整和优化，可提高量子计算的可靠性、精度和性能。
3、目前现有的测量方案主要分为连续波测量和脉冲测量两类。连续波测量使用矢量网络分析仪和连续微波信号进行测量，通过对探测比特施加连续波并分析读取腔信号来获取目标比特的能谱信息。然而，连续波测量存在一些问题，如芯片升温、交流斯塔克偏移以及与后续比特的高精度量子控制不兼容等。另一种方式是脉冲测量，通过时序脉冲输入到芯片上，根据数据采集卡的解调结果获取读取腔和探测比特的信息。为了减少芯片上的读取腔数量，提高集成度，一般不会设计耦合器的读取腔，但耦合器的参数对实验具有重要影响，因此需要研究并提出新的测量方案，以实现高效、准确的耦合器能谱测量。。
【技术保护点】
1.一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述方法包括连续波测量方法或脉冲测量方法，其中，所述连续波测量方法，包括如下所述的步骤：
2.根据权利要求1所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁是指|0g>到|1e>之间的跃迁；其中，|0>和|1>分别是探测比特的基态能级和第一激发态能级；|g>和|e>分别是目标比特的基态能级和第一激发态能级。
3.根据权利要求2所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁的有效哈密顿量为其中Ωac为第一束微波的驱动强度，Ωs为第二束变频微波的驱动强度，分为探测比特和目标比特生成(湮灭)算符的乘积。
4.根据权利要求3所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁的构造方法是通过调节探测比特和目标比特的失谐以及第一束微波和第二束变频微波的驱动强度即能构造出蓝色边带跃迁。
5.根据权利要求4所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述构造方法具体包括：>
6.根据权利要求5所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述构造方法的具体操作是通过探测比特与相应的读取腔耦合，读取腔与传输线耦合的方式，利用矢量网络分析仪进行连续波测量或者利用数据采集卡进行脉冲测量，从而获取读取腔的信息，并通过色散测量获得探测比特的信息。
7.根据权利要求1所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述S11或S21中的读取腔信息为读取腔的测量点，所述测量点包括读取频率、读取功率和电压偏置。
8.根据权利要求1所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述S13或S23中的边带跃迁是通过虚能级实现的。
9.根据权利要求1、2、3、4或5所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述探测比特为可调传输子量子比特；所述目标比特为可调耦合器。
10.根据权利要求1所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述目标比特的能谱测量是通过两台微波源和矢量网络分析仪实现的。
...【技术特征摘要】
1.一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述方法包括连续波测量方法或脉冲测量方法，其中，所述连续波测量方法，包括如下所述的步骤：
2.根据权利要求1所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁是指|0g>到|1e>之间的跃迁；其中，|0>和|1>分别是探测比特的基态能级和第一激发态能级；|g>和|e>分别是目标比特的基态能级和第一激发态能级。
3.根据权利要求2所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁的有效哈密顿量为其中ωac为第一束微波的驱动强度，ωs为第二束变频微波的驱动强度，分为探测比特和目标比特生成(湮灭)算符的乘积。
4.根据权利要求3所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特征在于，所述蓝色边带跃迁的构造方法是通过调节探测比特和目标比特的失谐以及第一束微波和第二束变频微波的驱动强度即能构造出蓝色边带跃迁。
5.根据权利要求4所述的一种利用边带跃迁测量耦合器能谱的方法，其特...
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