【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及固态硬盘测试领域，尤其涉及一种固态硬盘测试方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
1、伴随着数字经济的高速发展，信息化产业对计算机性能的要求越来越高，固态硬盘作为数据存储的载体，其技术指标的要求也越来越严格。为了确保固态硬盘的性能，企业的工程师需要对固态硬盘进行读写压力测试，以确保固态硬盘的技术指标符合要求。
2、但是，即便固态硬盘已经通过了严苛的读写压力测试，在消费者实际使用过程中固态硬盘仍然容易出现异常情况。在消费者看来，出现异常情况的原因，是企业进行读写压力测试的技术存在瑕疵；而在企业看来，现有固态硬盘的读写压力测试是符合行业规范的，若企业在读写压力测试的环节耗费过多资源，会影响固态硬盘的整体成本。
3、因此，针对上述问题，行业内尚未提出合理的解决方案，显著减少消费者实际使用过程中固态硬盘出现的异常情况。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是：如何设计出一种固态硬盘测试方法，能够显著减少消费者实际使用过程中固态硬盘出现的异常情况。
2、为解决上述问题，本专利技术实施例提出一种固态硬盘测试方法、装置、电子设备及介质，所述固态硬盘测试方法首先通过格式化获得空白分区，然后将空白分区转化为待测分区之后进行读写压力测试获得测试结果，接着判断执行次数是否小于预设的次数阈值，若小于则继续执行通过格式化获得空白分区直至获得测试结果的流程，每次拷贝入测试资料后格式化都伴随着固态硬盘分区的性能衰减，即每次获得的测试结果都是固态硬盘分区
3、第一方面，本专利技术提出一种固态硬盘测试方法，所述方法包括：s1，对固态硬盘分区进行格式化，获得空白分区；s2，将预设的测试资料拷贝到所述空白分区，获得待测分区；s3，对所述待测分区进行读写压力测试，获得测试结果；s4，判断步骤s1-s3的执行次数是否小于预设的次数阈值；s5，若步骤s1-s3的执行次数小于预设的次数阈值，转到步骤s1；s6，若步骤s1-s3的执行次数不小于预设的次数阈值，判断所述测试结果是否符合预设的测试要求；s7，若所述测试结果符合预设的测试要求，判定所述固态硬盘合格。
4、其进一步的技术方案为，所述判断所述测试结果是否符合预设的测试要求，包括：判断所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值是否超过预设的阈值；若所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值未超过预设的阈值，则判定所述测试结果符合预设的测试要求；若所述测试结果与所述预设的技术指标之间的偏差值超过预设的阈值，则判定所述测试结果不符合预设的测试要求。
5、其进一步的技术方案为，所述判断所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值是否超过预设的阈值，包括：判断待测分区的每秒读写的次数与预设的每秒读写的次数之间的第一偏差值是否超过预设的第一阈值；判断待测分区的每秒传输的位数量与预设的每秒传输的位数量之间的第二偏差值是否超过预设的第二阈值；若所述第一偏差值未超过预设的第一阈值，且所述第二偏差值未超过预设的第二阈值，判定所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值未超过预设的阈值；若所述第一偏差值超过预设的第一阈值，或所述第二偏差值是否超过预设的第二阈值，判定所述测试结果与所述预设的技术指标之间的偏差值超过预设的阈值。
6、其进一步的技术方案为，所述次数阈值大于等于三。
7、其进一步的技术方案为，所述将预设的测试资料拷贝到所述空白分区，获得待测分区，包括：将批处理文件、fio工具、文档数据以及视频数据拷贝到所述空白分区，获得待测分区。
8、其进一步的技术方案为，所述对所述待测分区进行读写压力测试，获得测试结果，包括：启动所述待测分区中的所述批处理文件以打开所述fio工具、所述文档数据以及所述视频数据，对所述待测分区进行读写压力测试，获得测试结果。
9、其进一步的技术方案为，所述对所述待测分区进行读写压力测试，包括：对所述待测分区进行顺序读写测试、随机读写测试以及混合读写测试。
10、第二方面，本专利技术提出一种固态硬盘测试装置，所述固态硬盘测试装置包括用于执行如第一方面所述方法的单元。
11、第三方面，本专利技术提出一种电子设备，包括：存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现如第一方面所述方法的步骤。
12、第四方面，本专利技术提出计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时可实现如第一方面所述的方法。
13、当前行业内的测试方案未考虑到消费者实际使用固态硬盘的过程中，可能因为对某些数据进行读写操作以及读写过程中误操作对硬盘进行格式化，导致硬盘出现系统文件格式损坏或者锁盘等问题。基于上述问题，本申请所述方案结合硬盘格式化和读写压力测试，可以对硬盘质量进行更加严苛的验证。
14、综上所述，现有测试技术存在缺陷，在消费者实际使用过程中固态硬盘容易出现异常情况，本方案可以显著减少消费者实际使用过程中固态硬盘出现的异常情况；本专利技术的有益效果为，首先通过格式化获得空白分区，然后将空白分区转化为待测分区之后进行读写压力测试获得测试结果，接着判断执行次数是否小于预设的次数阈值，若小于则继续执行通过格式化获得空白分区直至获得测试结果的流程，每次拷贝入测试资料后格式化都伴随着固态硬盘分区的性能衰减，即每次获得的测试结果都是固态硬盘分区经过了性能衰减的多次考验之后生成的，如此一来筛选出符合测试要求的固态硬盘，属于经过了多次考验后依然未出现异常的固态硬盘产品，即可以显著减少消费者实际使用过程中固态硬盘出现的异常情况。
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1.一种固态硬盘测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述判断所述测试结果是否符合预设的测试要求，包括：
3.根据权利要求2所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述测试结果包括待测分区的每秒读写的次数以及待测分区的每秒传输的位数量，所述技术指标包括预设的每秒读写的次数以及预设的每秒传输的位数量，所述判断所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值是否超过预设的阈值，包括：
4.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述将预设的测试资料拷贝到所述空白分区，获得待测分区，包括：
6.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述对所述待测分区进行读写压力测试，获得测试结果，包括：
7.根据权利要求6所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述对所述待测分区进行读写压力测试，包括：
8.一种固态硬盘测试装置，其特征在于，所述固态硬盘测试装置包括用于执行如权利要求1-7任一项所述方法的
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于：
...【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述判断所述测试结果是否符合预设的测试要求，包括：
3.根据权利要求2所述的固态硬盘测试方法，其特征在于，所述测试结果包括待测分区的每秒读写的次数以及待测分区的每秒传输的位数量，所述技术指标包括预设的每秒读写的次数以及预设的每秒传输的位数量，所述判断所述测试结果与预设的技术指标之间的偏差值是否超过预设的阈值，包括：
4.根据权利要求1所述的固态硬盘测试方法，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢维，李创锋，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：
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