【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子电路，更具体地说，它涉及一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路。
技术介绍
1、单片机正常工作时，因某种原因造成突然掉电，会导致系统运行中所采集和运算出的重要数据丢失。
2、当系统在检测到ac掉电后，需要对数据进行保存、传输，对执行器的状态进行设置等；待再次上电后系统才能恢复原来的工作状态。因此，在系统完全断电之前，需要把这些重要数据保存在flash或eeprom中；故在mcu系统中需要加入单片机掉电检测电路与掉电数据保存电路。
3、目前市面上很多产品通过使用备用电池来实现数据保存，但也需有相应的充放电电路，成本也相应增加；
4、部分产品还通过使用法拉电容来实现单片机掉电检测与数据掉电保存，其使用寿命大于备用电池；该方案是直接将法拉电容接入dc模块进行能量储能，或是与ldo输出端连接；电容在上电瞬间需要充电，极大的电流涌入电容，对电源影响较大，对其本身也会造成一定的损伤，即便是增加了限流电阻同样也会对整个系统造成影响，如若限流电阻较大，则充电时间过长，系统启动时间也会相应增长，并且某些系列mcu对于上电（时序）时间有一定要求；
5、少数产品还使用专业掉电保护芯片来实现掉电保护，但是该方案会使电路变得更加复杂，设计成本增加。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本技术的目的在于提供一种解决上述技术方案的单片机掉电检测与数据掉电保存电路。
2、为实现上述目的，本技术提供了如下技术方案：
3、一种单
4、mcu和flash存储器通过spi通讯接口相连接，
5、供电芯片u1用于mcu和flash存储器供电，
6、电容c2用于mcu正常工作时的储能及滤波，
7、电阻r3和电容c3串联，且电阻r3的一端与mcu连接，电容c3的一端与开关q1连接，
8、电阻r1和电阻r2相互并联，并与mcu和电容c1的一端连接，电容c1的另一端与开关q1连接。
9、进一步的，供电芯片u1为ldo稳压器或dc/dc电源拓扑。
10、进一步的，开关q1为mostet或三极管。
11、进一步的，电阻r3可以为多个电阻串/并联。
12、进一步的，电容c2和电容c3可以为多个电容串/并联。
13、进一步的，电阻r1和r2可以为多个电阻串/并联。
14、进一步的，供电芯片u1和mcu之间连接有二极管d1。
15、进一步的，d1可以为多个二极管串/并联。
16、通过采用上述技术方案，本技术的有益效果为：
17、可以通过rc延时来控制储能电容开始充电的时间，不会对电源系统造成影响，即便是大容量储能电容也不会影响系统正常开机启动时间，成本低廉，并能实现单片机掉电检测与数据掉电保存。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，包括MCU、FLASH存储器、供电芯片U1、电容C1、电容C2、电容C3、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻4和开关Q1，
2.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述供电芯片U1为LDO稳压器或DC/DC电源拓扑。
3.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述开关Q1为MOSTET或三极管。
4.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述电阻R3为多个电阻串联或并联。
5.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述电容C2和电容C3为多个电容串联或并联。
6.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述电阻R1和R2为多个电阻串联或并联。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述供电芯片U1和MCU之间连接有二极管D1。
8.根据权利
...【技术特征摘要】
1.一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，包括mcu、flash存储器、供电芯片u1、电容c1、电容c2、电容c3、电阻r1、电阻r2、电阻r3、电阻4和开关q1，
2.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述供电芯片u1为ldo稳压器或dc/dc电源拓扑。
3.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述开关q1为mostet或三极管。
4.根据权利要求1所述的一种单片机掉电检测与数据掉电保存电路，其特征在于，所述电阻r3为多...
【专利技术属性】
技术研发人员：屠佳旺，沈中，王星星，
申请(专利权)人：浙江智行微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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