【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电路，特别涉及一种电流检测电路、电流检测器及电子设备。
技术介绍
1、诸如手机、平板电脑、笔记本电脑等电子设备中通常具有电流检测电路，电流检测电路用于检测如中央处理器、图形处理器、基带处理器等负载的电流。
2、相关技术中，电流检测电路通常包括采样电阻和处理单元。采样电阻与负载串联。处理单元通过检测采样电阻的电压，并根据采样电阻的电压和采样电阻的阻值得到采样电阻的电流，也就得到了负载的电流。一般地，为保证电流检测电路的检测精度，采样电阻的阻值不能过小。
3、然而，相关技术中，若采样电阻的阻值较大，则会带来较大的电能损耗，影响电子设备的续航能力。
技术实现思路
1、本申请提供了一种电流检测电路、电流检测器及电子设备，既可以保证电流检测电路的检测精度，又可以减小采样电阻带来的电能损耗，从而提升电子设备的续航能力。所述技术方案如下：
2、第一方面，提供了一种电流检测电路，包括第一分流单元、第二分流单元、电压调节单元、第一电阻和处理单元。
3、第一分流单元用于与负载串联于第一电压端和第二电压端之间。其中，第一电压端的电压大于第二电压端的电压，以形成从第一电压端开始，经第一分流单元、负载到达第二电压端的第一电流通路。在一些具体的实施例中，第二电压端可以是地线。
4、第二分流单元的第一端与第一分流单元的第一端连接，以使第二分流单元的第一端的电压与第一分流单元的第一端的电压相等。第一分流单元的第二端与电压调节单元的第一端连接，第
5、第一电阻连接于第二分流单元的第二端与第二电压端之间，以形成从第一电压端开始，经第二分流单元、第一电阻到达第二电压端的第二电流通路。第二电流通路也可以进一步包括负载。处理单元与第一电阻连接，以检测第一电阻的电压。处理单元工作时用于：根据第一电阻的电压以及目标比值确定负载的电流。目标比值为电流检测电路工作时第一分流单元的电流与第二分流单元的电流之比。第二分流单元与负载并联时，即第二电流通路不包括负载时，目标比值大于1；第二分流单元与负载串联时，即第二电路通路包括负载时，目标比值大于0。
6、在本申请中，电流检测电路包括第一分流单元、第二分流单元、电压调节单元、第一电阻和处理单元，所形成的电流通路包括第一电流通路和第二电流通路。第一电流通路包括串联的第一分流单元和负载，第二电流通路包括串联的第二分流单元和第一电阻。第一电阻为采样电阻。电压调节单元用于使第一分流单元两端的电压与第二分流单元两端的电压相同，从而使电流检测电路工作时第一分流单元的电流与第二分流单元的电流具有目标比值。处理单元工作时可以根据第一电阻的电压确定第一电阻的电流，再根据第一电阻的电流和目标比值来确定负载的电流，从而达到电流检测的目的。在此，当第二电流通路不包括负载，即第二分流单元与负载并联时，目标比值大于1。此时，第二分流单元的电流等于第一电阻的电流，并且小于第一分流单元的电流，也即小于负载的电流。当第二电流通路包括负载，即第二分流单元与负载串联时，目标比值大于0。此时，负载的电流等于第一分流单元的电流加上第二分流单元的电流，因此同样有第二分流单元的电流等于第一电阻的电流，并且小于负载的电流。如此，即可在保证电流检测电路的检测精度的前提下，通过使采样电阻的电流小于负载的电流来减小采样电阻带来的电能损耗，从而提升电子设备的续航能力。也就是说，相较于相关技术，在采样电阻的阻值不变的情况下，本申请通过减小采样电阻的电流来减小采样电阻带来的电能损耗。
7、在一些实施例中，第一分流单元包括多个晶体管。多个晶体管的第一极均与第二分流单元的第一端连接。多个晶体管的第二极均与电压调节单元的第一端连接。处理单元具有多个输出端，处理单元的多个输出端与多个晶体管的控制极一一对应连接，以控制多个晶体管中每个晶体管的导通与关断。处理单元还用于：根据多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，确定目标比值。
8、进一步地，处理单元还用于：根据第一电阻的电压调整多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数。也就是说，在这一实施例中，处理单元可以根据第一电阻的电压调整第一分流单元的多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，从而调整第一分流单元的电流与第二分流单元的电流之比。具体来说，处理单元内可以设有预设电压范围。处理单元工作时用于：若第一电阻的电压大于预设电压范围的最大值，则增加第一分流单元的多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，从而使第一电阻的电压处于预设电压范围内。以及，若第一电阻的电压小于预设电压范围的最小值，则减少第一分流单元的多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，从而使第一电阻的电压处于预设电压范围内。如此，无论负载的电流较大还是较小，都可以使第一电阻的电压保持在预设电压范围内，从而一方面可以保证电流检测精度，另一方面可以减小采样电阻带来的电能损耗。
9、在一些具体的实施例中，第一分流单元中多个晶体管中的每个晶体管的沟道宽度与沟道长度之比均相等。
10、在一些实施例中，第二分流单元包括第一晶体管。第一晶体管的第一极与第一分流单元的第一端连接，第一晶体管的第二极与电压调节单元的第二端连接。电流检测电路工作时，第一晶体管导通。
11、在一些实施例中，电压调节单元包括：运算放大器和开关晶体管。运算放大器的第一输入端与第一分流单元的第二端连接，运算放大器的第二输入端与第二分流单元的第二端及第一电阻的第一端连接，运算放大器的输出端与开关晶体管的控制极连接。第一电阻的第二端与开关晶体管的第一极连接，开关晶体管的第二极用于与第二电压端连接。
12、下面从三种可能的实现方式，对本申请提供的电流检测电路进行解释说明。
13、在第一种可能的实现方式中，第一分流单元的第一端用于与第一电压端连接，第一分流单元的第二端用于与负载的第一端连接，负载的第二端与第二电压端连接。第一电阻的第一端与第二分流单元的第二端连接，第一电阻的第二端用于与负载的第二端连接。这种情况下，第二电流通路不包括负载，即第二分流单元与负载并联。此时，处理单元用于：根据第一电阻的电压和第一电阻的阻值确定第一电阻的电流；将第一电阻的电流与目标比值相乘，得到负载的电流。
14、在第二种可能的实现方式中，第一分流单元的第一端用于与第一电压端连接，第一分流单元的第二端用于与负载的第一端连接，负载的第二端与第二电压端连接。第一电阻的第一端与第二分流单元的第二端连接，第一电阻的第二端用于与负载的第一端连接。这种情况下，第二电流通路包括负载，即第二分流单元与负载串联。此时，处理单元用于：根据第一电阻的电压和第一电阻的阻值确定第一电阻的电流。将第一电阻的电流与k+1的乘积确定为负载的电流，k为目标比值。
15、在第三种可能的实现方式中，电流检测电路还包括：第二电阻。负本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：第一分流单元、第二分流单元、电压调节单元、第一电阻和处理单元；
2.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一分流单元包括多个晶体管，所述多个晶体管的第一极均与所述第二分流单元的第一端连接，所述多个晶体管的第二极均与所述电压调节单元的第一端连接；
3.如权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，所述处理单元还用于：根据所述第一电阻的电压调整所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数。
4.如权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述处理单元用于：若所述第一电阻的电压大于预设电压范围的最大值，则增加所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，以使所述第一电阻的电压处于所述预设电压范围内；若所述第一电阻的电压小于预设电压范围的最小值，则减少所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，以使所述第一电阻的电压处于所述预设电压范围内。
5.如权利要求2至4任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述多个晶体管中的每个晶体管的沟道宽度与沟道长度之比均相等。
6.如权利要求1至5任
7.如权利要求1至6任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述电压调节单元包括：运算放大器和开关晶体管；
8.如权利要求1至7任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一分流单元的第一端用于与所述第一电压端连接，所述第一分流单元的第二端用于与所述负载的第一端连接，所述负载的第二端与所述第二电压端连接；所述第一电阻的第一端与所述第二分流单元的第二端连接，所述第一电阻的第二端用于与所述负载的第二端连接；
9.如权利要求1至7任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一分流单元的第一端用于与所述第一电压端连接，所述第一分流单元的第二端用于与所述负载的第一端连接，所述负载的第二端与所述第二电压端连接；所述第一电阻的第一端与所述第二分流单元的第二端连接，所述第一电阻的第二端用于与所述负载的第一端连接；
10.如权利要求1至7任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括：第二电阻；所述负载的第一端用于与所述第一电压端连接，所述第一分流单元的第一端用于与所述负载的第二端连接，所述第一分流单元的第二端与所述第二电阻的第一端连接，所述第二电阻的第二端用于与所述第二电压端连接；所述第一电阻的第一端与所述第二分流单元的第二端连接，所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第二端连接；
11.一种电流检测器，其特征在于，包括如权利要求1至10任意一项所述的电流检测电路。
12.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1至10任意一项所述的电流检测电路或如权利要求11所述的电流检测器。
...【技术特征摘要】
1.一种电流检测电路，其特征在于，包括：第一分流单元、第二分流单元、电压调节单元、第一电阻和处理单元；
2.如权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一分流单元包括多个晶体管，所述多个晶体管的第一极均与所述第二分流单元的第一端连接，所述多个晶体管的第二极均与所述电压调节单元的第一端连接；
3.如权利要求2所述的电流检测电路，其特征在于，所述处理单元还用于：根据所述第一电阻的电压调整所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数。
4.如权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述处理单元用于：若所述第一电阻的电压大于预设电压范围的最大值，则增加所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，以使所述第一电阻的电压处于所述预设电压范围内；若所述第一电阻的电压小于预设电压范围的最小值，则减少所述多个晶体管中处于导通状态的晶体管的个数，以使所述第一电阻的电压处于所述预设电压范围内。
5.如权利要求2至4任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述多个晶体管中的每个晶体管的沟道宽度与沟道长度之比均相等。
6.如权利要求1至5任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述第二分流单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一极与所述第一分流单元的第一端连接，所述第一晶体管的第二极与所述电压调节单元的第二端连接；所述电流检测电路工作时，所述第一晶体管导通。
7.如权利要求1至6任意一项所述的电流检测电路，其特征在于，所述电...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。