【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片性能测试数据管理，具体为一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法。
技术介绍
1、电源芯片是一种用于供电的集成电路芯片，它在电子设备中起到稳定供电和保护的作用，电源芯片是集成电路中重要的组成部分，主要用来为其他芯片和电路提供稳定的电源，然而，由于各种原因，电源芯片可能会发生故障，导致设备无法正常工作；
2、电源芯片中的元器件随着使用时间的增加会逐渐老化，导致其性能下降，最终可能导致故障，性能测试是对电源芯片进行有效管理的重要步骤；电源芯片的性能指标包括转换效率、开关频率、输出电压精度、温度等，因此在对电源芯片开展性能检测过程中需要按照一定的检测流程，对电源芯片的各项性能指标进行全面的覆盖检测。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，方法包括：
3、步骤s1：提取对目标电源芯片所开展的所有历史性能测试记录，汇集目标电源芯片的所有历史性能测试数据；其中，在每一次历史性能测试记录中，对目标电源芯片所执行的测试项均相同；对在执行每一历史性能测试记录时所处的测试运行环境进行特征信息提取；
4、步骤s2：采集在每一历史性能测试记录中，对应各测试项所得到的测试反馈数据以及相应的测试反馈结论，测试反馈结论包括正常和异常；
5、步骤s3：
6、步骤s4：根据各测试项上的相应测试反馈数据，随测试运行环境信息变更所呈现出的特征规律情况，评估各测试项的检测关注度；
7、步骤s5：将各测试项的检测关注度发送至管理终端，辅助管理人员在对目标电源芯片实时开展性能测试的过程中，对各测试项的优先级安排。
8、优选的，对目标电源芯片布设传感器装置，每当对目标电源芯片开展一次性能测试，触发传感器装置对目标电源芯片进行一次运行环境信息采集，其中，一次性能测试记录对应一个环境信息集；分别对在执行每一历史性能测试记录时采集得到的环境信息集，进行特征提取，得到对应每一历史性能测试记录的特征环境信息集；
9、在本申请中传感器装置所采集的运行环境信息是能对目标电源芯片的性能造成影响的环境信息，包括目标电源芯片的表面温度、目标电源芯片的表面湿度、目标电源芯片的表面振动、目标电源芯片的表面静电电压等等。
10、优选的，步骤s3包括:
11、步骤s3-1：对各测试项，汇集对应测试反馈结论为正常的所有历史性能测试记录，得到对应各测试项的第一记录集合，汇集对应测试反馈结论为异常的所有历史性能测试记录，得到对应各测试项的第二记录集合；分别在各测试项的第一记录集合和第二记录集合内，对各历史性能测试记录中对应各测试项的测试反馈数据进行遍历；
12、步骤s3-2：若某测试项a的第一记录集合为r1(a)，第二记录集合为r2(a)，分别对第一记录集合r1(a)内的任一条历史性能测试记录，在第二记录集合r2(a)中，捕捉对应在某测试项a上的测试反馈数据与任一历史性能测试记录中对应在某测试项a上的测试反馈数据最相似的某历史性能测试记录，其中，最相似也就意味着偏差最小；将某历史性能测试记录和任一条历史性能测试记录，作为一个特征相对记录组；其中，若某测试项a的第一记录集合r1(a)中共有n条历史性能测试记录，则提取得到n个特征相对记录组；
13、步骤s3-3：提取在每一特征相对记录组中，属于第一记录集合r1(a)的历史性能测试记录所对应的特征环境信息集f1，和属于第二记录集合r2(a)的历史性能测试记录所对应的特征环境信息集f2，获取特征环境信息集f2和特征环境信息集f1之间的相似度η，其中，1≥η≥0；计算在每一特征相对记录组中的测试运行环境信息变更值α＝1-η。
14、优选的，步骤s4包括：
15、步骤s4-1：对每一测试项提取得到的每一特征相对记录组所对应的测试运行环境信息变更值进行遍历；对每一测试项，捕捉在相应所有特征相对记录组中出现的最小测试运行环境信息变更值u，将提取得到最小测试运行环境信息变更值u的特征相对记录组，设为每一测试项的目标记录组；
16、测试运行环境信息变更值越小，说明在相应测试反馈结论为正常的性能测试记录中提取得到的特征环境信息集，与在相应测试反馈结论为异常的性能测试记录中提取得到的特征环境信息集的相似度越大；
17、步骤s4-2：分别在每一测试项的目标记录组中，提取在属于每一测试项的第一记录集合的历史性能测试记录中，对应每一测试项上的测试反馈数据y1，提取在属于每一测试项的第二记录集合的历史性能测试记录中，对应每一测试项上的测试反馈数据y2，获取测试反馈数据y1与测试反馈数据y2之间的相似度q；评估每一测试项所对应的检测关注度δ＝1/(u+q)；
18、若某测试项在相应所有特征相对记录组中出现的最小测试运行环境信息变更值u越小，说明在引发相近似的两种测试反馈数据出现分别对应不同的测试反馈结论时，在外界环境信息层面，所需的变化量越小，而相应变化量越小，说明在检测过程中越需要对该测试项上反馈的测试反馈结论进行实时监测；若在若某测试项的目标记录组中，相应测试反馈数据y1与测试反馈数据y2之间的相似度q越大，说明在相近似的外界环境条件下，引发出现不同的测试反馈结论时，在测试反馈数据层面上，所需的变化量越小，而相应变化量越小，说明在检测过程中越需要对该测试项上反馈的测试反馈结论进行实时监测。
19、优选的，步骤s5包括：
20、步骤s5-1：将所有测试项按照相应检测关注度，从大到小进行排序，生成测试项序列；
21、步骤s5-2：将测试项序列发送至管理人员终端，提示管理人员按照测试项序列，对目标电源芯片进行性能测试，同时按照测试项序列，接收相应的测试反馈数据，得到对应各测试项的测试反馈结论；
22、将所有测试项按照相应检测关注度，从大到小进行排序，生成测试项序列，上述内容有利于将当目标电源芯片出现性能问题时，能够较快从数据观测的层面上观测出异常，也就是说对在目标电源芯片出现性能问题时较为敏感的测试项，优先安排测试，这样的话，当排序在前的测试项反馈异常时，能够及时地对目标电源芯片做出安全防护准备，提高管理人员对目标电源芯片开展性能检测时的检测效率，能够为管理人员在目标电源芯片存在性能下降时，预留更多进行安全防护措施安排的时间；
23、例如说，在测试项序列中排序较前的测试项，往往是当目标电源芯片出现性能下降现象时，能较快呈现出数据异常现象的测试项，因此，一旦基于排序较前的测试项所反馈的测试数据情况，得出性能是否下降的结论，能较快的对当前情况做出反应；在测试项序列中排序较前的测试项，往往是在对目标电源本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，对目标电源芯片布设传感器装置，每当对目标电源芯片开展一次性能测试，触发传感器装置对目标电源芯片进行一次运行环境信息采集，其中，一次性能测试记录对应一个环境信息集；分别对在执行每一历史性能测试记录时采集得到的环境信息集，进行特征提取，得到对应每一历史性能测试记录的特征环境信息集。
3.根据权利要求2所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述步骤S3包括:
4.根据权利要求3所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述步骤S4包括：
5.根据权利要求4所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述步骤S5包括：
6.用于执行权利要求1-5中任意一项所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法的电源芯片测试数据处理系统，其特征在于，所述系统包括：性能测试记录信息提取模块、性能测试记录信息梳理模块、检测关注度评估管理模
7.根据权利要求6所述的电源芯片测试数据处理系统，其特征在于，所述性能测试记录信息梳理模块包括数据采集管理单元、测试项信息梳理单元；
8.根据权利要求6所述的电源芯片测试数据处理系统，其特征在于，所述反馈管理模块包括信息接收管理单元、提示管理单元；
...【技术特征摘要】
1.一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，对目标电源芯片布设传感器装置，每当对目标电源芯片开展一次性能测试，触发传感器装置对目标电源芯片进行一次运行环境信息采集，其中，一次性能测试记录对应一个环境信息集；分别对在执行每一历史性能测试记录时采集得到的环境信息集，进行特征提取，得到对应每一历史性能测试记录的特征环境信息集。
3.根据权利要求2所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，所述步骤s3包括:
4.根据权利要求3所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁永斌，
申请(专利权)人：上海源斌电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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