一种同轴测试连接器制造技术

技术编号:42014878 阅读:9 留言:0更新日期:2024-07-16 23:09
本技术公开了一种同轴测试连接器,包括:外壳体,所述外壳体的底面与PCB板接触;中心针组件,设置于外壳体内部,其包括内导体、弹簧、活动触针,所述内导体的内腔设有容置槽,所述弹簧位于容置槽内,所述活动触针的一端抵接在弹簧的下表面,另一端伸出外壳体与PCB板电连接。通过在内导体内腔的容置槽内设置弹簧以及活动触针,活动触针在弹簧的带动下可上下伸缩,可以消除活动触针与PCB板硬接触时顶板形成的反力,不会抵抗紧固螺丝与PCB板之间的紧固力,使得外壳体底部的安装面与PCB板之间的贴合更紧密,降低信号泄露到外面的可能性,从而获得优越的EMI性能;同时由于活动触针可自行调节高度,因此又可以兼容非EMI的测试环境。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电连接器,特别是涉及一种同轴测试连接器


技术介绍

1、现有技术中高速线缆、type-c等差分信号频率越来越高,信号pin对数也越来越多,测试端口也随之增加,现有市场上的传统测试连接器采用螺纹将其固定在pcb板上,并且需要区分并设计emi与非emi两种不同的安装高度,紧固为螺纹结构,拆卸效率极低;因此市场急需一款既能快速紧固又能兼容emi与非emi的测试连接器。


技术实现思路

1、基于上述技术问题,本申请实施例提供一种既能兼容emi和非emi,又能实现快速紧固的同轴测试连接器。

2、为了实现上述目的,本技术采取的技术方案是:一种同轴测试连接器,包括:

3、外壳体,所述外壳体的底面与pcb板接触,

4、中心针组件,设置于外壳体内部,其包括内导体、弹簧、活动触针,所述内导体的内腔设有容置槽,所述弹簧位于容置槽内,所述活动触针的一端抵接在弹簧的下表面,另一端伸出外壳体与pcb板电连接。

5、进一步地,所述内导体包括一体连接的导体上部、连接部、导体下部,所述连接部为实心结构,所述导体上部和导体下部为内部空腔结构;导体下部的内部空腔中设有容置槽,所述容置槽内设有弹簧和活动触针。

6、进一步地,所述外壳体包括一体连接的主体部和固定部,所述固定部设置在柱体部的下方,所述固定部上相对于主体部的两侧分别设有沿竖直方向贯穿的螺纹通孔。

7、进一步地,还包括用于将pcb板和外壳体固定连接的紧固螺丝,所述紧固螺丝的末端设有无螺纹柱体,所述无螺纹柱体用于引导紧固螺丝进入螺纹通孔中。

8、进一步地,所述紧固螺丝为可磁吸紧固螺丝;还包括一磁体,所述磁体位于pcb板的下侧,当紧固螺丝由上至下安装到螺纹通孔中时,所述磁体用于磁吸所述紧固螺丝进入螺纹通孔。

9、进一步地,所述无螺纹柱体的长度大于或等于pcb板的厚度。

10、进一步地,还包括绝缘体,所述绝缘体上设有中心孔,所述内导体的连接部镶嵌在中心孔内,所述主体部的内部设有向中心延伸的环形限位端面,所述绝缘体的部分底面抵接在环形限位端面上。

11、进一步地,还包括连接器后塞,所述连接器后塞镶嵌于所述绝缘体和外壳体之间,且其底面抵靠在环形限位端面上,用于固定所述绝缘体和中心针组件在外壳体内部的位置。

12、进一步地,所述连接器后塞为金属材质。

13、本技术的有益效果在于:通过在内导体内腔的容置槽内设置弹簧以及活动触针,活动触针在弹簧的带动下可上下伸缩,可以消除活动触针与pcb板硬接触时顶板形成的反力,不会抵抗紧固螺丝与pcb板之间的紧固力,使得外壳体底部的安装面与pcb板之间的贴合更紧密,降低信号泄露到外面的可能性,从而获得优越的emi性能;同时由于活动触针可自行调节高度,因此又可以兼容非emi的测试环境。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种同轴测试连接器,其特征在于,包括:外壳体,所述外壳体的底面与PCB板接触;中心针组件,设置于外壳体内部,其包括内导体、弹簧、活动触针,所述内导体的内腔设有容置槽,所述弹簧位于容置槽内,所述活动触针的一端抵接在弹簧的下表面,另一端伸出外壳体与PCB板电连接。

2.根据权利要求1所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述内导体包括一体连接的导体上部、连接部、导体下部,所述连接部为实心结构,所述导体上部和导体下部为内部空腔结构;导体下部的内部空腔中设有容置槽,所述容置槽内设有弹簧和活动触针。

3.根据权利要求2所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述外壳体包括一体连接的主体部和固定部,所述固定部设置在主体部的下方,所述固定部上相对于主体部的两侧分别设有沿竖直方向贯穿的螺纹通孔。

4.根据权利要求3所述的同轴测试连接器,其特征在于,还包括用于将PCB板和外壳体固定连接的紧固螺丝,所述紧固螺丝的末端设有无螺纹柱体,所述无螺纹柱体用于引导紧固螺丝进入螺纹通孔中。

5.根据权利要求4所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述紧固螺丝为可磁吸的紧固螺丝。

6.根据权利要求5所述的同轴测试连接器,其特征在于,还包括一磁体,所述磁体位于PCB板的下侧,当紧固螺丝由上至下安装到螺纹通孔中时,所述磁体用于吸引所述可磁吸的紧固螺丝进入螺纹通孔。

7.根据权利要求4所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述无螺纹柱体的长度大于或等于PCB板的厚度。

8.根据权利要求3所述的同轴测试连接器,其特征在于,还包括绝缘体,所述绝缘体上设有中心孔,所述内导体的连接部镶嵌在中心孔内,所述主体部的内部设有向中心延伸的环形限位端面,所述绝缘体的部分底面抵接在环形限位端面上。

9.根据权利要求8所述的同轴测试连接器,其特征在于,还包括连接器后塞,所述连接器后塞镶嵌于所述绝缘体和外壳体之间,且其底面抵靠在所述环形限位端面上,用于固定所述绝缘体和中心针组件在外壳体内部的位置。

10.根据权利要求9所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述连接器后塞为金属材质。

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【技术特征摘要】

1.一种同轴测试连接器,其特征在于,包括:外壳体,所述外壳体的底面与pcb板接触;中心针组件,设置于外壳体内部,其包括内导体、弹簧、活动触针,所述内导体的内腔设有容置槽,所述弹簧位于容置槽内,所述活动触针的一端抵接在弹簧的下表面,另一端伸出外壳体与pcb板电连接。

2.根据权利要求1所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述内导体包括一体连接的导体上部、连接部、导体下部,所述连接部为实心结构,所述导体上部和导体下部为内部空腔结构;导体下部的内部空腔中设有容置槽,所述容置槽内设有弹簧和活动触针。

3.根据权利要求2所述的同轴测试连接器,其特征在于,所述外壳体包括一体连接的主体部和固定部,所述固定部设置在主体部的下方,所述固定部上相对于主体部的两侧分别设有沿竖直方向贯穿的螺纹通孔。

4.根据权利要求3所述的同轴测试连接器,其特征在于,还包括用于将pcb板和外壳体固定连接的紧固螺丝,所述紧固螺丝的末端设有无螺纹柱体,所述无螺纹柱体用于引导紧固螺丝进入螺纹通孔中。

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄颗胡宁伟吕银涛尹绪引
申请(专利权)人:电连技术股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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