在擦除期间进行高效测试的非易失性存储器制造技术

技术编号：42010480 阅读：8 留言：0更新日期：2024-07-12 12:29

当对块的多个子块进行擦除时，对于连接到偶数字线的存储器单元执行擦除验证以生成偶数结果以及对于连接到奇数字线的存储器单元执行擦除验证以生成奇数结果。该偶数结果和该奇数结果用于确定该擦除验证过程成功完成。对于第一子块的每个NAND串，将该NAND串的最后一个偶数结果与该NAND串的最后一个奇数结果进行比较。尽管该确定该第一子块成功完成擦除验证，但对于该第一子块的该擦除失败，因为具有不同于该最后一个奇数结果的该最后一个偶数结果的NAND串的数量大于极限。该系统基于并响应于确定该第一子块擦除失败，确定一个或多个附加子块也擦除失败。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

1、本公开涉及非易失性存储装置。

2、半导体存储器广泛用于各种电子设备，诸如蜂窝电话、数码相机、个人数字助理、医疗电子器件、移动计算设备、服务器、固态驱动器、非移动计算设备和其他设备。半导体存储器可以包括非易失性存储器或易失性存储器。即使当非易失性存储器未连接到电源(例如，电池)时，非易失性存储器也允许存储和保留信息。非易失性存储器的一个示例为闪存存储器(例如，nand型闪存存储器和nor型闪存存储器)。

3、非易失性存储器的用户可将数据编程(例如，写入)非易失性存储器并随后读回该数据。例如，数码相机可拍摄照片并将该照片存储在非易失性存储器中。随后，数码相机的用户可通过使该数码相机从非易失性存储器读取照片来查看该照片。由于用户经常依赖于他们存储的数据，因此对于非易失性存储器的用户来说，重要的是能够可靠地存储数据以使得能够成功地读回该数据。

4、非易失性存储器中的缺陷(例如，字线与沟道之间的短路或泄漏)可能给正存储的数据带来错误。有时在制造时出现缺陷，并且有时在使用非易失性存储器期间出现缺陷。为了防止非易失性存储器在使用时由于在用户操作期间首先出现的缺陷而发生故障，非易失性存储器的制造商包括用于测试存储器的各种过程，以便在使用非易失性存储器来存储数据之前检测缺陷。然而，非易失性存储器的用户希望高性能，包括快速的操作速度。因此，期望存储器的缺陷测试使用尽可能少的时间，以便不降低存储器性能。

技术实现思路

【技术保护点】

1.一种非易失性存储装置，所述非易失性存储装置包括：

2.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

3.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

4.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

5.根据权利要求4所述的非易失性存储装置，其中：

6.根据权利要求4所述的非易失性存储装置，其中：

7.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

8.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

9.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

10.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

11.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，所述非易失性存储装置还包括：

12.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

13.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

14.根据权利要求1所述的非易失性存储装置，其中：

15.一种操作非易失性存储装置的方法，所述非易失性存储装置包括以NAND串布置的非易失性存

16.根据权利要求15所述的方法，其中：

17.根据权利要求15所述的方法，其中所述块包括四个子块，所述四个子块包括所述第一子块、第二子块、第三子块和第四子块，所述方法还包括：

18.根据权利要求15所述的方法，其中：

19.一种非易失性存储装置，所述非易失性存储装置包括：

20.根据权利要求19所述的非易失性存储装置，其中：

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】