System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种测试接线座耐电压性能的装置制造方法及图纸_技高网

一种测试接线座耐电压性能的装置制造方法及图纸

技术编号:42003631 阅读:12 留言:0更新日期:2024-07-12 12:25
本发明专利技术涉及耐电压测试技术领域,具体涉及一种测试接线座耐电压性能的装置,包括:线缆一端与接线座连接;线缆另一端与耐电压测试仪连接;第一施压组件对接线座进行施压固定;导电针组件一端与接线座侧面间隔设置,在接线座与导电针组件相对的侧面上涂抹有绝缘介质;导电针组件另一端为接线端,接线端与耐电压测试仪连接;导电针组件适于模拟CCD组件的壳体;测试接线座耐电压性能的装置通过更换在所述接线座上涂抹的绝缘介质,待绝缘介质干透后,以测试不同绝缘介质在CCD组件中的耐电压性能;本申请通过更换不同的绝缘介质,方便可靠地测试在一定间隙下接线座与壳体的耐电压性能;且可重复使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及耐电压测试,具体涉及一种测试接线座耐电压性能的装置


技术介绍

1、对于内窥镜的ccd组件,接线座是比较重要的零部件。在组装ccd组件的过程中,接线座与壳体之间间隔设置,且需要使用环氧胶对接线座进行涂抹,以达到绝缘的目的。由此,接线座上涂抹的环氧胶与壳体之间的耐电压性能至关重要,直接影响整个ccd组件工作的可靠性。由此,能否提供一种测试接线座与壳体之间耐电压性能的装置,是保证整个ccd组件工作可靠性的关键。


技术实现思路

1、因此,本专利技术要解决的技术问题在于如何设计一种测试接线座与壳体之间耐电压性能的装置,以保证整个ccd组件工作的可靠性。

2、为了解决上述问题,本专利技术提供一种测试接线座耐电压性能的装置,包括:

3、底座;

4、线缆,一端与ccd组件的接线座电气连接,且所述线缆和接线座均放置于所述底座上;所述线缆的另一端与耐电压测试仪的负极电气连接;

5、第一施压组件,设置于所述底座上,且所述第一施压组件适于对所述接线座进行施压固定;

6、导电针组件,一端与所述接线座的侧面间隔设置,在所述接线座与所述导电针组件相对的侧面上涂抹有绝缘介质;所述导电针组件设置于所述底座上;所述导电针组件的另一端为接线端,所述接线端与耐电压测试仪的正极电气连接;所述导电针组件适于模拟ccd组件的壳体;

7、所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过更换在所述接线座上涂抹的绝缘介质,待绝缘介质干透后,以测试不同绝缘介质在ccd组件中的耐电压性能。

8、可选地,所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过改变导电针组件一端与所述接线座侧面间隔的距离,以测试接线座与壳体在不同间隙下的耐电压性能。

9、可选地,还包括:

10、塞规,适于置于导电针组件一端与所述接线座侧面之间,使得导电针组件一端与接线座侧面均与塞规相抵接,以获得不同的间隙。

11、可选地,所述导电针组件包括:

12、导电针本体,一端与所述接线座的侧面间隔设置;所述导电针本体的另一端为接线端;

13、导电针座,设有连接的圆柱部和固定部;所述导电针本体贯穿所述导电针座设置;在所述固定部上设有第一锁紧螺钉,所述第一锁紧螺钉适于旋入固定部内,以固定所述导电针本体;

14、支撑座,固定设置于所述底座上,且所述圆柱部贯穿所述支撑座设置;在所述支撑座上设有第二锁紧螺钉;所述第二锁紧螺钉适于旋入支撑座内,以固定所述圆柱部。

15、可选地,所述固定部靠近所述导电针本体的接线端设置;在所述固定部上设有多个定位螺钉;所述多个定位螺钉适于从靠近所述导电针本体接线端的一侧旋入,然后抵接在所述支撑座上,以确保所述导电针本体与接线座侧面间隔的距离。

16、可选地,所述第一施压组件包括:

17、卡座,固定设置于所述底座上,且在所述卡座的上部设有悬空于所述底座上方的悬空部;

18、第一导杆,螺纹连接于所述悬空部;

19、第一压块,与所述第一导杆贯穿所述悬空部的下端固定连接;

20、所述第一施压组件适于在旋拧第一导杆时,带动所述第一压块下降,以对所述接线座施压。

21、可选地,在所述第一导杆的上端固定设有旋钮。

22、可选地,所述第一施压组件还包括:

23、多根第二导杆,沿竖直方向固定设置于所述悬空部的底端;且多根第二导杆贯穿所述第一压块上设有的对应的多个导向孔设置。

24、可选地,还包括:

25、第二施压组件,设置于所述底座上,且所述第二施压组件适于对所述线缆进行施压固定。

26、可选地,所述第二施压组件包括:

27、挡块,设置于所述底座上,且在所述挡块上设有适于放置线缆的凹槽;

28、第三导杆,固定设置于所述底座上;

29、第二压块,滑动连接于所述第三导杆上;

30、螺母,螺纹连接于所述第三导杆上,且所述螺母位于所述第二压块的上方;

31、所述第二施压组件适于转动螺母,推动所述第二压块,以使得所述第二压块对所述线缆进行施压

32、本专利技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:

33、1.本专利技术提供的测试接线座耐电压性能的装置,包括:底座;线缆,一端与ccd组件的接线座电气连接,且所述线缆和接线座均放置于所述底座上;所述线缆的另一端与耐电压测试仪的负极电气连接;第一施压组件,设置于所述底座上,且所述第一施压组件适于对所述接线座进行施压固定;导电针组件,一端与所述接线座的侧面间隔设置,在所述接线座与所述导电针组件相对的侧面上涂抹有绝缘介质;所述导电针组件设置于所述底座上;所述导电针组件的另一端为接线端,所述接线端与耐电压测试仪的正极电气连接;所述导电针组件适于模拟ccd组件的壳体;所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过更换在所述接线座上涂抹的绝缘介质,待绝缘介质干透后,以测试不同绝缘介质在ccd组件中的耐电压性能;本申请采用上述技术方案,通过更换不同的绝缘介质,方便可靠地测试在一定间隙下接线座与壳体的耐电压性能;且可重复使用。

34、2.本专利技术所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过改变导电针组件一端与所述接线座侧面间隔的距离,以测试接线座与壳体在不同间隙下的耐电压性能体;本申请采用上述技术方案,方便可靠地在不同间隙下测试绝缘介质的绝缘性能。

35、3.本专利技术提供的测试接线座耐电压性能的装置,还包括:塞规,适于置于导电针组件一端与所述接线座侧面之间,使得导电针组件一端与接线座侧面均与塞规相抵接,以获得不同的间隙;本申请采用上述技术方案,通过更换不同厚度的塞规,可以获得不同的间隙。

36、4.本专利技术所述导电针组件包括:导电针本体,一端与所述接线座的侧面间隔设置;所述导电针本体的另一端为接线端;导电针座,设有连接的圆柱部和固定部;所述导电针本体贯穿所述导电针座设置;在所述固定部上设有第一锁紧螺钉,所述第一锁紧螺钉适于旋入固定部内,以固定所述导电针本体;支撑座,固定设置于所述底座上,且所述圆柱部贯穿所述支撑座设置;在所述支撑座上设有第二锁紧螺钉;所述第二锁紧螺钉适于旋入支撑座内,以固定所述圆柱部;本申请采用上述技术方案,方便可靠地固定或调整导电针本体与接线座之间的间隙。

37、5.本专利技术所述固定部靠近所述导电针本体的接线端设置;在所述固定部上设有多个定位螺钉;所述多个定位螺钉适于从靠近所述导电针本体接线端的一侧旋入,然后抵接在所述支撑座上,以确保所述导电针本体与接线座侧面间隔的距离;本申请采用上述技术方案,在确定间隙数值后,通过定位螺钉抵接支撑座,达到间接记录间隙数值的目的;然后保证定位螺钉位置不变,在重新定位导电针本体的位置时,只需要定位螺钉抵接支撑座,即可回复重现前述确定的间隙;保证测试的准确可靠性。

38、6.本专利技术所述第一施压组件包括:卡座,固定设置于所述底座上,且在所述卡本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过改变导电针组件一端与所述接线座(6)侧面间隔的距离,以测试接线座(6)与壳体在不同间隙下的耐电压性能。

3.根据权利要求2所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1-3中任一项所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述导电针组件包括:

5.根据权利要求4所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述固定部(18)靠近所述导电针本体(9)的接线端设置;在所述固定部(18)上设有多个定位螺钉(10);所述多个定位螺钉(10)适于从靠近所述导电针本体(9)接线端的一侧旋入,然后抵接在所述支撑座(8)上,以确保所述导电针本体(9)与接线座(6)侧面间隔的距离。

6.根据权利要求1-3中任一项所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述第一施压组件包括:

7.根据权利要求6所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,在所述第一导杆(1)的上端固定设有旋钮(4)。

8.根据权利要求6所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述第一施压组件还包括:

9.根据权利要求1-3中任一项所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,还包括:

10.根据权利要求9所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述第二施压组件包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述测试接线座耐电压性能的装置适于通过改变导电针组件一端与所述接线座(6)侧面间隔的距离,以测试接线座(6)与壳体在不同间隙下的耐电压性能。

3.根据权利要求2所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1-3中任一项所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述导电针组件包括:

5.根据权利要求4所述的测试接线座耐电压性能的装置,其特征在于,所述固定部(18)靠近所述导电针本体(9)的接线端设置;在所述固定部(18)上设有多个定位螺钉(10);所述多个定位螺钉(10)...

【专利技术属性】
技术研发人员:荣亮郝雁峰左廷涛段娜娜
申请(专利权)人:北京乐普智影科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1