一种高纯铝晶析锭取样装置及纯度检测系统制造方法及图纸

技术编号:41996960 阅读:5 留言:0更新日期:2024-07-12 12:21
本技术公开一种高纯铝晶析锭取样装置及纯度检测系统,该取样装置的支撑底座设有支承面和取样槽,支承面用于支承待取样的铝晶析锭,取样槽沿竖直方向延伸并贯穿于支承面。铝晶析锭的底部设有待取样的取样面,取样面处于取样槽的上方。定位组件位于晶析锭的下方,用于对铝晶析锭进行定位。切割组件用于对铝晶析锭进行水平方向上的切割,以形成水平的切断面;钻取组件容置于取样槽内,钻取组件包括取样钻头,取样钻头为空心钻头,其朝向铝晶析锭的取样面,并能够向上运动,以钻取铝晶析锭;取样钻头推进至切断面,与切割组件配合将样品切断,从而完成对铝晶析锭的取样。该取样装置能够方便高效地对铝晶析锭进行取样。

【技术实现步骤摘要】

本技术具体涉及一种高纯铝晶析锭取样装置及纯度检测系统


技术介绍

1、晶析法作为一种新的高纯铝提纯技术,尤为适合电子级高纯铝制备。晶析锭纯度检测是评价高纯铝产品的等级的重要指标,而晶析锭取样便是其中必不可少的一环。由于晶析锭为空心锥形筒状,且外形不规则,重量较大,不好固定,特征位置取样比较困难,现有技术不能很好解决检测样品的快速高效制备。


技术实现思路

1、本技术所要解决的技术问题是针对现有技术中存在的上述不足,提供一种高纯铝晶析锭取样装置及纯度检测系统,该高纯铝晶析锭取样装置能够方便高效地对铝晶析锭进行取样。

2、根据本技术第一方面的实施例,提供一种高纯铝晶析锭取样装置,包括:支撑底座、钻取组件、定位组件和切割组件;所述支撑底座设有支承面和取样槽,所述支承面水平设置,用于支承待取样的铝晶析锭,所述取样槽沿竖直方向延伸并贯穿于所述支承面,所述铝晶析锭的底部设有待取样的取样面,所述取样面处于所述取样槽的上方;所述定位组件位于所述晶析锭的下方,用于对所述铝晶析锭进行定位;所述切割组件位于所述取样槽的一侧,并朝向所述铝晶析锭的侧壁,用于对所述铝晶析锭进行水平方向上的切割,以形成水平的切断面;所述钻取组件容置于所述取样槽内,所述钻取组件包括取样钻头,所述取样钻头为空心钻头,其朝向所述铝晶析锭的取样面,并能够向上运动,以钻取所述铝晶析锭;所述取样钻头推进至所述切断面,与所述切割组件配合将样品切断,从而完成对所述铝晶析锭的取样。

3、进一步地,所述定位组件包括升降柱和定位块,所述升降柱能够沿竖直方向移动;所述铝晶析锭呈锥形,其内部设有开口向下的定位腔,所述定位腔呈圆柱形,所述定位单元位于所述定位腔的正下方,所述升降柱与所述定位块连接,用于带动所述定位块向上运动至所述定位腔内部;所述定位块的数量为多个,多个所述定位块均匀地环绕于所述升降柱的周围,并能够沿远离所述升降柱的方向移动,以抵紧于所述定位腔的内侧壁,从而对所述铝晶析锭进行定位。

4、进一步地,所述定位块的外侧壁设有弧形面,所述弧形面的弧度与所述定位腔内侧壁的形状相适配。

5、进一步地,所述支承面呈u形,并部分环绕于所述定位组件的周围;所述支承面包括弧形段和进料段,所述进料段沿水平方向延伸,其数量为两段,两段进料段间隔设置,并分别处于所述定位组件的两侧;所述弧形段的两端分别与两段所述进料段连接,所述弧形段的形状适配于所述铝晶析锭的水平截面的形状,以容置所述铝晶析锭;所述取样槽贯穿于所述支承面的弧形段。

6、进一步地,所述钻取组件包括电机、升降单元和移动单元;所述移动单元包括导轨和滑块,所述导轨位于所述取样槽内,并沿所述支撑底座的长度方向延伸,所述滑块与所述导轨滑动连接,并能够沿所述导轨的延伸方向移动;所述升降单元安装于所述滑块上,升降单元包括升降基座,所述升降基座能够沿竖直方向移动,所述电机安装于所述升降基座上,其输出端与所述取样钻头连接,用于驱动所述取样钻头转动,所述取样钻头呈圆环形,且刀刃朝上设置;所述移动组件用于带动升降单元和所述取样钻头移动至所述铝晶析锭的取样位置,所述升降单元用于通过升降基座带动所述取样钻头向上推进,以对所述铝晶析锭进行切割取样。

7、进一步地,所述钻取组件还包括顶出杆;所述顶出杆安装于所述滑块上,并向上延伸至贯穿于所述升降基座和所述取样钻头的中部;所述顶出杆用于在升降基座下降时,将所述取样钻头中的样品顶出。

8、进一步地,本高纯铝晶析锭取样装置还包括控制单元,所述控制单元包括控制器和位置传感器;所述控制器内预设有目标推进距离和退刀距离,所述目标推进距离为取样钻头在铝晶析锭中所要推进的距离,所述退刀距离为取样钻头需要进行退刀操作的距离,所述退刀距离小于或等于所述目标推进距离;所述位置传感器与所述控制器电连接,用于检测所述取样钻头的实际推进距离,并将所述实际推进距离发送至控制器;所述控制单元与所述钻取组件电连接,用于将接收到的实际推进距离与退刀距离进行比较,当所述实际推进距离到达退刀距离时,控制所述取样钻头退出铝晶析锭,以完成一次退刀操作;所述控制单元还用于在所述取样钻头完成退刀操作后,控制所述取样钻头继续向上钻取铝晶析锭,重复以上操作,直到所述取样钻头的实际推进距离达到目标推进距离。

9、进一步地,所述切割组件包括圆锯切割机和推进单元;所述圆锯切割机的锯片水平设置,朝向所述铝晶析锭的侧壁,所述推进单元沿水平方向延伸,其延伸方向与铝晶析锭的中心径向轴线处于同一延长线上,所述推进单元与所述圆锯切割机连接,用于驱动所述圆锯切割机沿靠近所述铝晶析锭的方向移动,以切割所述铝晶析锭。

10、进一步地,本高纯铝晶析锭取样装置还包括铝屑运输带,所述铝屑运输带位于所述支撑底座的一侧,用于将铝屑运送至回收处;所述支撑底座还设有排屑口,所述排屑口位于靠近所述圆锯切割机旋转方向的一侧,并朝向所述铝屑运输带,用于将所述圆锯切割机在切割过程中产生的铝屑排放至所述铝屑运输带上。

11、根据本技术第二方面的实施例,提供一种纯度检测系统,包括上料单元、检测单元和上述的高纯铝晶析锭取样装置。所述上料单元用于将铝晶析锭搬运至所述高纯铝晶析锭取样装置的支承面上,所述高纯铝晶析锭取样装置用于对所述铝晶析锭进行取样,所述检测单元用于对所述铝晶析锭的样品进行检测。

12、本技术的高纯铝晶析锭取样装置通过定位组件对铝晶析锭进行定位,以避免铝晶析锭在取样过程中晃动。接着,通过切割组件对铝晶析锭进行横向切割,将铝晶析锭部分切断,形成水平的切断面。然后,通过钻取组件对铝晶析锭进行钻切。钻取组件的取样钻头为空心钻头,能够对铝晶析锭进行切割并形成圆柱形的铝锭样品。当取样钻头推进至切断面时,铝锭样品被切断并脱离铝晶析锭,落在空心钻头内。随着取样钻头退出铝晶析锭,取样钻头内的顶出杆能够将铝锭样品从取样钻头中顶出,从而完成对铝晶析锭的取样。因此,本高纯铝晶析锭取样装置能够方便高效地对铝晶析锭进行取样。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,包括:支撑底座(1)、钻取组件(5)、定位组件(6)和切割组件(4);

2.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述定位组件(6)包括升降柱(8)和定位块(9),所述升降柱(8)能够沿竖直方向移动;

3.根据权利要求2所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述定位块(9)的外侧壁设有弧形面,所述弧形面的弧度与所述定位腔(24)内侧壁的形状相适配。

4.根据权利要求2所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述支承面(27)呈U形,并部分环绕于所述定位组件(6)的周围;

5.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述钻取组件(5)包括电机(14)、升降单元和移动单元;

6.根据权利要求5所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述钻取组件(5)还包括顶出杆(18);

7.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,还包括控制单元,所述控制单元包括控制器和位置传感器;

8.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述切割组件(4)包括圆锯切割机(19)和推进单元(21);

9.根据权利要求8所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,还包括铝屑运输带(3),所述铝屑运输带(3)位于所述支撑底座(1)的一侧,用于将铝屑运送至回收处;

10.一种纯度检测系统,其特征在于,包括上料单元、检测单元和权利要求1-9任一项所述的高纯铝晶析锭取样装置;

...

【技术特征摘要】

1.一种高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,包括:支撑底座(1)、钻取组件(5)、定位组件(6)和切割组件(4);

2.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述定位组件(6)包括升降柱(8)和定位块(9),所述升降柱(8)能够沿竖直方向移动;

3.根据权利要求2所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述定位块(9)的外侧壁设有弧形面,所述弧形面的弧度与所述定位腔(24)内侧壁的形状相适配。

4.根据权利要求2所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述支承面(27)呈u形,并部分环绕于所述定位组件(6)的周围;

5.根据权利要求1所述的高纯铝晶析锭取样装置,其特征在于,所述钻取组件(5)包括电机(14)、升...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈赓张飞陈辉马瑞雨马慧忠刘彦军
申请(专利权)人:新疆众和股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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