一种凹凸面缺陷检测光源及装置制造方法及图纸

技术编号:41976350 阅读:6 留言:0更新日期:2024-07-12 12:09
本技术公开了一种凹凸面缺陷检测光源及装置,用于检测凹凸不平的表面;包括用于发出第一照射光线的主光源,还包括光源底座,所述光源底座上设有补光光源,所述补光光源用于发出第二照射光线,所述第二照射光线呈环状环绕于所述主光源外,且所述第二照射光线倾斜于所述被测表面。通过设置垂直于被测表面的第一照射光线,以及呈环状且倾斜于被测表面的第二照射光线,利用第二照射光线实现对被测表面瑕疵处的补光,能够在瑕疵处与第一照射光线形成较大的色阶变化,在后续进行图像处理时,能够根据色阶的差异判断产品是否合格,有利于提高表面凹凸型的被测表面的缺陷检测准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及无损缺陷检测,尤其涉及一种凹凸面缺陷检测光源及装置


技术介绍

1、为了确保产品质量,在产品出厂前需要进行缺陷检测,如今,基于机器视觉的无损缺陷检测成为主流的检测方式。

2、现有技术中,在对产品进行缺陷检测的过程中,首先利用检测光源照射于被测表面,然后通过成像设备对被测表面进行图像采集,最后对图像进行分析,以获得被测表面的表面特征。但是,对于一些表面凹凸不平的被测表面,现有的检测光源往往存在照射死角,导致照射死角区域的缺陷难以显示出来,缺陷检测的准确性较低。


技术实现思路

1、针对现有技术的不足,本技术提供一种凹凸面缺陷检测光源及装置,解决现有技术中对于凹凸不平的被测表面的缺陷检测准确性较低的问题。

2、为实现上述目的,本技术提供以下的技术方案:

3、一种凹凸面缺陷检测光源,用于照射被测表面,包括用于发出第一照射光线的主光源,还包括光源底座,所述光源底座上设有补光光源,所述补光光源用于发出第二照射光线,所述第二照射光线呈环状环绕于所述主光源外,且所述第二照射光线倾斜于所述被测表面。

4、进一步地,所述补光光源包括多个围绕于所述主光源设置的点光源,每个所述点光源均倾斜于所述被测表面。

5、进一步地,所述光源底座上设有多个安装座,所述多个安装座与多个所述点光源一一对应,所述点光源设于所述安装座上。

6、进一步地,所述点光源与所述安装座旋转连接。

7、进一步地,所述安装座上设有弧形槽,所述点光源上设有限位凸柱,所述限位凸柱可滑动地限位于所述弧形槽内。

8、进一步地,所述光源底座上开设有拍摄窗口;

9、所述多个点光源环绕所述拍摄窗口设置,且所述第二照射光线经由所述拍摄窗口向外射出。

10、进一步地,所述第一照射光线与所述第二照射光线共同汇聚于同一区域。

11、本技术还提供了一种凹凸面缺陷检测装置,包括如上任一项所述的凹凸面缺陷检测光源,还包括成像装置,所述成像装置包括相机和镜头;

12、进一步地,所述光源底座上开设有拍摄窗口,所述镜头对准于所述拍摄窗口设置。

13、进一步地,所述第一照射光线与所述第二照射光线共同汇聚于同一区域,所述汇聚区域位于所述成像装置的拍摄区域内。

14、与现有技术相比,本技术具有以下有益效果:

15、本技术提供了一种凹凸面缺陷检测光源及装置,通过设置垂直于被测表面的第一照射光线,以及呈环状且倾斜于被测表面的第二照射光线,利用第二照射光线实现对被测表面瑕疵处的补光,能够在瑕疵处与第一照射光线形成较大的色阶变化,在后续进行图像处理时,能够根据色阶的差异判断产品是否合格,有利于提高表面凹凸型的被测表面的缺陷检测准确性。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种凹凸面缺陷检测光源,用于检测凹凸不平的表面;其特征在于,包括用于发出第一照射光线的主光源(21),还包括光源底座(10),所述光源底座(10)上设有补光光源(22),所述补光光源(22)用于发出第二照射光线,所述第二照射光线呈环状环绕于所述主光源(21)外,且所述第二照射光线倾斜于所述表面。

2.根据权利要求1所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述补光光源(22)包括多个围绕于所述主光源(21)设置的点光源,每个所述点光源均倾斜于所述被测表面。

3.根据权利要求2所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述光源底座(10)上设有多个安装座(11),所述多个安装座(11)与多个所述点光源一一对应,所述点光源设于所述安装座(11)上。

4.根据权利要求3所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述点光源与所述安装座(11)旋转连接。

5.根据权利要求4所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述安装座(11)上设有弧形槽(12),所述点光源上设有限位凸柱,所述限位凸柱可滑动地限位于所述弧形槽(12)内。

6.根据权利要求2所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述光源底座(10)上开设有拍摄窗口(13);

7.根据权利要求1或2所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述第一照射光线与所述第二照射光线共同汇聚于同一区域。

8.一种凹凸面缺陷检测装置,其特征在于,包括如权利要求1至7任一项所述的凹凸面缺陷检测光源,还包括成像装置,所述成像装置包括相机(31)和镜头(32)。

9.根据权利要求8所述的凹凸面缺陷检测装置,其特征在于,所述光源底座(10)上开设有拍摄窗口(13),所述镜头(32)对准于所述拍摄窗口(13)设置。

10.根据权利要求9所述的凹凸面缺陷检测装置,其特征在于,所述第一照射光线与所述第二照射光线共同汇聚于同一区域,所述汇聚区域位于所述成像装置的拍摄区域内。

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【技术特征摘要】

1.一种凹凸面缺陷检测光源,用于检测凹凸不平的表面;其特征在于,包括用于发出第一照射光线的主光源(21),还包括光源底座(10),所述光源底座(10)上设有补光光源(22),所述补光光源(22)用于发出第二照射光线,所述第二照射光线呈环状环绕于所述主光源(21)外,且所述第二照射光线倾斜于所述表面。

2.根据权利要求1所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述补光光源(22)包括多个围绕于所述主光源(21)设置的点光源,每个所述点光源均倾斜于所述被测表面。

3.根据权利要求2所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述光源底座(10)上设有多个安装座(11),所述多个安装座(11)与多个所述点光源一一对应,所述点光源设于所述安装座(11)上。

4.根据权利要求3所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所述点光源与所述安装座(11)旋转连接。

5.根据权利要求4所述的凹凸面缺陷检测光源,其特征在于,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟淮安袁智伟
申请(专利权)人:奥普特视觉科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

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