【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像配准领域，具体而言，涉及一种图像配准方法以及图像模板生成方法。
技术介绍
1、在利用光学成像原理进行序列测定的系统中，例如核酸序列测定，是通过光学器件对测序芯片上发出的光信号进行采集来确定碱基的类型，因此，图像分析是很重要的一块，依靠对图像上的光斑(扩增形成的簇)的检测识别、以及将检测识别的光斑转化成碱基/核苷酸序列以实现核酸序列的测定。图像上光斑的检测和定位的准确性直接决定了基因测序的准确性，进而决定了基因测序仪的测序质量。
2、基因测序过程中，依据所用技术不同，针对相同的区域，在每一个周期内，会拍摄并生成不同数量的包含光斑的图像，例如四色荧光技术，针对同一个区域，在一个周期内会拍摄并生成成四张图像，以识别四种不同的碱基；当前的方法中会利用前n个周期得到的图像生成模板图像，后续周期拍摄生成的图像则与模板图像进行匹配，以通过模板光斑位置确定待测基因序列中每一周期内碱基位置和类型，以完成序列测定，可以看出，图像配准与否对后续的序列测定准确率影响很大。
3、但是由于每个周期内光学镜头相对测序芯片会移动以对芯片的各个部分进行图像采集，因此前n个周期内各周期之间对于相同的区域有偏移的情况，相关技术中为了解决这种偏移，因此待配准光斑图像依据模板光斑图像进行配准，但是相关技术中待配准光斑图像依据模板光斑图像进行配准时，存在配准过程复杂，计算量大，导致配准效率低的技术问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种图像配准方法以及图像模板生成方法，以
2、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种图像配准方法，包括：从测序芯片上采集待配准光斑图像；确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的频域互功率谱；逆变换所述频域互功率谱，得到对应所述待配准光斑图像偏移的矩阵；确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量；依据所述目标偏移量，校正待配准光斑图像，得到配准光斑图像。
3、可选地，所述确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的频域互功率谱，包括：确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的初始频域互功率谱；依据频域小波滤波法，对所述初始频域互功率谱进行滤波，得到所述频域互功率谱。
4、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：依据所述目标预设范围，确定第一校验预设范围，其中，所述第一校验预设范围包括所述目标预设范围；确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第一校验最大值点；在所述第一校验最大值点与所述目标最大值点相同的情况下，确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量。
5、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第一校验最大值点之后，还包括：在所述第一校验最大值点与所述目标最大值点不相同的情况下，循环执行依据所述第一校验预设范围，确定第二校验预设范围，并确定位于所述矩阵的顶点处的第二校验预设范围内的第二校验最大值点的操作，直至所述第一校验最大值点与所述第二校验最大值点相同，确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第一校验最大值点为所述目标偏移量。
6、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第二校验预设范围内的第二校验最大值点之后，还包括：在所述第一校验最大值点与所述第二校验最大值点不相同的情况下，依据所述第二校验预设范围，确定第三校验预设范围；确定位于所述矩阵的顶点处的第三校验预设范围内的第三校验最大值点；在所述第三校验最大值点与所述第二校验最大值点相同的情况下，确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第二校验最大值点为所述目标偏移量。
7、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的与每个元素位置对应的取值；在所述与每个元素位置对应的取值中确定出目标最大值点；确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量。
8、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量，包括：确定所述目标最大值点与所述目标预设范围内的除目标元素位置外的每个元素位置对应的取值的差值，其中，所述目标元素位置为所述目标最大值点对应的元素位置；在所述差值均大于第一预定阈值情况下，确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量。
9、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量，包括：在所述目标最大值点大于第二预定阈值的情况下，确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量。
10、可选地，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量之前，还包括：从所述测序芯片上采集多张光斑图像；确定所述多张光斑图像中每两张光斑图像之间对应的偏移量；依据所述多张光斑图像中每两张光斑图像之间对应的偏移量，确定所述目标预设范围。
11、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种图像模板确定方法，包括：从测序芯片上采集多组目标光斑图像，其中，所述多组目标光斑图像中每组光斑图像中均包括多张目标光斑图像，所述多张目标光斑图像分别为依据不同荧光试剂标记所述测序芯片上的目标对象后拍摄得到的；按照荧光试剂对所述多张目标光斑图像进行分类，得到多组荧光光斑图像，其中，所述多组荧光光斑图像中每组荧光光斑图像包括的目标光斑图像为相同荧光试剂标记所述目标对象后得到拍摄得到的光斑图像；在所述多组荧光光斑图像中的每组荧光光斑图像中，确定每两张目标光斑图像之间对应的偏移量；依据所述多组荧光光斑图像中，每组荧光光斑图像中每两张目标光斑图像之间对应的偏移量，确定与多组荧光光斑图像分别对应的目标偏移量；依据与多组荧光光斑图像分别对应的目标偏移量，确定对应的模板光斑图像。
12、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种图像配准装置，包括：第一采集模块，用于从测序芯片上采集待配准光斑图像；第一确定模块，用于确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的频域互功率谱；逆变换模块，用于逆变换所述频域互功率谱，得到对应所述待配准光斑图像偏移的矩阵；第二确定模块，用于确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量；配准模块，用于依据所述目标偏移量，校正待配准光斑图像，得到配准光斑图像。
13、根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种图像模板确定装置，包括：第二采集模块，用于从测序芯片上采集多组目标光斑图像，其中，所述多组目标光斑图像中每组光斑图像中均包括多张目标光斑图像，所述多张目标光斑图像分别为依据不同荧光试剂标记所述测序芯片上的目标对象后拍摄得到的；分类模块，用于按照荧光试剂对所述多张目标光斑图像进行分类，得到多组荧光光斑图像，其中，所述多组荧光光本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种图像配准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的频域互功率谱，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第一校验最大值点之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第二校验预设范围内的第二校验最大值点之后，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量，包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为所述目标偏移量，包括：
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10.一种图像模板确定方法，其特征在于，包括：
11.一种图像配准装置，其特征在于，包括：
12.一种图像模板确定装置，其特征在于，包括：
13.一种电子设备，其特征在于，包括：
14.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如权利要求1至9中任一项所述的图像配准方法，或，权利要求10中所述的图像模板确定方法。
...【技术特征摘要】
1.一种图像配准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待配准光斑图像与模板光斑图像之间的频域互功率谱，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第一校验预设范围内的第一校验最大值点之后，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的第二校验预设范围内的第二校验最大值点之后，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目标预设范围内的目标最大值点为目标偏移量，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定位于所述矩阵的顶点处的目...
【专利技术属性】
技术研发人员：李重斌，
申请(专利权)人：广东润鹏生物技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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