地址生成和检测方法、再现和记录装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及地址生成和检测方法、再现和记录装置。对埋入抖动中的地址构造相同而地址的位分配不同的两种盘进行地址检测。从盘中检测出每层的记录容量，选择现有光盘中的抖动地址的位分配与高密度光盘中的位分配，进行控制，检测盘上的物理位置地址。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种记录有地址的记录介质、例如进行光盘的地址生成和检测的方法、从记录介质进行数据的记录再现的再现装置、记录装置。
技术介绍
在专利文献1的图6中，示出Blu-ray Disc的地址信息的相关性，公开有段落W010]的记载“地址单元编号(AUN)如图6所示，与物理扇区编号相关联，并且与物 理ADIP(AddreSS In Pre-groove 地址预刻)地址相关联，所以用作搜索记录位置用 的参照信息。”。根据图，就分配1个地址给扇区单位的数据的物理扇区编号(Physical SectorNumber、PSN)与埋入抖动(wobble)的物理 ADIP 地址(Physical ADIPAddress,PAA) 的关系而言，为32*PSN = 3*PAA的关系，但PSN的位31至位27的5个位未分配对应于PAA 的位。专利文献1 日本特开2008-41243号公报在专利文献1的位分配中，当PSN比以前用27位表现的数据量多的情况下，应埋 入抖动的PAA的位数会不足。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种变更了抖动地址(wobble address)的位扩展或位分 配的记录介质的地址生成和检测方法、再现和记录装置。为了解决上述问题，从光盘中检测地址的位分配识别信息，选择现有的抖动地址 的位分配与变更后的位分配并进行控制，检测光盘上的物理位置地址。本专利技术提供一种记录介质的地址生成方法，该记录介质具有记录具有多个记录 层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址生成方法 中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地 址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h_k)位的层编号地址、(i+k) 位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数， 根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1位分配与第2位分配，生成地 址。本专利技术还提供一种记录介质的地址检测方法，该记录介质具有记录具有多个记 录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址检测方 法中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据位 置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地 址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h-k)位的层编号地址、(i+k) 位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数， 根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上述第1位分配与第2位分配，检测地址。本专利技术还提供一种从记录介质再现数据的再现装置，该记录介质具有记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该再现 装置中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数据 位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号 地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h-k)位的层编号地址、 (i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自 然数，具有对应于上述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于上述第2位分 配来检测地址的第2地址再现单元，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上 述第1再现单元和第2再现单元的检测结果，检测出地址，再现数据。本专利技术还提供一种在记录介质中记录数据的记录装置，该记录介质具有记录具 有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该记 录装置中，上述地址是由表示上述多个记录层的编号的层编号地址、表示上述多个簇的数 据位置的簇编号地址和对上述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编 号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h-k)位的层编号地址、 (i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自 然数，具有对应于上述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于上述第2位分 配来检测地址的第2地址再现单元，根据上述记录介质中存储的位分配识别信息，选择上 述第1再现单元和第2再现单元的检测结果，检测出地址，记录数据。通过本专利技术，除现有技术中的位分配的记录介质的地址检测外，还能够进行变更 了位扩展或位分配后的记录介质的地址检测。附图说明图1是作为本专利技术第1实施例的光盘记录再现装置(之1)。图2是现有的多层光盘的地址相关图。图3是本专利技术第1实施例的多层光盘的地址相关图。图4是本专利技术第2实施例的多层光盘的地址相关图(之1)。图5是本专利技术第2实施例的多层光盘的地址相关图(之2)。图6是本专利技术第3实施例的多层光盘的地址相关图(之1)。图7是本专利技术第3实施例的多层光盘的地址相关图(之2)。图8是本专利技术第4实施例的多层光盘的地址相关图。图9是现有技术中、本专利技术第2实施例(之1)的多层光盘的ADIP地址构造图。图10是作为本专利技术第1实施例的光盘记录再现装置(之2)。符号说明101 光盘；102 拾取器；103 主轴电机；104 第1地址再现电路；105 第2地址 再现电路；106 选择电路；107 位分配识别电路；108 数据记录再现电路；109 主机；110 微机；201 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN) ；202 地址单元编号(Address Unit Number :AUN)；203 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；301 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN)；302 地址单元编号(Address Unit Number :AUN)；303:物理 ADIP 地址(Physical ADIPAddress :PAA)；401 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN)；402 地址单元编号(Address Unit Number :AUN)；403 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；501 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN)；502 地址单元编号(Address Unit Number :AUN)；503 物理 ADIP 地址(Physical ADIP Address :PAA)；504:物理 ADIP 地址(Physical ADIPAddress :PAAW)；505 加扰电路；506 “异”门；601 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN)；602 地址单元编号(Address Unit Number :AUN)；603:物理 ADIP 地址(Physical ADIPAddress :PAA)；701 物理扇区编号(Physical Sector Number :PSN)；702本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种记录介质的地址生成方法，该记录介质具有：记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址生成方法的特征在于：所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由ｈ位的层编号地址、ｉ位的簇编号地址、ｊ位的计数值构成的第１位分配；和由（ｈ－ｋ）位的层编号地址、（ｉ＋ｋ）位的簇编号地址和ｊ位的计数值构成的第２位分配的任意一个，其中，ｈ、ｉ、ｊ、ｋ为自然数，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第１位分配与第２位分配，生成地址。

【技术特征摘要】
JP 2009-2-24 2009-040137一种记录介质的地址生成方法，该记录介质具有记录具有多个记录层和多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址生成方法的特征在于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由(h-k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其中，h、i、j、k为自然数，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1位分配与第2位分配，生成地址。2.一种记录介质的地址检测方法，该记录介质具有记录具有多个记录层和多个簇结 构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址检测方法的特征在于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由 (h-k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一 个，其中，h、i、j、k为自然数，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1位分配与第2位分配，检测 地址。3.—种从记录介质再现数据的再现装置，该记录介质具有记录具有多个记录层和多 个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该再现装置的特征在 于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由 (h-k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一 个，其中，h、i、j、k为自然数，具有对应于所述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于所述第2位分 配来检测地址的第2地址再现单元，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1再现单元和第2再现单元 的检测结果，检测出地址，再现数据。4.一种在记录介质中记录数据的记录装置，该记录介质具有记录具有多个记录层和 多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该记录装置的特征在 于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由 (h-k)位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一 个，其中，h、i、j、k为自然数，具有对应于所述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于所述第2位分配来检测地址的第2地址再现单元，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1再现单元和第2再现单元 的检测结果，检测出地址，记录数据。5.一种记录介质的地址生成方法，该记录介质具有记录具有多个记录层和多个簇结 构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址生成方法的特征在于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由h 位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其 中，h、i、j、k为自然数，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1位分配与第2位分配，生成 地址。6.一种记录介质的地址检测方法，该记录介质具有记录具有多个记录层和多个簇结 构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该地址检测方法的特征在于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由h 位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其 中，h、i、j、k为自然数，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1位分配与第2位分配，检测 地址。7.—种从记录介质再现数据的再现装置，该记录介质具有记录具有多个记录层和多 个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该再现装置的特征在 于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由h 位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其 中，h、i、j、k为自然数，具有对应于所述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于所述第2位分 配来检测地址的第2地址再现单元，根据所述记录介质中存储的位分配识别信息，选择所述第1再现单元和第2再现单元 的检测结果，检测出地址，再现数据。8.—种在记录介质中记录数据的记录装置，该记录介质具有记录具有多个记录层和 多个簇结构的数据的区域和表示记录介质中的物理记录位置的地址，该记录装置的特征在 于所述地址是由表示所述多个记录层的编号的层编号地址、表示所述多个簇的数据位置 的簇编号地址和对所述簇的簇内进行计数的计数值构成的地址，具有由h位的层编号地址、i位的簇编号地址、j位的计数值构成的第1位分配；和由h位的层编号地址、(i+k)位的簇编号地址和j位的计数值构成的第2位分配的任意一个，其 中，h、i、j、k为自然数，具有对应于所述第1位分配来检测地址的第1地址再现单元；和对应于所述第2位分 配来检测地址的第2地址再现单元，根据所述记录介质中存储的位分配识别信...

【专利技术属性】
技术研发人员：池田政和，福岛秋夫，广瀬幸一，
申请(专利权)人：日立民用电子株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]