【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及软硬结合板加工，具体的是一种尺寸的监控方法。
技术介绍
1、本部分的描述仅提供与本专利技术公开相关的背景信息，而不构成现有技术。
2、软硬结合板是一种将柔性电路板(fpc板)和硬性电路板(pcb板)按照相关工艺要求组合在一起的一种电路板，具有fpc板和pcb板两者之间共有的特性，可以实现电路板的折叠、弯曲且具有较佳的可靠性，在电子产品领域运用的极为广泛。
3、其中，lcm产品就是软硬结合板运用的一种实例。lcm产品是指液晶显示模组，是一种将液晶显示器件、连接件、控制与驱动等外围电路、fpc板、pcb板、背光源、结构件等装配在一起的组件。在现有需求中，对lcm产品的pnl排版增大后，由于lcm产品的金手指一般设置在软硬结合板的内层，经过传压增层后边无法对金手指的尺寸进行校准，这样就无法对在制作过程中软硬结合板中的金手指的尺寸及涨缩的变化进行监测，并最终导致了pnl排版放大的情况下金手指的尺寸偏差过大，产品良品率低下。
4、因此，现在还没有一种尺寸的监控方法，能够解决上述问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了能提供一种高效自动化的尺寸的监控方法，可以在软硬结合板制作过程中对金手指的涨缩监测，以提高软硬结合板的良品率。
2、为了实现上述目的，本专利技术公开了以下一种尺寸的监控方法，其中包括以下步骤：
3、提供pnl排板；
4、分别在所述pnl排板的基础上制作pcb板和fpc板；
5
6、在每层金手指的两侧设置量测光学点；
7、对所述pcb板和所述fpc板之间进行传压增层，同时在传压增层后，通过x-ray钻靶机对所述量测靶孔和所述量测光学点对实际涨缩变化量进行追踪，并与预设涨缩变化量进行对比；
8、基于所述实际涨缩变化量与所述预设涨缩变化量之间的差值，修正下一次传压增层前所准备的该层所述pcb板和所述fpc板的尺寸。
9、进一步地，在提供所述pnl排板的步骤中，加大所述pnl排板的面积。
10、进一步地，所述pnl排板的面积加大至500*450mm。
11、进一步地，在所述pnl排板的两侧设置所述量测靶孔的步骤中，在所述pnl排板两侧各设置有三个等距排列的所述量测靶孔。
12、进一步地，在所述pnl排板两侧设置的所述量测靶孔沿所述pnl排板的中线镜像对称。
13、进一步地，在每层所述金手指的两侧设置量测光学点的步骤中，在所述金手指的两侧各设置有一个所述量测光学点。
14、进一步地，在所述金手指的两侧设置的所述量测光学点沿所述金手指的中线镜像对称。
15、进一步地，在基于所述实际涨缩变化量与所述预设涨缩变化量之间的差值，修正下一次传压增层前所准备的该层所述pcb板和所述fpc板的尺寸的步骤后，还包括对所述pnl排板的传压增层、表面处理和成品分割的步骤。
16、本专利技术还公开了一种pnl排板，所述pnl排板上包括金手指，其中，所述pnl排板的两侧包括等距排布的多个量测靶孔，每层所述金手指的两侧包括一对量测光学点。
17、借由以上的技术方案，本专利技术的有益效果如下：
18、1.本专利技术的尺寸的监控方法通过在pnl排板的两侧设置量测靶孔，并在金手指的两侧设置量测光学点，能够在对软硬结合板传压增层后，通过利用x-ray钻靶机对量测靶孔和量测光学点的识别，可得到当前的加工实际涨缩变化量，并通过实际涨缩变化量与预设涨缩变化量之间的差值修正后续的加工作业。相比现有技术中无法对每层金手指监测值进行监测、或必须开盖后再对金手指进行监测的缺点，本专利技术通过上述技术手段可有效地监测每一步骤中的偏差并将数据纳入下一次加工中进行校正，实现了较高的软硬结合板的金手指良品率。
19、2.本专利技术的尺寸的监控方法中通过量测靶孔的设置可实现对每层的pcb板涨缩的全过程监测，能够保持可适用于较大的pnl排板的基础上，也能够实现在后期表面处理中的电测和smt打件刷锡过程中满足涨缩能满足加工要求，同时实现借助较大的pnl排板降低成本，且实现较高的产能。
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1.一种尺寸的监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在提供所述PNL排板的步骤中，加大所述PNL排板的面积。
3.根据权利要求2所述的尺寸的监控方法，其特征在于：所述PNL排板的面积加大至500*450mm。
4.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在所述PNL排板的两侧设置所述量测靶孔的步骤中，在所述PNL排板两侧各设置有三个等距排列的所述量测靶孔。
5.根据权利要求4所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在所述PNL排板两侧设置的所述量测靶孔沿所述PNL排板的中线镜像对称。
6.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在每层所述金手指的两侧设置量测光学点的步骤中，在所述金手指的两侧各设置有一个所述量测光学点。
7.根据权利要求6所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在所述金手指的两侧设置的所述量测光学点沿所述金手指的中线镜像对称。
8.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在基于所述实际涨缩变化量与所述预设涨缩变化量之间
9.一种PNL排板，所述PNL排板上包括金手指，其特征在于，所述PNL排板的两侧包括等距排布的多个量测靶孔，每层所述金手指的两侧包括一对量测光学点。
...【技术特征摘要】
1.一种尺寸的监控方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在提供所述pnl排板的步骤中，加大所述pnl排板的面积。
3.根据权利要求2所述的尺寸的监控方法，其特征在于：所述pnl排板的面积加大至500*450mm。
4.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在所述pnl排板的两侧设置所述量测靶孔的步骤中，在所述pnl排板两侧各设置有三个等距排列的所述量测靶孔。
5.根据权利要求4所述的尺寸的监控方法，其特征在于：在所述pnl排板两侧设置的所述量测靶孔沿所述pnl排板的中线镜像对称。
6.根据权利要求1所述的尺寸的监控方法，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：皇甫铭，张健，
申请(专利权)人：福莱盈电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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