【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于调整、校准和/或用于执行光学传感器的功能检查的校准标准、传感器装置和用途。
技术介绍
1、传感器为荧光传感器。在荧光测量中，通常用短波激发光（发射光）照射介质，并且检测由介质产生并且根据待测量物质的浓度产生的较长波荧光（接收光）。荧光传感器包括光源和接收器。光源发射发射光；接收器接收接收光。
2、这样的荧光传感器必须定期进行功能测试和/或校准。为此目的，在液体测量设备中能够使用对应的标准液体或具有限定荧光的固体。此处重要的是，标准的发射荧光强度相对于环境影响、老化和激发uv辐射是稳定的。
3、在液体标准的情况下，能够非常快速地观察到老化；在几天之后，荧光强度已经产生明显变化。此外，液体的处理是麻烦的。
4、市售固体标准通常包含例如基于pmma的有机材料。这导致由激发uv辐射引起的荧光信号的强退化。
5、温度稳定性也是必要的，上述标准不实现温度稳定性。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是克服所描述的缺点。特别地，在光学传感器的情况下，应当可以利用长期稳定的校准装置来执行通用并且完整的校准。
2、本专利技术的目的是通过用于调整、校准和/或用于执行光学传感器的功能检查的校准附件来实现的，光学传感器被设计成借助于光来测量介质中的至少一个测量变量，其中，传感器被设计成发射至少200-450nm范围内的波长的发射光，校准附件包括壳体和布置在壳体中的主体，其中，主体包括镨，并且其中，主体在用发射光激发，特别是通过吸收
3、传感器是例如荧光传感器，其中，荧光能够被限定为由不同的，特别是更短的波长的光的吸收产生的波长的光的发射。
4、为此目的，主体包括的镨必须定位在主体的表面或主体本身，主体对于激发波长，即发射光，是基本上透明的。
5、在本情况下，为了检查测量精度、功能以及荧光传感器的重新校准或调整的可能性，专利技术了固体标准，其提供合适的荧光测量值，与先前可用的概念相比，该固体标准相对于老化、环境影响和激发辐射的稳定程度显著更高。
6、本专利技术的目的是通过使用镨实现的。在250-500nm，特别是340-380nm的波长范围内产生足够强的荧光信号。由于在uv范围中使用200-450nm的发射光，所以相对于激发uv光的稳定性特别关键，这在其他波长范围中，诸如红外波长范围中不太重要。
7、如已经发现的，当使用镨时，测量范围中的荧光强度在以下各项的影响下根本不改变或几乎不改变：
8、用荧光测量设备的激发光的多天照射
9、在-10℃至+80℃范围内的温度改变
10、湿度改变
11、存储若干年。
12、如所提及的，利用镨产生特殊属性。在降低稳定性标准的情况下，还能够使用包括铈、银、铅、钴、锰、镍、钕、钐或锌的主体。
13、然而，用镨获得最佳结果。
14、一个实施例提供了，主体是玻璃主体。
15、一个实施例提供了，玻璃主体掺杂有镨。
16、一个实施例提供了，镨或镨化合物，特别是镨氧化物被添加到玻璃形成材料和玻璃转化材料中，并且该混合物被加热以形成玻璃，以便通过固化获得玻璃主体。
17、一个实施例提供了，通过离子交换掺杂玻璃主体。
18、一个实施例提供了，镨或镨化合物，特别是镨氧化物作为颗粒、晶体、聚集体等被添加到玻璃熔体中，特别是镨或镨化合物被烧结到玻璃熔体中，或者镨或镨化合物进一步熔化到玻璃熔体中。
19、一个实施例提供了，通过熔合两种玻璃来生产玻璃主体，其中一种玻璃是非着色玻璃，并且另一种是着色玻璃，其包括镨或镨化合物，特别是镨氧化物。
20、一个实施例提供了，玻璃主体包括玻璃陶瓷和/或部分结晶材料。
21、一个实施例提供了，主体是塑料主体。
22、一个实施例提供了，含镨的化合物被添加到玻璃或塑料主体中；在一个实施例中，要求保护的镨因此还包括含镨的化合物。
23、一个实施例提供了，主体经由机械保持器安装在壳体中。
24、一个实施例提供了，主体被设计为盘形或透镜形。
25、为了作为固体标准使用，盘形或透镜形珠的形式的相关玻璃样品被放置在机械支架中，该机械支架能够被附接到传感器。
26、一个实施例提供了，壳体包括用于传感器的插口。
27、一个实施例提供了，壳体对发射光是基本上透明的。
28、一个实施例提供了，壳体包括开口并且发射光通过开口撞击在主体上。
29、此外，该目的由一种传感器装置来实现，该传感器装置包括：至少一个光源，其中，该光源发射至少波长在200-450nm范围内的发射光；至少一个接收器，其被设计成接收波长大于发射光的接收光，特别是波长为250-500nm的接收光；以及如上所述的校准附件，其中，由主体发射的光形成接收光。
30、此外，该目的通过用于调整、校准和/或用于执行光学传感器的功能检查的镨的用途来实现，其中，传感器被设计成发射至少200-450nm范围内的波长的发射光。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于调整、校准和/或用于执行光学传感器（100）的功能检查的校准附件（50），所述光学传感器（100）被设计成借助于光来测量介质（5）中的至少一个测量变量，其中，所述传感器（100）被设计成发射至少在200-450nm范围内的波长的发射光，所述校准附件（50）包括：
2.根据权利要求1所述的校准附件（50），
3.根据权利要求2所述的校准附件（50），
4.根据权利要求1所述的校准附件（50），
5.根据权利要求1-4中任一项所述的校准附件（50），
6.根据权利要求1-5中任一项所述的校准附件（50），
7.根据权利要求1-6中任一项所述的校准附件（50），
8.根据权利要求1-7中任一项所述的校准附件（50），
9.根据权利要求1-8中任一项所述的校准附件（50），
10.一种传感器装置（200），包括
11.用于调整、校准和/或用于执行光学传感器（100）的功能检查的镨的用途，其中，所述传感器（100）被设计成发射至少波长在200-450nm范围内
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于调整、校准和/或用于执行光学传感器（100）的功能检查的校准附件（50），所述光学传感器（100）被设计成借助于光来测量介质（5）中的至少一个测量变量，其中，所述传感器（100）被设计成发射至少在200-450nm范围内的波长的发射光，所述校准附件（50）包括：
2.根据权利要求1所述的校准附件（50），
3.根据权利要求2所述的校准附件（50），
4.根据权利要求1所述的校准附件（50），
5.根据权利要求1-4中任一项所述的校准附件（...
【专利技术属性】
技术研发人员：安德烈亚斯·拜尔，蒂洛·克雷奇默，费利西娅·赛希特，约阿希姆·博勒，
申请(专利权)人：恩德斯豪斯分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：
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