【技术实现步骤摘要】
本申请涉及内存检测领域，特别是一种在较长观察时间下进行的内存检测方法及其检测系统。
技术介绍
1、当今半导体的外部信号通信速度和复杂性不断提高，因此，在电路板设计和保持信号完整性带来越来越多的挑战。另外，较新的信号校准方案增加了更多的复杂性。因而一旦系统出现故障，找到相关的根本原因变得越来越难。
2、目前中央处理器(central processing unit，cpu)与dram模块之间的信号传输速度大幅提高，目前已超过1ghz。因此，在主板设计时需特别设计以提高信号传输的完整性，并且，还需要在系统启动时采用合适的校准方案。举例来说，在主板启动过程中执行一个启动序列，以校准不同dram组件数据信号的运行时间差。如果启动序列不成功，cpu只会发出“无法启动 ”警告，但不会提供进一步的调试信息。
3、另一个常见问题则是cpu在长时间运行应用程序后产生挂起状态，此时用户可能看到黑屏或是计算机系统和屏幕冻结。然而，常发生的情况是，大部份的情况下dram组件皆能正常使用，但会产生偶发性的故障，而其他厂牌的dram组件却运行良好，反之亦然。造成这种故障的原因可能是用户的电路板设计不佳、信号完整性问题或用户控制器执行了非法信号，造成某些厂牌的dram组件产生故障，某些厂牌的dram则不会。
4、调试这些问题需要进行大量探测，很容易耗费数周时间，且仍无法确定根本原因。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术提供了解决此类应用故障调试的方法。
<...【技术保护点】
1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述第一记忆芯片产生的第一信号和所述第二记忆芯片产生的第二信号输入差分放大器，所述差分放大器产生比较信号，其中所述差分放大器连接到所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片。
3.根据权利要求2所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述比较信号输入低通滤波器，所述低通滤波器依据所述比较信号大于预设值的部分产生触发信号，其中所述差分放大器的输出端与低通滤波器的输入端相连接。
4.根据权利要求3所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述触发信号输入阈值产生器，所述阈值产生器依据所述触发信号大于设定阈值的部分产生最终输出触发信号，其中所述低通滤波器的输出端与阈值产生器的输入端相连接。
5.根据权利要求4所述的内存检测方法，其特征在于，还包括当所述触发信号大于设定阈值，所述阈值产生器产生最终输出触发信号。
6.根据权利要求3所述的内存检测方法，其特征在于，还包括以控制装置在所述第一信号和所述第二信号经过预设周期后，控制所述低通滤波器的
7.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，还包括以控制装置以地址信号或指令信号驱动所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片。
8.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述第一信号是驱动所述第一记忆芯片中的多个第一记忆单元后所产生的，所述第二信号是驱动所述第二记忆芯片中的多个第二记忆单元后所产生的。
9.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述第一信号和所述第二信号为时钟信号或命令信号。
10.一种内存检测系统，其特征在于，包括：
11.根据权利要求10所述的内存检测系统，其特征在于，所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片之间的距离小于15毫米。
12.根据权利要求10所述的内存检测系统，其特征在于，所述差分放大器的放大倍率为1至1000。
13.根据权利要求10所述的内存检测系统，其特征在于，所述第一记忆芯片产生的第一信号和所述第二记忆芯片产生的第二信号输入所述差分放大器，所述差分放大器产生比较信号。
14.根据权利要求13所述的内存检测系统，其特征在于，所述比较信号输入所述低通滤波器，所述低通滤波器依据所述比较信号大于预设值的部分产生触发信号。
15.根据权利要求14所述的内存检测系统，其特征在于，所述触发信号输入所述阈值产生器，所述阈值产生器依据所述触发信号大于设定阈值的部分产生最终输出触发信号。
16.根据权利要求10所述的内存检测系统，其特征在于，所述阈值产生器的输出端与示波器相连接，所述示波器接收所述第一记忆芯片或所述第二记忆芯片中的至少一个的地址信号、命令信号和/或数据信号中的至少一个。
17.根据权利要求10所述的内存检测系统，其特征在于，所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片焊接或连接到印刷电路板或基板上，所述测试装置包括所述印刷电路板或所述基板。
18.根据权利要求17所述的内存检测系统，其特征在于，所述差分放大器设置在所述印刷电路板或所述基板上。
...【技术特征摘要】
1.一种内存检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述第一记忆芯片产生的第一信号和所述第二记忆芯片产生的第二信号输入差分放大器，所述差分放大器产生比较信号，其中所述差分放大器连接到所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片。
3.根据权利要求2所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述比较信号输入低通滤波器，所述低通滤波器依据所述比较信号大于预设值的部分产生触发信号，其中所述差分放大器的输出端与低通滤波器的输入端相连接。
4.根据权利要求3所述的内存检测方法，其特征在于，还包括将所述触发信号输入阈值产生器，所述阈值产生器依据所述触发信号大于设定阈值的部分产生最终输出触发信号，其中所述低通滤波器的输出端与阈值产生器的输入端相连接。
5.根据权利要求4所述的内存检测方法，其特征在于，还包括当所述触发信号大于设定阈值，所述阈值产生器产生最终输出触发信号。
6.根据权利要求3所述的内存检测方法，其特征在于，还包括以控制装置在所述第一信号和所述第二信号经过预设周期后，控制所述低通滤波器的输出端接地。
7.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，还包括以控制装置以地址信号或指令信号驱动所述第一记忆芯片和所述第二记忆芯片。
8.根据权利要求1所述的内存检测方法，其特征在于，所述第一信号是驱动所述第一记忆芯片中的多个第一记忆单元后所产生的，所述第二信号是驱动所述第二记忆芯片中的多个第二记忆单元后所产生的。
9.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：濮必得，殷和国，
申请(专利权)人：芯梦达半导体科技济南有限公司，
类型：发明
国别省市：
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