【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动化控制领域，尤其涉及一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法及装置。
技术介绍
1、键合铜丝设备控制是指使用自动化设备和技术来精确地操纵铜丝，将其键合到半导体器件、集成电路或其他电子组件上的过程，通过精细的控制，可以确保电子产品的性能和寿命，同时提高生产效率和降低成本。
2、目前键合铜丝设备控制主要是通过识别扫描待键合目标的键合位置，来设置键合铜丝设备控制的键合参数实现，这种方法在键合位置的获取容易受到光线、灰尘、污染或反射的影响，使得键合位置偏差，键合铜丝设备无法及时更改键合参数，从而导致键合铜丝设备的控制效果不佳。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法及装置，其主要目的在于提高对键合铜丝设备的控制效果。
2、为实现上述目的，本专利技术提供的一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，包括：
3、获取键合铜丝设备对应待键合目标的键合场景，分析所述键合场景的损失环境，基于所述损失环境，构建所述键合场景的损失补偿网络；
4、基于所述损失补偿网络，构建所述待键合目标的结构光纹，采集所述结构光纹下的待键合目标图像，识别所述待键合目标图像的光纹变形量，基于所述光纹变形量，定位所述待键合目标的键合点；
5、识别所述键合铜丝设备的设备功能指标，分析所述待键合目标的键合需求，基于所述设备功能指标和所述键合需求，计算所述键合点的键合优先级；
6、基于所述键合优先级，定义
7、基于所述合成势场，定义所述键合铜丝设备对应键合机器的键合路径，基于所述设备功能指标和所述键合路径，构建所述键合机器的时频资源，基于所述时频资源和所述键合路径，执行所述待键合目标对应键合点的键合。
8、可选地，所述基于所述损失环境，构建所述键合场景的损失补偿网络，包括：
9、识别所述损失环境的损失因素；
10、分析所述损失因素的因素特征；
11、基于所述因素特征，配置所述键合场景的损失补偿设备；
12、构建所述损失补偿设备的通信协议；
13、基于所述通信协议，构建所述键合场景的损失补偿网络。
14、可选地，所述基于所述损失补偿网络，构建所述待键合目标的结构光纹，包括：
15、识别所述待键合目标对应键合场景的待键合状态；
16、基于所述待键合状态，计算所述待键合目标的损失系数；
17、基于所述损失系数，配置所述损失补偿网络对应损失补偿设备的光纹补偿参数；
18、基于光纹补偿参数，构建所述待键合目标的结构光纹。
19、可选地，所述基于所述待键合状态，计算所述待键合目标的损失系数，包括：
20、基于所述待键合目标对应损失环境，识别所述待键合状态的目标损失因素；
21、分析所述目标损失因素的损失权重；
22、基于所述损失权重和所述目标损失因素，利用下述公式计算所述待键合目标的损失系数：
23、；
24、其中，表示待键合目标的损失系数，表示第个目标损失因素的损失权重，表示第个目标损失因素的因素状态值，表示第个目标损失因素的损失等级，表示损失等级函数，表示目标损失因素的关联系数。
25、可选地，所述提取所述待键合目标图像的光纹变形量，包括：
26、对所述待键合目标图像进行预处理，得到预处理目标图像；
27、识别所述预处理目标图像的光纹图像特征；
28、基于所述光纹图像特征，提取所述待键合目标图像的光纹图案；
29、基于所述光纹图案，利用下述公式计算所述待键合目标图像的光纹变形量：
30、；
31、其中，表示待键合目标图像的光纹变形量，表示待键合目标图像的理想光纹图案，表示待键合目标图像的光纹图案。
32、可选地，所述基于所述光纹变形量，定位所述待键合目标的键合点，包括：
33、获取所述待键合目标的历史键合数据；
34、对所述历史键合数据进行标记，得到标记历史键合数据；
35、利用所述标记历史键合数据，构建所述待键合目标的键合点识别模型；
36、基于所述待键合目标的对应待键合目标图像的光纹图像特征和所述光纹变形量，利用所述键合点识别模型定位所述待键合目标的键合点。
37、可选地，所述基于所述设备功能指标和所述键合需求，计算所述键合点的键合优先级，包括：
38、识别所述键合点的优先级因子；
39、分析所述优先级因子的优先级权重；
40、基于所述键合需求和所述优先级权重，分析所述优先级因子的优先级因子得分；
41、基于所述优先级因子得分和所述设备功能指标，计算所述键合点的键合优先级。
42、可选地，所述计算所述键合点的力场合成势场，包括：
43、标记所述序列键合点的第一键合点；
44、构建所述第一键合点的引力场；
45、标记所述第一键合点的障碍物；
46、构建所述障碍物的斥力场；
47、基于所述引力场和所述斥力场，计算所述第一键合点的力场合成势场。
48、可选地，所述基于所述引力场和所述斥力场，计算所述第一键合点的力场合成势场，包括：
49、识别所述引力场和所述斥力场的引力场强度系数和斥力场强度系数；
50、基于所述引力场强度系数和所述斥力场强度系数，利用下述公式计算所述第一键合点的力场合成势场：
51、；
52、其中，表示第一键合点的力场合成势场，表示第一键合点的引力场强度系数，表示时刻第一键合点和第一键合点对应键合铜丝设备的距离，表示第一键合点和第一键合点对应键合铜丝设备初始最短距离，表示第一键合点第个障碍物对应斥力场的斥力场强度系数，表示时刻第一键合点第个障碍物距离键合铜丝设备的距离，表示第一键合点第个障碍物距离键合铜丝设备的障碍物最短距离。
53、为了解决上述问题，本专利技术还提供一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制装置，所述装置包括：
54、补偿网络构建模块，用于获取键合铜丝设备对应待键合目标的键合场景，分析所述键合场景的损失环境，基于所述损失环境，构建所述键合场景的损失补偿网络；
55、键合点定位模块，用于基于所述损失补偿网络，构建所述待键合目标的结构光纹，采集所述结构光纹下的待键合目标图像，识别所述待键合目标图像的光纹变形量，基于所述光纹变形量，定位所述待键合目标的键合点；
56、键合优先级计算模块，用于识别所述键合铜丝设备的设备功能指标，分析所述待键合目标的键合需求，基于所述设备功能指标和所述键合需求，计算所述键合点的键合优先级；
57、合成势场计算模块，用于基于所述键合优先级，定义所述键合本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述损失环境，构建所述键合场景的损失补偿网络，包括：
3.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述损失补偿网络，构建所述待键合目标的结构光纹，包括：
4.如权利要求3所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述待键合状态，计算所述待键合目标的损失系数，包括：
5.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述识别所述待键合目标图像的光纹变形量，包括：
6.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述光纹变形量，定位所述待键合目标的键合点，包括：
7.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述设备功能指标和所述键合需求，计算所述键合点的键合优先级，包括：
8.如权利要求1所
9.如权利要求8所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述引力场和所述斥力场，计算所述第一键合点的力场合成势场，包括：
10.一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制装置，其特征在于，用于执行如权利要求1-9中任意一项所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，所述装置包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述损失环境，构建所述键合场景的损失补偿网络，包括：
3.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述损失补偿网络，构建所述待键合目标的结构光纹，包括：
4.如权利要求3所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述基于所述待键合状态，计算所述待键合目标的损失系数，包括：
5.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键合铜丝设备控制方法，其特征在于，所述识别所述待键合目标图像的光纹变形量，包括：
6.如权利要求1所述的基于侧行时频资源的键...
【专利技术属性】
技术研发人员：李盛伟，李妍琼，
申请(专利权)人：深圳中宝新材科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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