一种制作薄膜试样的磨样夹制造技术

本实用新型专利技术公开一种制作薄膜试样的磨样夹，包括内空的紧固外套（１）和可在紧固外套（１）的内空处移动和固定的顶砧（２），顶砧（２）表面开有凹槽（６），凹槽（６）内固定有磁铁（４）。采用本试样装置加工试样效率高，试样内部无应力，可以得到表面高质量的织构，也可以作为透射电镜薄膜检测试样。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种制作薄膜试样的装置，尤其涉及一种制作薄膜试样的磨样夹。
技术介绍
织构对硅钢性能影响较大，硅钢成品织构直接影响成品性能。由于轧制过程的不 均匀变形，导致硅钢沿钢板厚度方向织构也发生了变化。用于检测织构的x射线珩射仪所 用的X射线穿透能力有限，只能检测到表面较浅范围内的织构。为了能检验到整个厚度范 围内织构，现有主要方法是将试样减薄到不同厚度分别进行检测了解相应厚度处的织构。 加工试样时如果产生内应力将会使检验结果产生偏差。 减薄试样的方法有平面磨床磨削、砂纸手工打磨、线切割等方法。平面磨床磨削 速度较快，但一般测量试样较小，固定在磨床上较困难，另外磨床加工试样存在较大的内应 力，影响检测结果。砂纸手工打磨由于切削量较小，加工试样内应力小。但加工速度较慢， 厚度不好掌握，易磨偏，试样把持困难。线切割方法可以高效加工试样，而且加工后的试样 没有残余应力，但由于钢板较薄，并且试样较小，装卡时不能保证钼丝与钢板表面平行，导 致加工的试样厚度不均。 透射电镜进行析出物、位错密度等观察需要将试样加工成极薄试样，首先需采用 机械方法尽量减薄试样，然后再用电解双喷、离子减薄等方法进行减薄试样。如果试样应力 过大，也会对试样影响较大。在机械减薄试样也同样遇到以上问题。在加工较薄试样，如 1. 0mm厚度以下试样时，采用线切割较困难，通常采用手工打磨或化学减薄等方法，前一方 法试样精度较难保证及加工速度较慢，后一方法加工速度较慢。
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本技术所要解决的技术问题在于提供一种高效制备无内 应力的磨样夹。 磨样夹包括内空的紧固外套、可在紧固外套的内空处移动和固定的顶砧，顶砧表 面开有凹槽，凹槽内固定有磁铁。 顶砧通过紧固外套上的孔和紧固螺钉与紧固外套固定。 采用本试样装置加工试样效率高，试样内部无应力、可以得到表面高质量的织构、 也可以作为透射电镜薄膜检测试样。附图说明图1为本技术磨样夹示意图； 图2为本技术磨样夹侧视图。 其中，1-紧固外套；2-顶砧；3-紧固螺钉；4-磁铁；5-试样；6-凹槽。具体实施方式以下结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明 如图1所示， 磨样夹包括内空的紧固外套1、可在紧固外套1的内空处移动和固定的顶砧2、顶 砧2表面开有凹槽6，凹槽6内固定一块磁铁4。 顶砧2通过紧固外套1上的孔和紧固螺钉3与紧固外套1固定。 顶砧2外形与紧固外套1内空处样同，并可以在紧固外套1内自由的上下活动。根 据被磨试样5的厚度调整顶砧2的位置，使被磨试样5露出紧固外套1，以便磨削。当顶砧 2调整到合适位置时，拧紧紧固螺钉3将顶砧2固定在紧固外套1上。顶砧2与被磨试样5 接触表面开有凹槽6，凹槽6内固定一块磁铁4，被磨试样5通过磁铁4吸附在顶砧2上，使 被磨试样5嵌在紧固外套1内。权利要求一种制作薄膜试样的磨样夹，其特征在于包括内空的紧固外套(1)和可在紧固外套(1)的内空处移动和固定的顶砧(2)，顶砧(2)表面开有凹槽(6)，凹槽(6)内固定有磁铁(4)。2. 根据权利要求1所述的磨样夹，其特征在于所述的顶砧(2)通过紧固外套(1)上 的孔和紧固螺钉(3)与紧固外套(1)固定。专利摘要本技术公开一种制作薄膜试样的磨样夹，包括内空的紧固外套(1)和可在紧固外套(1)的内空处移动和固定的顶砧(2)，顶砧(2)表面开有凹槽(6)，凹槽(6)内固定有磁铁(4)。采用本试样装置加工试样效率高，试样内部无应力，可以得到表面高质量的织构，也可以作为透射电镜薄膜检测试样。文档编号G01N23/04GK201535730SQ20092020348公开日2010年7月28日 申请日期2009年9月18日 优先权日2009年9月18日专利技术者张仁波, 张智义, 李亚东, 李文权, 金文旭, 陈春梅, 高振宇 申请人:鞍钢股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种制作薄膜试样的磨样夹，其特征在于：包括内空的紧固外套（１）和可在紧固外套（１）的内空处移动和固定的顶砧（２），顶砧（２）表面开有凹槽（６），凹槽（６）内固定有磁铁（４）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张智义，高振宇，金文旭，李亚东，陈春梅，李文权，张仁波，
申请(专利权)人：鞍钢股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：21[中国|辽宁]