【技术实现步骤摘要】
本专利申请属于电路设计，尤其涉及pdk中cdf参数的处理方法、pdk中cdf参数的差异确定方法、pdk版本迭代方法及电子设备。
技术介绍
1、器件描述格式(component description format，cdf)是一组工艺设计组件(process design kit，pdk)中器件属性的描述性文件，它定义了器件的类型、名称、参数，以及参数计算函数集callback、器件模型、器件的各种视图格式，是pdk不可或缺的基础部分，它能将芯片生产厂商的生产规则(或者简称为需要被制造的器件的属性)简明地传达给芯片设计者。图1所示，为芯片产业链中各角色之间的关系示意图。在半导体产业中，ic设计是eda软件重要的应用场景，芯片代工厂提供符合生产规则的工艺设计包(process designkit，pdk)，配合eda设计软件，由ic设计者设计出符合指标的电路，最后交给芯片代工厂生产，三者之间号称“铁三角”，循环迭代促进产业持续发展。pdk作为这个循环应用中的一部分，桥接ic设计与集成电路生产制造。
2、但是，在实际应用中，不同的pdk中可能存在cdf参数相似的器件，为此，如何据此加速pdk开发，提高开发的准确性和效率成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、本专利申请提供pdk中cdf参数的处理方法、pdk中cdf参数的差异确定方法、pdk版本迭代方法及电子设备，以克服或者缓解现有技术的缺陷。
2、本申请实施例提供的方案如下：
3、一种pdk中cd
4、对基准pdk库以及待对比pdk库进行实例化，得到基准原理图库以及待对比原理图库；
5、从所述基准原理图库的pdk库中提取待对比器件的cdf参数作为第一cdf参数，以及从所述待对比原理图库的pdk库中提取所述待对比器件的cdf参数作为第二cdf参数；
6、对比所述第一cdf参数和所述第二cdf参数，以确定所述待对比器件在所述基准pdk库以及所述待对比pdk库中的差异；
7、基于所述差异，进行所述待对比pdk库中所述待对比器件的cdf参数设计。
8、一种pdk中cdf参数的差异确定方法，其包括：
9、对基准pdk库以及待对比pdk库进行实例化，得到基准原理图库以及待对比原理图库；
10、从所述基准原理图库的pdk库中提取待对比器件的cdf参数作为第一cdf参数，以及从所述待对比原理图库的pdk库中提取所述待对比器件的cdf参数作为第二cdf参数；
11、对比所述第一cdf参数和所述第二cdf参数，以确定所述待对比器件在所述基准pdk库以及所述待对比pdk库中的差异。
12、一种pdk版本迭代方法，其包括：
13、对上一版本pdk库以及待开发版本pdk库进行实例化，得到上一版本原理图库以及待开发版本原理图库；
14、从所述上一版本原理图库的pdk库中提取待开发版本器件的cdf参数作为第一cdf参数，以及从所述待开发版本原理图库的pdk库中提取所述待开发版本器件的cdf参数作为第二cdf参数；
15、对比所述第一cdf参数和所述第二cdf参数，以确定所述待开发版本器件在所述上一版本pdk库以及所述待开发版本pdk库中的差异；
16、基于所述差异，使用所述上一版本pdk库对所述待开发版本pdk库进行迭代。
17、一种电子设备，其包括存储器以及处理器，所述存储器上存储有计算机可执行程序，
18、所述处理器用于执行所述计算机可执行程序，以执行本申请任一项所述的方法。
19、本专利技术中提供的方案中，通过对基准pdk库以及待对比pdk库进行实例化，得到基准原理图库以及待对比原理图库；从所述基准原理图库的pdk库中提取待对比器件的cdf参数作为第一cdf参数，以及从所述待对比原理图库的pdk库中提取所述待对比器件的cdf参数作为第二cdf参数；对比所述第一cdf参数和所述第二cdf参数，以确定所述待对比器件在所述基准pdk库以及所述待对比pdk库中的差异；基于所述差异，进行所述待对比pdk库中所述待对比器件的cdf参数设计，从而加速了pdk开发，提高了开发的准确性，有效解决了pdk的开发效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种PDK中CDF参数的处理方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对比所述第一CDF参数和所述第二CDF参数，以确定所述待对比器件在所述基准PDK库以及所述待对比PDK库中的差异，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述的方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述基准原理图库的PDK库中提取待对比器件的CDF参数作为第一CDF参数，以及从所述待对比原理图库的PDK库中提取所述待对比器件的CDF参数作为第二CDF参数，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对比所述第一CDF参数和所述第二CDF参数，以确定所述待对比器件在所述基准PDK库以及所述待对比PDK库中的差异，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法，还包括：
8.一种PDK中CDF参数的差异确定方法，其特征在于，包括：
9.一种PDK版本迭代方法，其特征
10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器以及处理器，所述存储器上存储有计算机可执行程序，所述处理器用于执行所述计算机可执行程序，以执行权利要求1-9任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种pdk中cdf参数的处理方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的方法，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对比所述第一cdf参数和所述第二cdf参数，以确定所述待对比器件在所述基准pdk库以及所述待对比pdk库中的差异，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述的方法，还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述基准原理图库的pdk库中提取待对比器件的cdf参数作为第一cdf参数，以及从所述待对比原理图库的pdk库中提取所述待对比器件的cdf参数作为...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈鑫涛，朱能勇，牛欢欢，李建林，束涛，陶涛，吴雨航，
申请(专利权)人：深圳华大九天科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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